APARATO PARA EXPLORAR UNA PROPIEDAD ÓPTICA DE UNA MUESTRA.
La invención se refiere a un aparato para explorar una muestra (4) que comprende una fuente de luz (1) para emitir un haz de luz de iluminación,
un elemento birrefringente (3) para dividir el haz de luz de iluminación en dos haces desplazados, un elemento reflectante (6) para reflejar los dos haces desplazados, en el que el aparato está configurado de manera que los haces reflejados se propagan a través del elemento birrefringente (3) para recombinar los haces reflejados, y un detector (7) para detectar el haz recombinado, en el que la muestra (4) es posicionable en la trayectoria óptica de los haces desplazados o en la cara posterior de una superficie reflectante en la trayectoria óptica de los haces desplazados, presentando la superficie reflectante una resonancia de plasmón superficial o una resonancia de pfasmón superficial localizada.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2018/070372.
Solicitante: FUNDACIÓ INSTITUT DE CIÈNCIES FOTÒNIQUES.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: BARCELONA.
Inventor/es: PRUNERI,VALERIO, TERBORG,Roland Alfonso, PELLO,Josselin, JOFRE,Marc, MARTINEZ,Pedro.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/45 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › utilizando métodos interferométricos; utilizando los métodos de Schlieren.
- G01N21/552 G01N 21/00 […] › Atenuación de la reflexión total.
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