PROCEDIMIENTO, DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MONITORIZACIÓN Y CARACTERIZACIÓN DE UN MÓDULO SOLAR FOTOVOLTAICO.

Procedimiento, dispositivo y sistema de monitorización y caracterización de un módulo solar fotovoltaico.



Procedimiento, dispositivo y sistema de monitorización y caracterización de un módulo (1) solar fotovoltaico que implica: medir una tensión de vacío (V0) del módulo (1); medir una intensidad de cortocircuito (Icc) del módulo (1); medir una tensión e intensidad en un punto de trabajo (V1, I1) del módulo (1); estimar una curva tensión-intensidad a partir de la medida de tensión de vacío (V0), de la medida de intensidad de cortocircuito (Icc) y de la medida de tensión e intensidad en un punto de trabajo (V1, I1). El dispositivo tiene: un equipo de medida para medir una tensión de vacío (V0), una intensidad de cortocircuito (Icc) y una tensión (V1) e intensidad (I1) en un punto de trabajo del módulo (1). El sistema de monitorización transmite las medidas hacia una central de control (2) que centraliza las medidas de los dispositivos y estima curvas tensión-intensidad a partir de las medidas recibidas.

Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201531691.

Solicitante: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE CARTAGENA.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: MURCIA.

Inventor/es: SERRANO MARTIN, JUAN JOSE, GOMEZ LAZARO,EMILIO, CAMPELO RIVADULLA,José Carlos, GARCÍA SÁNCHEZ,Tania María, MOLINA GARCÍA,Ángel.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • H02S50/10 SECCION H — ELECTRICIDAD.H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA.H02S Generación de energía eléctrica mediante la conversión de la radiación infrarroja, luz visible o luz ultravioleta, p. ej utilizando módulos fotovoltaicos [FV] (colectores de calor solar F24J 2/00; obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayo de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).

PDF original: ES-2578940_A1.pdf

 

PDF original: ES-2578940_B2.pdf

 

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