Inclinómetro fotónico ultrasensible que utiliza el momento angular orbital de la luz, y método de medición angular correspondiente.
Sistema (100, 100') para medir la rotación angular relativa θ
de dos planos A y B, que comprende:
- una fuente de luz que produce un haz de luz,
- un primer subsistema óptico integrado en el plano A para preparar un estado adecuado para el haz de luz;
- un segundo subsistema óptico integrado en el plano B para medir el estado del haz de luz que sale del primer sistema óptico;
en el que θ es el ángulo en torno a un eje paralelo al haz de luz,
caracterizado por que
- el primer subsistema óptico comprende, en secuencia a lo largo de la dirección del haz de luz:
• medios (QWP, HWP) para producir un estado polarizado linealmente para el haz de luz;
• una primera placa q (placa q), que es una pastilla birrefringente con un eje óptico transversal con una estructura adecuada y una singularidad topológica en su centro con una carga topológica asociada q, y está dispuesta para transformar un estado de polarización en un estado de polarización/momento angular orbital;
- el segundo subsistema óptico comprende también en secuencia a lo largo de la dirección del haz de luz:
• una segunda placa q (placa q) con la misma carga topológica q que la primera placa q, estando dispuesta la segunda placa q para transformar un estado de polarización/momento angular orbital en un estado de polarización;
• medios (PBS, APD) para medir la polarización del haz de luz.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14425066.
Solicitante: UNIVERSITA' DEGLI STUDI DI ROMA "LA SAPIENZA".
Nacionalidad solicitante: Italia.
Dirección: P. Le Aldo Moro 5 00185 Roma (RM) ITALIA.
Inventor/es: LI,YING, D'AMBROSIO,VINCENZO, SPAGNOLO,NICOLÒ, DEL RE,LORENZO, MARRUCCI,LORENZO, SLUSSARENKO,SERGEI, AOLITA,MARIO LEANDO, WALBRON,STEPHEN PATRICK, KWEK,LEONG CHUAN, SCIARRINO,FABIO.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/26 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de ángulos o conicidades; para ensayar la alineación de ejes.
- G01C1/00 G01 […] › G01C MEDIDA DE DISTANCIAS, NIVELES O RUMBOS; TOPOGRAFIA; NAVEGACION; INSTRUMENTOS GIROSCOPICOS; FOTOGRAMETRIA O VIDEOGRAMETRIA (medida del nivel de líquidos G01F; radio navegación, determinación de la distancia o velocidad mediante la utilización de efectos de propagación, p. ej. efecto Doppler, tiempo de propagación, de ondas de radio, disposiciones análogas que utilicen otras ondas G01S). › Medida de ángulos.
- G01D5/34 G01 […] › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 5/00 Medios mecánicos para la transferencia de la magnitud de salida de un elemento sensor; Medios para la conversión de la magnitud de salida de un elemento sensor en otra variable, en los que la forma o naturaleza del elemento sensor no determinan los medios de conversión; Transductores no especialmente adaptados a una variable específica (G01D 3/00 tiene prioridad; especialmente adaptados para aparatos que dan resultados distintos al valor instantáneo de una variable G01D 1/00). › siendo detectados los haces de luz mediante fotocélulas.
- G06N99/00 G […] › G06 CALCULO; CONTEO. › G06N SISTEMAS DE COMPUTADORES BASADOS EN MODELOS DE CALCULO ESPECIFICOS. › Materia no prevista en otros grupos de esta subclase.
PDF original: ES-2572102_T3.pdf
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