Disposición interferométrica así como procedimiento para ajustar una diferencia de trayectoria.

Disposición interferométrica para medir un objeto de medición (280),

con medios para generar una trayectoria del haz de medición (205) con haces de medición orientados al objeto de medición (280), con medios para generar una trayectoria del haz de referencia (70) con haces de referencia orientados a un elemento de referencia (75), con medios de ajuste (150) para ajustar una diferencia de trayectoria entre los haces de medición y los haces de referencia, y con un detector (90) para tomar imágenes de la superposición de los haces de medición reflejados por el objeto de medición (280) y los haces de referencia, estando previstos medios de sincronización (160) que controlan los medios de ajuste (150) de tal manera que la diferencia de trayectoria entre los haces de medición y los haces de referencia se ajusta de manera sincronizada a las imágenes tomadas por el detector (90),

caracterizada por que

los medios de sincronización (160) están conformados de manera que se genera una señal de disparo, especialmente mediante un conmutador de separación, a base de la señal de detector, especialmente un impulso integral de la señal de detector, preferentemente un impulso de sincronización de fotograma, y por que los medios de sincronización (160) comprenden un contador, cuyo valor de contador se modifica, preferentemente se aumenta, dependiendo de la señal de disparo, especialmente por un valor definido.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2009/053878.

Solicitante: ROBERT BOSCH GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: POSTFACH 30 02 20 70442 STUTTGART ALEMANIA.

Inventor/es: FLEISCHER,MATTHIAS, SEIFFERT,THOMAS.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B9/02 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.

PDF original: ES-2608500_T3.pdf

 

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