Método y dispositivo para microscopía interferencial de campo completo de alta resolución.

Dispositivo de microscopía interferencial (4) de campo completo de luz incoherente para la formación de imágenes de una muestra de dispersión volumétrica (106),

que comprende:

- una fuente (101) para emitir una onda incidente que tiene una banda espectral dada,

- un dispositivo de interferencia (100) que comprende un brazo de referencia y un brazo objeto, para proporcionar interferencia óptica entre una onda de referencia (401) obtenida por reflexión de la onda incidente sobre una superficie reflectante (105) del brazo de referencia y una onda objeto (402) obtenida por la retrodispersión de la onda incidente mediante una sección de la muestra a una profundidad dada de dicha muestra, cuando dicha muestra se coloca en un plano focal objeto de un objetivo de microscopio (103) colocado en el brazo objeto,

- un dispositivo de adquisición bidimensional (108) para la adquisición multicanal de al menos una primera señal de interferencia y de al menos una segunda señal de interferencia resultante de la interferencia óptica de dichas ondas de referencia y objeto, teniendo las al menos dos señales de interferencia un desfase producido al hacer variar la diferencia de marcha relativa entre los dos brazos del dispositivo de interferencia, estando dispuesto dicho dispositivo de adquisición bidimensional en un plano ópticamente conjugado con dicho plano focal objeto de dicho objetivo de microscopio del brazo objeto,

- una unidad de procesamiento (403) para calcular una imagen de la sección de la muestra en base a dichas señales de interferencia primera y segunda,

en el que

- el dispositivo de interferencia comprende además un elemento óptico de modificación de fase (404) para modificar la fase del frente de onda de una de dichas ondas de referencia u objeto, y

- el dispositivo de microscopía comprende una unidad de control (405) para el elemento óptico de modificación de fase, vinculada a la unidad de procesamiento (403), siendo controlado el elemento óptico de modificación de fase (404) mediante la optimización de un parámetro estadístico de al menos una parte de la imagen calculada por la unidad de procesamiento, comprendiendo dicho parámetro estadístico al menos uno del valor medio, de la desviación estándar y del contraste.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2011/057997.

Solicitante: LLtech Management.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: Pépinière Paris Santé Cochin 2ème étage 29 rue du Faubourg Saint Jacques 75014 Paris FRANCIA.

Inventor/es: BOCCARA,ALBERT CLAUDE, HARMS,FABRICE, LE CONTE CHRESTIEN DE POLY,BERTRAND.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B21/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.Disposiciones de medida o sus detalles en caso de no adaptarse a los tipos particulares de medios de medida de los otros grupos de esta subclase.
  • G01B9/02 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
  • G01N21/45 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › utilizando métodos interferométricos; utilizando los métodos de Schlieren.

PDF original: ES-2553599_T3.pdf

 

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