Aparato y método de formación de imagen por microscopía.
Un método de generación de una imagen de una muestra (0) que consta de los pasos de iluminar la muestra (0) con una fuente de luz (10);
generar un modelo espacial sustancialmente periódico sobre la muestra (0); grabar una primera imagen de la muestra (0); alterar la fase espacial del modelo sobre la muestra (0) y grabar una segunda imagen de la muestra (0); repetir al menos una vez más los pasos de alterar la fase espacial del modelo en la muestra (0) y grabar una tercera imagen de la muestra (0), siendo diferente la fase espacial del modelo en al menos tres imágenes grabadas de la muestra (0); y analizar las tres o más imágenes grabadas de la muestra (0) para eliminar el modelo espacial de las imágenes para generar con ello una imagen ópticamente seccionada de la muestra (0), caracterizado porque se obtiene una imagen ópticamente seccionada agrupando las imágenes grabadas en parejas de imágenes, calculando la raíz cuadrada de la suma de los cuadrados de las diferencias entre las imágenes grabadas en cada pareja de imágenes, y, si se graban tres imágenes, el modelo espacial se elimina según la fórmula: I= q (I1-I2) 2 + (I1-I3) 2 + (I2-I3) 2 en la que las tres imágenes grabadas son I1, I2 e I3, y la imagen ópticamente seccionada es I.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ISIS INNOVATION LIMITED.
Nacionalidad solicitante: Reino Unido.
Dirección: 2 SOUTH PARKS ROAD,OXFORD OX1 3UB.
Inventor/es: WILSON, TONY, NEIL, MARK ANDREW AQUILLA, JUSKAITIS, RIMVYDAS.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 3 de Abril de 1998.
Fecha Concesión Europea: 14 de Noviembre de 2001.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
- G02B21/00 G […] › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
- G06T5/50 G […] › G06 CALCULO; CONTEO. › G06T TRATAMIENTO O GENERACIÓN DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL. › G06T 5/00 Perfeccionamiento o restauración de imagen. › utilizando varias imágenes, p. ej. promedio, resta.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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