METODO PARA ALMACENAR PROPIEDADES DE REGISTRO EN UNA ESTRUCTURA DE DATOS Y ESTRUCTURA DE DATOS RELACIONADA.
Método para almacenar propiedades de registro de un dispositivo hardware (ASIC1,
ASIC2, ASIC3, ASIC4) que tiene memoria heterogénea, en una estructura de datos, estando construido dicho dispositivo hardware (ASIC1, ASIC2, ASIC3, ASIC4) según una estructura de módulos y submódulos dependientes; en el que dichas propiedades de registro corresponden a propiedades de registro de dichos módulos y dichos submódulos; caracterizado porque dicho método comprende la etapa de almacenar dichas propiedades de registro en una estructura de datos según dicha estructura de dicho dispositivo hardware (ASIC1, ASIC2, ASIC3, ASIC4), estando dispuestas dichas propiedades de registro en una formación para cada módulo o submódulo dependiente.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ALCATEL.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 54, RUE LA BOETIE,75008 PARIS.
Inventor/es: GOETHALS, DIRK GEORGE CYRIEL.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 15 de Febrero de 2006.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/3185 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Reconfiguración para los ensayos, p. ej. LSSD, divisiones.
- G01R31/3193 G01R 31/00 […] › con una comparación entre la respuesta real y la respuesta conocida en ausencia de error.
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