Analizador de fluorescencia de rayos X.
Un espectrómetro de fluorescencia de rayos X (10, 10A, 10B, 10C),
que comprende:
a) una fuente de rayos X (12) para irradiar una muestra (S) con rayos X primarios;
b) un detector (13) para detectar un rayo X fluorescente que es emitido desde la muestra, cuando se irradia la muestra con el rayo X primario;
c) una cámara de análisis (16) que tiene un puerto de introducción (17) para los rayos X primarios emitidos desde la fuente de rayos X y un puerto de detección (181) para el detector, limitando la cámara de análisis (16) un espacio cerrado que incluye una trayectoria óptica de los rayos X primarios desde el puerto de introducción (17) a la muestra (S) y una trayectoria óptica de los rayos X fluorescentes de la muestra (S) al puerto de detección (181);
d) primeros medios de introducción (201, 162) para introducir gas helio en la cámara de análisis (16) a través del puerto de introducción (17);
e) segundos medios de introducción (202, 164) para introducir gas helio en la cámara de análisis (16) a través del puerto de detección (181); y
f) medios de control de caudal (24, 24A, 24B) para controlar un caudal del gas helio que es introducido en la cámara de análisis (16) por cada uno de los primeros medios de introducción (201, 162) y de los segundos medios de introducción (202, 164).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2013/075569.
Solicitante: SHIMADZU CORPORATION.
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 1, Nishinokyo-Kuwabaracho Nakagyo-ku Kyoto-shi, Kyoto 604-8511 JAPON.
Inventor/es: FURUKAWA, HIROAKI, KOBAYASHI,KANJI.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/223 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X.
PDF original: ES-2795988_T3.pdf
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