Sistema y método para monitorizar una microestructura de un objetivo de metal.
Un sistema para monitorizar una microestructura de un objetivo de metal,
que comprende:
una pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos para emitir un campo magnético, en el que una señal de excitación emitida por cada uno de los sensores electromagnéticos es una forma de onda multifrecuencia, que detecta un campo magnético resultante y que genera una señal de detección en respuesta al mismo;
un sistema (920) de control que comprende una pluralidad de unidades (921, 922, 923, ... 92n) de control cada una asociada con un sensor (911, 912, 913, ... 91n) electromagnético respectivo y dispuestas para recibir las señales de detección de la pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos), para determinar un cambio de fase entre el campo magnético de salida y el campo magnético resultante en cada una de una pluralidad de frecuencias que forman la forma de onda multifrecuencia para cada una de la pluralidad de sensores (911,912,913, ... 91n) electromagnéticos; caracterizado porque
el sistema de control está dispuesto para determinar una tasa de desarrollo de microestructura de un objetivo de metal en la pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos) copn base en los cambios de fase, y para determinar una desviación de la tasa de desarrollo de microestructura de una tasa de desarrollo de microestructura predeterminada.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E17164269.
Solicitante: THE UNIVERSITY OF MANCHESTER.
Nacionalidad solicitante: Reino Unido.
Dirección: OXFORD ROAD MANCHESTER M13 9PL REINO UNIDO.
Inventor/es: PEYTON,ANTHONY JOSEPH, YIN,WULIANG, DICKINSON,STEPHEN JOHN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- B21B37/76 TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES. › B21 TRABAJO MECANICO DE LOS METALES SIN ARRANQUE SUSTANCIAL DE MATERIAL; CORTE DEL METAL POR PUNZONADO. › B21B LAMINADO DE METALES (operaciones auxiliares en relación con el trabajo de los metales previstos en la clase B21, ver B21C; curvado por pasado entre rodillos B21D; fabricación de objetos particulares, p. ej. tornillos, ruedas, anillos, cilindros o bolas, por laminado B21H; soldadura por presión por medio de un laminado B23K 20/04). › B21B 37/00 Dispositivos de control o métodos especialmente adaptados al laminado o a los productos obtenidos por laminado (métodos o dispositivos de medida especialmente adaptados al laminado de metales B21B 38/00). › Control de la refrigeración en la mesa de salida.
- C21D11/00 QUIMICA; METALURGIA. › C21 METALURGIA DEL HIERRO. › C21D MODIFICACION DE LA ESTRUCTURA FISICA DE LOS METALES FERROSOS; DISPOSITIVOS GENERALES PARA EL TRATAMIENTO TERMICO DE METALES O ALEACIONES FERROSOS O NO FERROSOS; PROCESOS DE MALEABILIZACION, p.ej. POR DESCARBURACION O REVENIDO (cementación por procesos de difusión C23C; tratamiento de la superficie de materiales metálicos utilizando al menos un proceso cubierto por la clase C23 y al menos un proceso cubierto por la presente subclase, C23F 17/00; solidificación unidireccional de materiales eutécticos o separación unidireccional de materiales eutectoides C30B). › Control o regulación del proceso durante los tratamientos térmicos.
- C21D8/12 C21D […] › C21D 8/00 Modificación de las propiedades físicas por deformación en combinación con, o seguida por, un tratamiento térmico (endurecido de objetos o de materiales formados por forja o laminado sin otro calentamiento que el necesario para dar la forma C21D 1/02). › durante la fabricación de objetos con propiedades electromagnéticas particulares.
- G01N27/72 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 27/00 Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos (G01N 3/00 - G01N 25/00 tienen prioridad; medida o ensayo de variables eléctricas o magnéticas o de las propiedades eléctricas o magnéticas de los materiales G01R). › investigando variables magnéticas.
- G01N27/80 G01N 27/00 […] › para investigar la dureza mecánica, p. ej. investigando la saturación o la remanencia de un material ferromagnético.
- G01N33/20 G01N […] › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › Metales.
- G01R33/00 G01 […] › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › Dispositivos o aparatos para la medida de valores magnéticos.
- G01R33/028 G01R […] › G01R 33/00 Dispositivos o aparatos para la medida de valores magnéticos. › Magnetómetros electrodinámicos.
- G01R33/12 G01R 33/00 […] › Medida de propiedades magnéticas de artículos o muestras de sólidos o de fluidos (en los que interviene la resonancia magnética G01R 33/20).
- G01R35/00 G01R […] › Ensayo o calibrado de los aparatos cubiertos por los otros grupos de esta subclase.
PDF original: ES-2773519_T3.pdf
Reivindicaciones:
1. Un sistema para monitorizar una microestructura de un objetivo de metal, que comprende:
una pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos para emitir un campo magnético, en el que una señal de excitación emitida por cada uno de los sensores electromagnéticos es una forma de onda multifrecuencia, que detecta un campo magnético resultante y que genera una señal de detección en respuesta al mismo;
un sistema (920) de control que comprende una pluralidad de unidades (921, 922, 923, ... 92n) de control cada una asociada con un sensor (911, 912, 913, ... 91n) electromagnético respectivo y dispuestas para recibir las señales de detección de la pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos) , para determinar un cambio de fase entre el campo magnético de salida y el campo magnético resultante en cada una de una pluralidad de frecuencias que forman la forma de onda multifrecuencia para cada una de la pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos; caracterizado porque
el sistema de control está dispuesto para determinar una tasa de desarrollo de microestructura de un objetivo de metal en la pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos) copn base en los cambios de fase, y para determinar una desviación de la tasa de desarrollo de microestructura de una tasa de desarrollo de microestructura predeterminada.
2. El sistema de la reivindicación 1, en el que la pluralidad de sensores ( (911, 912, 913, ... 91n) ) electromagnéticos están dispuestos en una dirección de movimiento del objetivo de metal.
3. El sistema de cualquiera de las reivindicaciones 1 o 2, en el que el sistema (920) de control está dispuesto para determinar una evolución de la microestructura del objetivo de metal.
4. El sistema de cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, en el que el sistema (920) de control está dispuesto para emitir una señal indicativa de la desviación de la tasa de desarrollo de la microestructura del objetivo de metal, comprendiendo el sistema un procesador (940) para controlar un proceso de producción, en el que el procesador (940) está dispuesto para recibir la señal indicativa de la desviación y para controlar uno o más parámetros del proceso de producción en respuesta al mismo.
5. El sistema de la reivindicación 4, en el que el uno o más parámetros son parámetros de un proceso para enfriar el objetivo de metal.
6. El sistema de la reivindicación 4 o 5, en el que la pluralidad de sensores ( (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos están separados en un área de enfriamiento del proceso de producción.
7. Un método para monitorizar una microestructura de un objetivo de metal, que comprende:
emitir un campo magnético generado en respuesta a una forma de onda multifrecuencia en una pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos;
detectar un campo magnético resultante en la pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos; determinar una respuesta de fase del campo magnético resultante con respecto al campo magnético de salida en cada una de una pluralidad de frecuencias que forman la forma de onda multifrecuencia;
caracterizado por
determinar una tasa de desarrollo de microestructura de un objetivo de metal en cada una de la pluralidad de sensores (911, 912, 913, ... 91n) electromagnéticos con base en la respuesta de fase; y
determinar una desviación de la tasa de desarrollo de microestructura de una tasa de desarrollo de microestructura predeterminada.
8. El método de la reivindicación 7, en el que la microestructura se determina basándose adicionalmente en una magnitud del campo magnético resultante con respecto al campo magnético de salida.
9. El método de las reivindicaciones 7 u 8, que comprende determinar una tasa microestructural de cambio del objetivo de metal.
10. El método de cualquiera de las reivindicaciones 7 a 9, que comprende variar uno o más parámetros de un proceso de producción en respuesta a la microestructura determinada.
11. El método de la reivindicación 10, en el que el uno o más parámetros comprenden parámetros de enfriamiento del objetivo de metal.
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