Método para ajustar la fuente de luz de un dispositivo electrónico de alineación.

Método para ajustar el haz de luz (81) de un dispositivo de alineación (15,

16, 17, 18, 90), que comprende los pasos de: respectivo montaje del primer (15) y segundo (16) componente del dispositivo de alineación en un primer (1) y en un segundo (2) eje que están conectados entre sí mediante un acoplamiento (3), utilizar un ordenador (90) del dispositivo de alineación para ajustar la dirección de la emisión de un haz de luz (81) desde una fuente de luz (82), que está dispuesta en el primer componente (15) del dispositivo de alineación respecto a un detector (83) que está ubicado en al menos uno de los primeros (15) y segundos (16) componentes del dispositivo de alineación para colocar un punto de impacto (20) del haz de luz (81) en una zona predefinida del detector (83), es decir, cerca de un centro del detector (83), estando la fuente de luz (82) montada sobre una placa separada (12) que se puede inclinar, provocando el ordenador (90) que los motores dispuestos en el primer componente (15) y conectados al elemento portante de la fuente de luz (82) ajusten la placa (12) y la posición de la fuente de luz (82) y, a continuación, inicien la detección del estado de alineación de los ejes (1,2) uno respecto al otro, girando en diferentes posiciones los ejes (1, 2) en los que están montados el primer (15) y el segundo (16) componente, transmitiéndose comandos de control a los motores mediante los elementos de control del ordenador (90) para activar los motores.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E10197220.

Solicitante: PRÜFTECHNIK DIETER BUSCH AG.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: OSKAR-MESSTER-STRASSE 19-21 85737 ISMANING ALEMANIA.

Inventor/es: BARTH, RUDOLF.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/27 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la comprobación de la alineación de ejes.
  • G01B21/24 G01B […] › G01B 21/00 Disposiciones de medida o sus detalles en caso de no adaptarse a los tipos particulares de medios de medida de los otros grupos de esta subclase. › para la comprobación de la alineación de ejes.

PDF original: ES-2626123_T3.pdf

 

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