Método para la detección de fisuras en las paredes de artículos de vidrio huecos.
Método para la detección de fisuras y defectos estructurales comparables,
reflectores de radiación, en las paredes de artículos de vidrio hueco (1), recibiéndose una radiación emitida por elementos de radiación, estática, reflejada en el artículo de vidrio hueco (1), conteniendo reflexiones perturbadoras y reflexiones dinámicas, indicadoras de defectos, mediante varios elementos de recepción de radiación dispuestos con una separación entre sí, fijos localmente en relación con el artículo de vidrio hueco (1) rotativo alrededor de su eje longitudinal (2), representándose como una serie de imágenes (4) original, consistente en varias imágenes (3) grabadas en función de diferentes ángulos de grabación, y suministrándose a una evaluación, caracterizado por que a partir de la serie de imágenes (4) original se produce una serie de imágenes (10) binarizada, conteniendo reflexiones estáticas y dinámicas, que la serie de imágenes (10) se procesa para el fin de la generación de una imagen de histograma (6) bidimensional, que representa los valores de frecuencia de las proporciones estáticas y dinámicas de todas las imágenes de la serie de imágenes (4) original sumados, que la imagen de histograma (6) continúa procesándose para el fin de la generación de una plantilla de ocultación (12) que contiene solo reflexiones estáticas, que partiendo de la serie de imágenes (4) original se genera una serie de imágenes (14) comprimida, conteniendo tanto reflexiones estáticas, como también dinámicas, que la serie de imágenes (14) con la plantilla de ocultación (12) se enmascara para el fin de la ocultación de las zonas de reflexiones estáticas y la producción de una serie de imágenes (16) enmascarada del artículo de vidrio hueco (1), y que las imágenes de la serie de imágenes (16) se usan para la detección de los defectos mencionados.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2014/002827.
Solicitante: HEYE INTERNATIONAL GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: AM ZIEGELEIWEG 3 31683 OBERNKIRCHEN ALEMANIA.
Inventor/es: STÜWE,HARTWIN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/90 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › en un recipiente o en su contenido (G01N 21/91 tiene prioridad).
- G06T7/00 G […] › G06 CALCULO; CONTEO. › G06T TRATAMIENTO O GENERACIÓN DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL. › Análisis de imagen.
PDF original: ES-2784209_T3.pdf
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