Sistema y método para la medición tridimensional de la forma de objetos materiales.

Un sistema para la medición 3D de la forma de un objeto material (111),

que comprende:

un proyector de luz (106) para proyectar un patrón de luz estructurado sobre una superficie (110) de dicho objeto (111), en donde dicho proyector de luz comprende una fuente de luz (126), una diapositiva (122) con un patrón de diapositivas ubicado en una superficie de diapositivas, y una lente de proyector (181) con un vértice de la lente de proyector (124);

un dispositivo (108) para capturar una imagen de dicho patrón de luz estructurado reflejado en dicho objeto, en donde dicho dispositivo para capturar una imagen comprende una lente de dispositivo (180) con un vértice de la lente de dispositivo (130); y

un dispositivo informático (104) para determinar una medida relacionada con la forma de dicho objeto mediante el uso de un algoritmo de triangulación basado en una correspondencia entre puntos en dicho patrón de diapositivas y dicha imagen;

en donde dicho patrón de diapositivas comprende una pluralidad de elementos codificados (164, 165), en donde los elementos codificados incluyen dos elementos codificados (164, 165) representados por regiones de diferente grosor de modo que su secuencia forme una línea continua con grosores variables de longitudes variables,

en donde cada uno de dichos elementos codificados se asigna a uno de al menos un primer grupo o un segundo grupo, cada uno de los cuales al menos dicho primer grupo y dicho segundo grupo comprenden al menos dos de dichos elementos codificados,

en donde al menos un primer meridiano (187) y un segundo meridiano (187) están definidos en dicha superficie de diapositivas, donde dicho primer meridiano está definido por una intersección entre dicha superficie de diapositivas y un primer plano (125) que pasa a través de dicho vértice de la lente del proyector (124) y a través de dicho vértice de la lente del dispositivo (130), y dicho segundo meridiano está definido por una intersección entre dicha superficie de diapositivas y un segundo plano (155) que pasa a través de dicho vértice de la lente del proyector y a través de dicho vértice de la lente del dispositivo, y

en donde dichos elementos codificados de dicho primer grupo están ubicados a lo largo de dicho primer meridiano y dichos elementos codificados de dicho segundo grupo están ubicados a lo largo de dicho segundo meridiano.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2008/074354.

Solicitante: Artec Europe S.a.r.l.

Nacionalidad solicitante: Luxemburgo.

Dirección: 20 Rue des Peupliers 2328 Luxembourg LUXEMBURGO.

Inventor/es: LAPA,NIKOLAY L, BRAILOV,YURY A.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/25 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › mediante la proyección de un patrón, p. ej.franjas de Moiré, sobre el objeto (G01B 11/255 tiene prioridad).

PDF original: ES-2801395_T3.pdf

 

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