Circuito de sensor óptico integrado.

Un sistema que comprende:

una fuente de radiación,

un detector y

un sistema fotónico integrado (100),

comprendiendo el sistema fotónico integrado (100)

- un sustrato (110)

- un interferómetro integrado (130) integrado en el sustrato (100) y que está configurado para recibir radiación desde una fuente de radiación, y

- un filtro espectral integrado (140) integrado en el sustrato (100) y que está configurado para recibir radiación desde el interferómetro (130),

en el que el interferómetro integrado (130) tiene un período (Pii) y el filtro espectral integrado (140) tiene un ancho de banda (BWsa) de tal modo que el período (Pii) del interferómetro integrado (130) es menor que el ancho de banda (BWsa)

del filtro espectral integrado (140), y

estando caracterizado el sistema por que el filtro espectral integrado (140) tiene una característica de transferencia periódica que tiene un período (Psa) y el sistema tiene un ancho de banda (BWsystem) determinado por el ancho de banda de la fuente de radiación, componentes del sistema fotónico integrado (100) y del detector, de tal modo que el período (Psa) de la característica de transferencia periódica del filtro espectral integrado (140) es mayor que el ancho de banda (BWsystem) del sistema.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E13197306.

Solicitante: UNIVERSITEIT GENT.

Inventor/es: BIENSTMAN,PETER, CLAES,TOM.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N21/45 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › utilizando métodos interferométricos; utilizando los métodos de Schlieren.

PDF original: ES-2697131_T3.pdf

 

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