PROCEDIMIENTO DE PRUEBA DE RADIOFRECUENCIA SIN HILOS DE CIRCUITOS INTEGRADOS Y OBLEAS.

Aparato para probar un circuito integrado sobre una oblea que comprende:

a) un circuito de prueba formado sobre la oblea con el circuito integrado, comprendiendo el circuito de prueba: i) un circuito oscilador en anillo variable que tiene un circuito oscilador en anillo base y una pluralidad de subcircuitos acoplados al circuito oscilador en anillo base; y, ii) un circuito de control para acoplar de manera selectiva los subcircuitos al circuito de oscilador en anillo base para cambiar la frecuencia de oscilación de dicho circuito oscilador en anillo variable en base a un subcircuito seleccionado; y, b) una unidad de prueba independiente de la oblea, estando la unidad de prueba unida sin hilos al circuito de prueba para transmitir una señal para activar el circuito de prueba, en el que el circuito de prueba, cuando es activado por la unidad de prueba, dirige una prueba independiente del circuito integrado para al menos uno de los mencionados subcircuitos seleccionados por el circuito de control, estando el resultado de la mencionada prueba representado mediante dicho cambio en la frecuencia de dicho circuito oscilador en anillo variable.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: THE GOVERNORS OF THE UNIVERSITY OF ALBERTA.

Nacionalidad solicitante: Canadá.

Dirección: INDUSTRY LIAISON OFFICE, 222 CAMPUS TOWERS, 8625 -112 STREET,EDMONTON, ALBERTA T6G 2E1.

Inventor/es: MOORE, BRIAN.

Fecha de Publicación: 16 de Marzo de 2006.

Fecha Solicitud PCT: 15 de Mayo de 2001.

Fecha Concesión Europea: 31 de Agosto de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01R31/303 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › de circuitos integrados (G01R 31/305 - G01R 31/315 tienen prioridad).
G01R31/3185 G01R 31/00 […] › Reconfiguración para los ensayos, p. ej. LSSD, divisiones.
H01L21/66 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 21/00 Procedimientos o aparatos especialmente adaptados para la fabricación o el tratamiento de dispositivos semiconductores o de dispositivos de estado sólido, o bien de sus partes constitutivas. › Ensayos o medidas durante la fabricación o tratamiento.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Chipre, Oficina Europea de Patentes.

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