CIP-2021 : H01J 37/05 : Dispositivos electronópticos o ionópticos para la separación de electrones o de iones en función de su energía (tubos separadores de partículas H01J 49/00).

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H ELECTRICIDAD.

H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.

H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H).

H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad).

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CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Dispositivo para modular la intensidad de un haz de partículas cargadas, método para desviar un haz de partículas cargadas desde el eje de emisión con dicho dispositivo y sistema que incluye este dispositivo.

(22/01/2020) Un dispositivo para modular la intensidad de un haz de partículas cargadas emitido a lo largo de un eje (A0), que comprende: - 4×N sistemas de desviación consecutivos , con N = 1 o 2, con los sistemas de desviación que se posicionan a lo largo del eje (A0) de dicho haz de partículas, y que es capaz de desviar el haz con relación al eje (A0) en la misma dirección, con direcciones de desviación alternas, para dos sistemas consecutivos , - medios para aplicar una fuerza para desviar el haz para cada sistema de desviación y para variar la fuerza aplicada caracterizado por - dos colimadores cada uno que tiene una hendidura con una abertura que aumenta en ancho desde el centro hacia la periferia, localizada respectivamente…

Disposición analizadora para espectrómetro de partículas.

(29/10/2018) Un metodo para determinar al menos un parametro relacionado con particulas cargadas emitidas desde una muestra emisora de particulas , que comprende las etapas de: formar un haz de particulas de dichas particulas cargadas y transportar las particulas entre dicha muestra emisora de particulas y una entrada de una region de medicion por medio de un sistema de lentes que tiene un eje optico sustancialmente recto , desviar el haz de particulas en al menos una primera direccion de coordenadas (x, y) perpendicular al eje optico del sistema de lentes antes de la entrada del haz de particulas en la region…

Disposición de análisis para espectrómetro de partículas.

(19/10/2016) Un método para determinar al menos un parámetro relacionado con partículas cargadas emitidas desde una muestra emisora de partículas , que comprende las etapas de: formar un haz de partículas de dichas partículas cargadas y transportar las partículas entre dicha muestra emisora de partículas y una entrada de una región de medición por medio de un sistema de lentes que tiene un eje óptico sustancialmente recto ; desviar el haz de partículas en al menos una primera dirección de coordenadas (x, y) perpendicular al eje óptico del sistema de lentes antes de la entrada del haz de partículas en la región de medición, detectar las posiciones de dichas partículas cargadas en dicha región de medición, siendo las posiciones…

Filtro de energía por imágenes para partículas cargadas eléctricamente y espectroscopio que incluye el mismo.

(16/04/2014) Filtro de energía por imágenes para partículas eléctricamente cargadas, con un analizador de energía toroidal , preferentemente con un analizador hemisférico, con un plano de entrada y un plano de salida, caracterizado por un elemento de reflexión para partículas cargadas eléctricamente dispuesto de tal manera que las partículas cargadas que abandonan el analizador de energía toroidal a través del plano de salida son reflejadas mediante el elemento de reflexión de regreso al analizador de energía toroidal , de manera que las partículas cargadas atraviesen en sentido de marcha inverso una vez más el analizador de energía toroidal .

MONOCROMADOR TIPO WIEN CON CORRECCION DE ABERRACIONES.

(01/11/2007) Monocromador tipo Wien con corrección de aberraciones.#Consta de un filtro formado por doce polos que se extienden paralelos al eje óptico, cada polo está construido con un material conductor magnético al que se le aplica un potencial y se imana con una corriente calculados para conseguir una configuración de campos tales que las componentes dipolar eléctrica y magnética cumplen la condición de Wien. En cada polo se excitan, además, los potenciales y corrientes adecuados para crear campos cuadripolares eléctricos y magnéticos que, combinados con los anteriores, permiten un gran control de la fuerza total que actúa sobre las cargas y corregir así las aberraciones inherentes al sistema. Modificando el radio de los polos diagonales…

MONOCROMADOR TIPO WIEN CON CORRECION DE ABERRACIONES.

(01/11/2005) Monocromador tipo Wien con corrección de aberraciones. La invención mejora los dos parámetros más característicos de los filtros de Wien: resolución en energía y dispersión espacial. Consta de dos filtros idénticos, cada uno formado por doce polos que se extienden paralelos al eje óptico. Cada polo está construido con un material conductor magnético. Se le aplica un potencial y se imana con una corriente calculados para conseguir una configuración de campos tales que las componentes dipolar eléctrica y magnética cumplen la condición de Wien. En cada polo se excitan, además, los potenciales y corrientes adecuados para crear campos cuadripolares eléctricos y magnéticos que, combinados con los anteriores, permiten un gran control de la fuerza total que…

FILTRO DE ENERGIA, MICROSCOPIO DE TRANSMISION Y PROCEDIMIENTO DE FILTRADO DE ENERGIA ASOCIADO.

(16/08/2001). Ver ilustración. Solicitante/s: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS). Inventor/es: JOUFFREY, BERNARD, SOUCHE, CECILE.

LA INVENCION SE REFIERE A UN FILTRO DE ENERGIA QUE RECIBE UN HAZ ELECTRONICO ORIENTADO SEGUN UN EJE OPTICO . EL FILTRO COMPRENDE UN SISTEMA DEFLECTOR QUE DESVIA EN UN PLANO DE DISPERSION QUE NO INCLUYE EL EJE OPTICO , EL HAZ RECIBIDO Y UN SISTEMA DISPERSIVO QUE GUIA EL HAZ ENVIADO POR EL SISTEMA DEFLECTOR EN UNA TRAYECTORIA OPTICA INSCRITA EN EL PLANO DE DISPERSION Y QUE VUELVE AL SISTEMA DEFLECTOR. EL SISTEMA DEFLECTOR DEVUELVE EN ALINEAMIENTO CON EL EJE OPTICO EL HAZ PROCEDENTE DEL SISTEMA DISPERSIVO. EL SISTEMA DEFLECTOR ESTA FORMADO POR UN SOLO ELEMENTO DEFLECTOR QUE GARANTIZA A LA IDA Y A LA VUELTA DESVIACIONES INVERSAS DEL HAZ. APLICACION EN LA MICROSCOPIA ELECTRONICA CON TRANSMISION.

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