Aparato para la inspección no destructiva de larguerillos.

Un aparato, caracterizado porque comprende:

una estructura de soporte (32);



un primer eje largo (60) acoplado de manera pivotante y deslizable a dicha estructura de soporte (32);

un primer acoplamiento flexible (62) unido a un extremo de dicho primer eje largo (60);

un primer soporte de transductor (64) unido a dicho primer acoplamiento flexible (62);

un primer conjunto de transductores sujetado por dicho primer soporte de transductor (64); y caracterizado porque:

un primer mecanismo de centrado (68) unido a dicho primer soporte de transductor (64), en donde dicho primer mecanismo de centrado (68) comprende:

primer y segundo ejes pequeños (90) soportados en extremos opuestos del mismo mediante dicho primer soporte de transductor (64);

primer y segundo mecanismos de pivote/deslizamiento (88) acoplados de manera deslizable a dichos primer y segundo ejes pequeños (90) respectivamente; y

primer y segundo conjunto de guías de centrado de cuatro enlaces (94a, 94b, 96a, 96b) acoplados de manera pivotante a dicho primer y segundo mecanismos de pivote/deslizamiento (88) respectivamente;

en donde cada uno de dichos primer y segundo conjuntos de guías de centrado de cuatro enlaces (94a, 94b, 96a, 96b) comprende la primera y la segunda guías de centrado superiores (94a, 94b) se acoplan de manera pivotante a dichos primer y segundo mecanismos de pivote/deslizamiento (88) respectivamente y la primera y segunda guías de centrado inferiores (96a, 96b) se acoplan de manera pivotante respectivamente a dichas primera y segunda guías de centrado superiores (94a, 94b) y se acoplan de manera pivotante entre sí.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14180808.

Solicitante: THE BOEING COMPANY.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 100 NORTH RIVERSIDE PLAZA CHICAGO, IL 60606-1596 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: SARR,DENNIS P, BUI,HIEN T.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N29/22 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 29/00 Investigación o análisis de materiales por el empleo de ondas ultrasonoras, sonoras o infrasonoras; Visualización del interior de objetos por transmisión de ondas ultrasonoras o sonoras a través del objeto (G01N 3/00 - G01N 27/00 tienen prioridad). › Detalles.
  • G01N29/24 G01N 29/00 […] › Sondas.
  • G01N29/265 G01N 29/00 […] › mediante el movimiento relativo del sensor respecto a un material estacionario.

PDF original: ES-2778039_T3.pdf

 

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