APARATO DE MICROSCOPIO CONFOCAL Y METODO CORRESPONDIENTE.
Un aparato de microscopía confocal que comprende medios (4) para dirigir luz a una muestra (O);
una máscara (6) para codificar luz incidente sobre la muestra y para decodificar luz proveniente de la muestra; y uno o más detectores de imagen (7, 11) para detectar unas imágenes primera y segunda de la muestra, consistiendo la primera imagen en una imagen confocal superpuesta sobre una imagen no confocal y consistiendo la segunda imagen en una imagen no confocal de la cual se ha retirado una imagen confocal, caracterizado porque la máscara (6), que tiene superficies opuestas primera (6a) y segunda (6b), tiene una estructuración transparente/opaca sobre su primera superficie (6a) con la finalidad de codificar, mediante modulación espacial de su intensidad, luz incidente sobre esta superficie y transmitida a través de la máscara, y una estructuración reflexiva sobre la segunda superficie (6b) que es sustancialmente idéntica a la estructuración opaca sobre la primera superficie con la finalidad de codificar luz incidente sobre la segunda superficie y reflejada desde la misma al contrario que la codificación proporcionada por la estructuración transparente/opaca, con lo que una de las superficies primera (6a) y segunda (6b) de la máscara genera la primera imagen de la muestra y la otra de las superficies primera (6a) y segunda (6b) de la máscara genera la segunda imagen de la muestra.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ISIS INNOVATION LIMITED.
Nacionalidad solicitante: Reino Unido.
Dirección: EWERT HOUSE, EWERT PLACE,SUMMERTOWN, OXFORD OX2 7BZ.
Inventor/es: WILSON, TONY, NEIL, MARK ANDREW AQUILLA, JUSKAITIS, RIMVYDAS.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 17 de Enero de 2000.
Fecha Concesión Europea: 4 de Septiembre de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G02B21/00 FISICA. › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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