Método de detección de fallos en un módulo fotovoltaico.

Método de detección de fallos en un módulo fotovoltaico (Mi) que comprende varias células fotovoltaicas conectadas entre sí y uno o más diodos de derivación,

estando cada diodo de derivación (Db) configurado para contornear una o más células fotovoltaicas de dicho módulo fotovoltaico, caracterizado por que comprende las etapas siguientes:

- Determinación de una matriz de temperatura del módulo fotovoltaico (Mi), obteniéndose dicha matriz después de cortar el módulo en varias zonas térmicas y asignar una temperatura a cada zona térmica;

- Detección de al menos una zona térmica caliente (Zh) entre dichas varias zonas del módulo;

- Determinación de una relación de superficie entre la superficie (Sh) de la zona térmica caliente (Zh) detectada y la superficie total (Smod) del módulo;

- Primera comparación de dicha relación de superficie con un coeficiente que depende del número de diodos de derivación presentes en el módulo;

- Determinación del tipo de fallo a partir del resultado obtenido durante dicha primera comparación.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E18199375.

Solicitante: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: Bâtiment "Le Ponant D" 25, rue Leblanc 75015 Paris FRANCIA.

Inventor/es: HA,DUY LONG, AL SHAKARCHI,FRANCK.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • H02S50/10 SECCION H — ELECTRICIDAD.H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA.H02S Generación de energía eléctrica mediante la conversión de la radiación infrarroja, luz visible o luz ultravioleta, p. ej utilizando módulos fotovoltaicos [FV] (colectores de calor solar F24J 2/00; obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayo de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).

PDF original: ES-2818981_T3.pdf

 

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