Procedimiento, dispositivo y línea de inspección para visualizar la planitud de una superficie de anillo de recipiente.

Procedimiento de visualización de la planitud de una superficie de anillo real (16) de un recipiente (14),

teniendo la superficie de anillo una geometría teórica plana y anular o circular alrededor de un eje central teórico (A1), del tipo que consta de las etapas que consisten:

- en iluminar la superficie de anillo real (16) del recipiente con ayuda de un haz luminoso incidente periférico,

- en formar, por medio de un sistema óptico (24, 124), una imagen plana de la superficie de anillo del recipiente, sobre un sensor fotoeléctrico bidimensional (18), caracterizado por que:

- el haz luminoso periférica incidente comprende rayos luminosos radiales contenidos en un plano radial que contiene el eje central teórico (A1), estando dichos rayos radiales dirigidos hacia el eje central teórico (A1),

- el haz luminoso incidente periférico ilumina la superficie de anillo (16) desde arriba, y los rayos radiales del haz luminoso incidente se reflejan por reflexión especular sobre la superficie de anillo (16),

- el sistema óptico (24, 124) consta de una superficie primaria de reflexión (26, 126), la superficie primaria de reflexión (26, 126) estando una superficie de revolución centrada sobre el eje central teórico (A1) y dispuesta para reflejar directa o indirectamente rayos luminosos, procedentes de la superficie de anillo real desde el ángulo de elevación de observación, en dirección del sensor,

- el procedimiento consta de la etapa de observar la superficie de anillo real (16), por el sistema óptico (24, 124), bajo un ángulo de elevación de observación (γ) inferior a 25° con respecto a un plano perpendicular al eje central teórico (A1),

- por que la etapa que consiste en formar una imagen plana consta de una transformación geométrica óptica que convierte la superficie de anillo real (16) en una imagen de superficie de anillo (I16'), convirtiendo esta transformación teóricamente la superficie de anillo teórica en una imagen teórica de la superficie de anillo (I16),

- por que la transformación geométrica óptica convierte una diferencia en altura real (dZ), según la dirección del eje central teórico (A1), entre un punto considerado (T') de la superficie de anillo real (16) y un punto correspondiente (T) de la superficie de anillo teórica, en un desfase radial de imagen (dR), sobre la imagen, del punto de imagen (IT') de la imagen de superficie de anillo del recipiente con respecto al punto de imagen correspondiente (IT) de la imagen teórica de superficie de anillo,

- y por que, en la imagen plana, el desfase radial de imagen (dR) correspondiente a una diferencia de altura real (dZ) unitaria es superior al desfase radial de la imagen correspondiente a un desfase radial real de igual dimensión entre dicho punto considerado (T') de la superficie de anillo real y un punto correspondiente (T) de la superficie de anillo teórica.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FR2015/052762.

Solicitante: TIAMA.

Inventor/es: OLLIVIER,MICHEL, LECONTE,MARC.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N21/90 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › en un recipiente o en su contenido (G01N 21/91 tiene prioridad).

PDF original: ES-2794106_T3.pdf

 

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