PERFECCIONAMIENTOS EN LOS INSTRUMENTOS PARA EL ENSAYO DE MATERIALES.

Perfeccionamientos en los instrumentos para el ensayo de materiales,

y más particularmente en los instrumentos que emplean radiación deionización para ensayar un material por lo que se refiere a la presencia y a la magnitud de determinada característica, capaz de modificar de modo detectable a la radiación de ionización que se utiliza, caracterizados porque el instrumento comprende una fuente de radiación que emite una radiación de ionización de un tipo elegido como capaz de ser modificado de modo detectable por determinada característica del material que se ensaya, estando soportada dicha fuente de radiación en una relación geométrica predeterminada respecto a una muestra de ensayo de un material que se somete a ensayo y a una muestra normalizada de un material del que se sabe que posee la determinada característica, para irradiar de modo simultáneo las muestras con la radiación de ionización emitida por dicha fuente de radiación, medios de detección para percibir las modificaciones de la radiación de ionización emitida por dicha fuente de radiación introducidas por dicha determinada característica de las muestras, y que incluyen unos detectores , primero y segundo, soportados respectivamente en una relación geométrica determinada con respecto a la muestra de ensayo y a la muestra normalizada para percibir de modo simultáneo e independiente la radiación según esté respectivamente modificada por aquellas, y medios de indicación conectados operativamente a dichos medios de detección y que actúan en respuesta a la percepción por éstos de la radiación tal como es modificada por las muestras para indicar la presencia y magnitud de dicha determinada característica del material de muestra que se ensaya, incluyendo medios de división para expresar la respuesta de dicho primer detector en una relación predeterminada con la respuesta de dicho segundo detector, de modo que el instrumento es calibrado por una correlación de la relación de las respuestas de los detectores a la magnitud de la determinada característica que debe determinarse.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: TROXLER ELECTRONIC LABORATORIES, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Fecha de Solicitud: 14 de Abril de 1972.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 3 de Febrero de 1975.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N23/08

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