Análisis de muestras en capas con XRF.
Un método para hacer mediciones por fluorescencia de rayos X, XRF, de una muestra en capas que comprende una primera superficie principal, una segunda superficie principal, y al menos dos capas entre la primera y segunda superficies principales, el método que comprende:
realizar una primera medición de rayos X a través de la primera superficie principal para obtener un primer valor de intensidad de rayos X (I1) de una primera línea XRF correspondiente a un primer elemento;
realizar una segunda medición de rayos X a través de la segunda superficie principal para obtener un segundo valor de intensidad de rayos X (I2) de la primera línea XRF correspondiente al primer elemento; caracterizado por calcular a partir del primer valor de intensidad de rayos X (I1) y del segundo valor de intensidad de rayos X (I2) al menos dos parámetros de análisis seleccionados de los siguientes parámetros de capa:
la concentración (C1) del primer elemento en la primera capa;
la concentración (C2) del primer elemento en la segunda capa;
la densidad (d1) de la primera capa;
la densidad (d2) de la segunda capa;
el espesor (t1) de la primera capa; y
el espesor (t2) de la segunda capa.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E16206358.
Solicitante: Malvern Panalytical B.V.
Nacionalidad solicitante: Países Bajos.
Dirección: Lelyweg 1 7602 EA Almelo PAISES BAJOS.
Inventor/es: JONKERS,ARMAND, WIEDEMAIR,JUSTYNA.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/223 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X.
PDF original: ES-2783198_T3.pdf
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