CIP-2021 : G11C 29/12 : Disposiciones integradas ("built in") para el ensayo, p. ej. autoensayo integrado [BIST].
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G FISICA.
G11 REGISTRO DE LA INFORMACION.
G11C MEMORIAS ESTATICAS (dispositivos semiconductores para memorias H01L, p. ej. H01L 27/108 - H01L 27/11597).
G11C 29/00 Verificación del funcionamiento correcto de memorias; Ensayo de memorias durante su funcionamiento fuera de línea (offline")o en espera ("standby").
G11C 29/12 · · · Disposiciones integradas ("built in") para el ensayo, p. ej. autoensayo integrado [BIST].
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Módulo de control para gestión de múltiples recursos de señales mixtas.
(18/12/2018) Un módulo, designado por la presente como Configuración, Captura, Proceso y Exploración, definido posteriormente como módulo de SCPS, que comprende:
- un submódulo de intérprete; y
- un módulo de banco de registros que comprende:
- un registro de instrucción para almacenar la última instrucción válida;
- un registro de estado para almacenar el estado de acción actual de la instrucción;
- un registro de estado para almacenar el estado interno de dicho módulo de SCPS;
- un registro de dirección de grupo para almacenar la dirección de grupo de dicho módulo de SCPS;
- un registro de dirección de miembro para almacenar la dirección específica en el grupo de dicho módulo de SCPS;
- un…
Dispositivo de memoria con modo de prueba segura.
(01/10/2018). Solicitante/s: Winbond Electronics Corp. Inventor/es: KALUZHNY,URI, TASHER,NIR, WEISER,TSACHI, TEPER,VALERY.
Un método que comprende:
en un dispositivo de memoria que comprende una memoria y un controlador de memoria que opera en un modo de prueba, el controlador de memoria recibe un vector de datos de prueba para ser escrito en la memoria ; escribir el vector de datos de prueba en la memoria solo si el vector de datos de prueba pertenece a un conjunto predefinido de vectores de datos de prueba almacenados en el controlador de memoria; y
si el vector de datos de prueba no pertenece al conjunto predefinido de vectores de datos de prueba, convirtiendo por el controlador de memoria el vector de datos de prueba recibido a uno de los vectores de datos de prueba del conjunto predefinido de vectores de datos de prueba, y escribiendo por el controlador de memoria el vector de datos de prueba convertido a la memoria.
PDF original: ES-2683998_T3.pdf