CIP-2021 : G11C 29/44 : Indicación o identificación de errores, p. ej. para la reparación.

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G FISICA.

G11 REGISTRO DE LA INFORMACION.

G11C MEMORIAS ESTATICAS (dispositivos semiconductores para memorias H01L, p. ej. H01L 27/108 - H01L 27/11597).

G11C 29/00 Verificación del funcionamiento correcto de memorias; Ensayo de memorias durante su funcionamiento fuera de línea (offline")o en espera ("standby").

G11C 29/44 · · · · Indicación o identificación de errores, p. ej. para la reparación.

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Métodos y sistemas para detectar y corregir errores en una memoria no volátil.

(30/01/2019) Un sistema de memoria, que comprende: una matriz de memoria no volátil resistiva configurada para almacenar datos, bits de anticipación y bits de código de corrección de errores (ECC) correspondientes a los datos almacenados y a los bits de anticipación almacenados, en la que los bits de anticipación indican la calidad de los bits de datos almacenados en la matriz de memoria no volátil, y un número total de bits de anticipación es menor que un número total de los bits de datos, caracterizado por que un controlador de memoria está configurado para: realizar una operación de lectura en los bits de anticipación y en los bits de ECC para detectar errores de bit de…

Dispositivo de memoria con modo de prueba segura.

(01/10/2018). Solicitante/s: Winbond Electronics Corp. Inventor/es: KALUZHNY,URI, TASHER,NIR, WEISER,TSACHI, TEPER,VALERY.

Un método que comprende: en un dispositivo de memoria que comprende una memoria y un controlador de memoria que opera en un modo de prueba, el controlador de memoria recibe un vector de datos de prueba para ser escrito en la memoria ; escribir el vector de datos de prueba en la memoria solo si el vector de datos de prueba pertenece a un conjunto predefinido de vectores de datos de prueba almacenados en el controlador de memoria; y si el vector de datos de prueba no pertenece al conjunto predefinido de vectores de datos de prueba, convirtiendo por el controlador de memoria el vector de datos de prueba recibido a uno de los vectores de datos de prueba del conjunto predefinido de vectores de datos de prueba, y escribiendo por el controlador de memoria el vector de datos de prueba convertido a la memoria.

PDF original: ES-2683998_T3.pdf

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