CIP-2021 : G01R 31/308 : utilizando radiaciones electromagnéticas no ionizantes, p. ej. radiaciones ópticas.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).
G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
G01R 31/308 · · · utilizando radiaciones electromagnéticas no ionizantes, p. ej. radiaciones ópticas.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Aparato y método de prueba de células solares.
(08/07/2020) Un aparato de prueba de células solares que comprende:
un iluminador para dirigir la energía luminosa sobre una célula solar bajo prueba; y
un dispositivo para colocar selectivamente diferentes filtros de una multiplicidad de filtros en una trayectoria óptica entre el iluminador y la célula solar bajo prueba para al menos uno de medir el rendimiento y detectar cualquier defecto en la célula solar, comprendiendo la multiplicidad de filtros que comprende un primer conjunto de filtros (216a), estando cada filtro del primer conjunto de filtros adaptado para pasar un porcentaje predeterminado de intensidad de la energía luminosa del iluminador a la célula solar bajo prueba,…
Método y aparato de colocación de pieza de trabajo.
(04/03/2020). Solicitante/s: MBDA UK LIMITED. Inventor/es: CHUGG,ANDREW MICHAEL, WARD,JONATHAN JAMES, MCINTOSH,JAMES ROBERT.
Un método para colocar relativamente un circuito integrado y el eje de propagación de un láser u otro haz de energía dirigida durante el mapeo de sensibilidad de SEE de una memoria de microchip, comprendiendo el método efectuar desplazamientos relativos del circuito integrado y el eje de propagación a lo largo de ejes ortogonales de manera que la intersección del eje de propagación con el circuito integrado se mueva a una velocidad sustancialmente constante a lo largo de una trayectoria en espiral, por lo que el eje de propagación es el eje de propagación de un láser pulsado u otro haz de energía dirigida;
el cambio en el radio por revolución entre vueltas sucesivas de la trayectoria en espiral es constante; y
el método se realiza con respecto al circuito integrado durante al menos dos recorridos de la trayectoria en espiral.
PDF original: ES-2778753_T3.pdf
Procedimiento y dispositivo para encontrar puntos defectuosos en elementos constructivos semiconductores.
(09/05/2019) Procedimiento para encontrar puntos defectuosos en un elemento constructivo semiconductor con una unión pn, en particular en un elemento constructivo semiconductor de extensión plana, de manera especialmente preferible en una célula solar, que comprende las etapas,
aplicar una tensión al elemento constructivo semiconductor por medio de una fuente de tensión ;
registrar radiación electromagnética, que se envía por el elemento constructivo semiconductor , por medio de al menos un detector fotosensible ; evaluar la radiación electromagnética registrada;
caracterizado por que la tensión se aplica al elemento constructivo semiconductor inicialmente de modo que la unión pn se hace funcionar…
Procedimiento de determinación de la sensibilidad de los componentes electrónicos frente a partículas.
(05/11/2013) Un procedimiento de caracterización de la sensibilidad a las interacciones energéticas de un componente electrónicoen el que:
- se pone el componente electrónico en servicio,
- se excita el componente electrónico así puesto en servicio por excitaciones producidas por una radiación láser,
- se mide un defecto de funcionamiento del componente electrónico puesto en servicio correspondiente a estasexcitaciones,
- se establece una cartografía de zonas de sensibilidad del componente en que estas excitaciones tienen unefecto,
- se aplica a la cartografía de zonas de sensibilidad un programa de agresión por una partícula que provocainteracciones…
INSPECCION TERMOGRAFICA DE CABLES.
(01/05/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: BAE SYSTEMS PLC. Inventor/es: TULLOCH, JOHN S. DEPT. S415, JENNINGS, MARK CHRISTOPHER DEPT. W427B.
Un método para inspeccionar la integridad del aislamiento de un hilo o cable, que incluye las etapas de: hacer pasar una corriente a través de dicho hilo o cable; aplicar a dicho hilo o cable un fluido que tiene propiedades electrolíticas y de un tipo que no causa degradación sustancial del aislamiento polímero elastómero alrededor de dichos hilos o cables, y usar un sistema de formación de imágenes térmicas para detectar y presentar la intensidad del calor que emana de dicho hilo o cable.
PROCEDIMIENTO PARA EL CONTROL DE UNA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO EQUIPADA, EN ESPECIAL, EL CONTROL DE LAS SOLDADURAS DE LA TARJETA Y APARATO PARA LA APLICACION DE DICHO PROCEDIMIENTO.
(16/10/1994). Solicitante/s: BULL S.A.. Inventor/es: QUINTARD, ALAIN.
EL INVENTO SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO PARA EL CONTROL DE UNA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO EQUIPADA, EN ESPECIAL DE LAS SOLDADURAS DE LA TARJETA, Y UTILIZABLE DE FORMA VENTAJOSA EN TARJETAS EQUIPADAS CON COMPONENTES DE MONTAJE EN LA SUPERFICIE (CMS). SEGUN EL INVENTO, EL PROCEDIMIENTO DE CONTROL CONSTA DE AL MENOS LAS SIGUIENTES FASES: - CALENTAMIENTO DE CORTA DURACION DE LA TARJETA (O DE UNA PARTE EXTENSA DE LA MISMA); - TOMA DE UNA IMAGEN TERMOGRAFICA DE LA TARJETA (O DE DICHA PARTE EXTENSA) TRAS PARAR EL CALENTAMIENTO, PREFERENTEMENTE DESDE EL MOMENTO EN QUE ESTE SE PARA; TRATAMIENTO DE LA IMAGEN POR DETECCION DE LA SEPARACION TERMICA EN RELACION A UN UMBRAL PREDEFININDO PARA LAS ZONAS DE LA TARJETA A CONTROLAR, POR EJEMPLO LAS AREAS DE RECEPCION DE SOLDADURA. EL INVENTO SE REFIERE IGUALMENTE A UN APARATO PARA LA APLICACION DEL PROCEDIMIENTO DE CONTROL.
