PROCEDIMIENTO, DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MONITORIZACIÓN Y CARACTERIZACIÓN DE UN MÓDULO SOLAR FOTOVOLTAICO.

Procedimiento, dispositivo y sistema de monitorización y caracterización de un módulo (1 ) solar fotovoltaico que implica:

medir una tensión de vacío (V0) del módulo (1 ); medir una intensidad de cortocircuito (Icc) del módulo (1 ); medir una tensión e intensidad en un punto de trabajo (V1,l1) del módulo (1 ); estimar una curva tensión-intensidad a partir de la medida de tensión de vacío (V0), de la medida de intensidad de cortocircuito (Icc) y de la medida de tensión e intensidad en un punto de trabajo (V1,l1). El dispositivo tiene: un equipo de medida para medir una tensión de vacío (V0), una intensidad de cortocircuito (Icc) y una tensión (V1) e intensidad (l1) en un punto de trabajo del módulo (1 ). El sistema de monitorización transmite las medidas hacia una central de control (2) que centraliza las medidas de los dispositivos y estima curvas tensión-intensidad a partir de las medidas recibidas.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2016/070821.

Solicitante: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE CARTAGENA.

Nacionalidad solicitante: España.

Inventor/es: SERRANO MARTIN, JUAN JOSE, GOMEZ LAZARO,EMILIO, CAMPELO RIVADULLA,José Carlos, GARCÍA SÁNCHEZ,Tania María, MOLINA GARCÍA,Ángel.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • H02S50/10 SECCION H — ELECTRICIDAD.H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA.H02S Generación de energía eléctrica mediante la conversión de la radiación infrarroja, luz visible o luz ultravioleta, p. ej utilizando módulos fotovoltaicos [FV] (colectores de calor solar F24J 2/00; obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayo de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).
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