Placa multipocillo y tapa.
Procedimiento para aislar y amplificar un analito ácido nucleico que puede encontrarse presente en unamuestra de fluido,
comprendiendo dicho procedimiento las etapas automatizadas de:
a) separar dicho analito ácido nucleico de otros materiales presentes en dicha muestra de fluido en unprimer recipiente,
b) proporcionar una segunda placa multipocillo con una tapa, que comprende un marco y una láminasellante fijada a dicho marco, en la que dicha tapa se encuentra presente sobre dicha placa multipocilloen una primera posición, evitando dicha primera posición el contacto entre la lámina sellante y la placamultipocillo,
c) levantar dicha tapa,
d) transferir el analito separado del primer recipiente a un pocillo de la segunda placa multipocillo,
e) colocar dicha tapa que comprende dicha lámina sellante fijada en dicho marco sobre la segundaplaca multipocillo, en la que dicha tapa se coloca sobre dicha segunda placa multipocillo en unasegunda posición, en la que dicha segunda posición induce el contacto entre dicha lámina sellante ydicha placa multipocillo,
f) sellar térmicamente dicha segunda placa multipocillo con dicha lámina sellante,
g) amplificar el analito en presencia de reactivos de amplificación que han sido añadidos antes delsellado, en dicha segunda plaa multipocillo.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E10194261.
Solicitante: F. HOFFMANN-LA ROCHE AG.
Nacionalidad solicitante: Suiza.
Dirección: GRENZACHERSTRASSE 124 4070 BASEL SUIZA.
Inventor/es: BELZ,RENATO, THALMANN,CHRISTIAN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- B01L3/00 TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES. › B01 PROCEDIMIENTOS O APARATOS FISICOS O QUIMICOS EN GENERAL. › B01L APARATOS DE LABORATORIO PARA LA QUIMICA O LA FISICA, DE USO GENERAL (aparatos de uso médico o farmacéutico A61; aparatos para aplicaciones industriales o aparatos de laboratorio cuya estructura y funciones son comparables a las de aparatos industriales similares, ver las clases relativas a los aparatos industriales, en particular las subclases B01 y C12; aparatos de separación o de destilación B01D; dispositivos de mezcla o de agitación B01F; atomizadores B05B; tamices, cribas B07B; tapones, capuchones B65D; manipulación de líquidos en general B67; bombas de vacío F04; sifones F04F 10/00; grifos, válvulas F16K; tubos, empalmes para tubos F16L; aparatos especialmente adaptados al estudio y análisis de materiales G01, particularmente G01N; aparatos eléctricos u ópticos, ver las subclases apropiadas en las secciones G y H). › Recipientes o utensilios para laboratorios, p. ej. cristalería de laboratorio (botellas B65D; equipos para enzimología o microbiología C12M 1/00 ); Cuentagotas (recipientes para volumetría G01F).
PDF original: ES-2394190_T3.pdf
Fragmento de la descripción:
Placa multipocillo y tapa Antecedentes Las placas multipocillo se utilizan comúnmente para la amplificación y la detección. Este tipo de placas resultan particularmente útiles en sistemas de análisis automatizados que comprenden una estación de amplificación para la amplificación de analitos ácidos nucleicos.
Con el fin de evitar la contaminación entre pocillos antes, durante y después de la reacción de amplificación, los recipientes de reacción en los que tiene lugar la amplificación se encuentran sellados. Un modo común de sellado para las placas multipocillo de amplificación comprende aplicar una lámina sellante sobre la placa y conectarla a la placa mediante un adhesivo o por sellado térmico.
La patente US nº 6.426.215 describe una cubierta para una placa de PCR.
La presente invención se refiere a un procedimiento automatizado para aislar y amplificar un ácido nucleico, a una placa multipocillo con una lámina sellante y a un sistema de análisis automatizado que comprende dicha placa multipocillo según las reivindicaciones adjuntas.
Descripción general
La presente invención se refiere a un procedimiento para aislar y amplificar un analito ácido nucleico que puede encontrarse presente en una muestra de líquido según la reivindicación 1.
Asimismo, se refiere a un juego de placa multipocillo que comprende una placa multipocillo y una tapa según la reivindicación 6.
Se refiere además a un sistema de análisis que comprende una estación de reserva y un juego de placa multipocillo según cualquiera de las reivindicaciones 12 a 14.
Las realizaciones preferentes se definen además según las reivindicaciones 2 a 5 y 7 a 11.
Leyendas de las figuras La fig. 1 muestra una vista de una gradilla montada y llena de puntas de pipeta. La fig. 2 muestra una vista de una gradilla sin puntas. La fig. 3 muestra una sección transversal de las paredes laterales más largas de la gradilla llena de dos tipos de punta de pipeta. La fig. 4 muestra una vista en perspectiva de la cara superior de la gradilla inferior. La fig. 5 muestra una vista en perspectiva de la cara inferior de la gradilla inferior. La fig. 6 muestra una vista en perspectiva de la cara superior de la gradilla insertable. La fig. 7 muestra una vista en perspectiva de la cara inferior de la gradilla insertable. La fig. 8 muestra una vista en perspectiva de la cara superior de la gradilla superior. La fig. 9 muestra una vista en perspectiva de la parte inferior de la gradilla superior. La fig. 10 muestra una vista parcial de sección transversal de la gradilla montada y llena de puntas de pipeta. La fig. 11 muestra una vista parcial de sección transversal de la gradilla montada y sin puntas de pipeta. La fig. 12 muestra una vista en perspectiva de la gradilla superior llena de puntas de pipeta, mostrando el detalle de puntas del primer tipo dentro de los orificios pasantes. La fig. 13 muestra una vista en perspectiva de la gradilla superior llena de puntas de pipeta, mostrando el detalle de puntas del segundo tipo apoyadas en los bordes de los orificios pasantes. La fig. 14 a) muestra una vista en perspectiva de puntas de pipeta del primer y segundo tipos. b) Muestra una aguja de pipeta. La fig. 15 muestra una vista en perspectiva detallada de la alineación de los elementos de posicionamiento en la parte inferior del cabezal del procedimiento y de los elementos de posicionamiento en la parte superior de la gradilla superior para la alineación del cabezal del procedimiento con puntas de pipeta del primer tipo . La fig. 16 muestra una vista en perspectiva detallada de la alineación de los elementos de posicionamiento en la parte inferior del cabezal de proceso y de los elementos de posicionamiento en la parte superior de la gradilla superior. La fig. 17 muestra una vista en perspectiva detallada de la alineación de los elementos de posicionamiento en la parte inferior del cabezal de proceso y de los elementos de posicionamiento en la parte superior de la gradilla superior, para la alineación del cabezal de proceso con el segundo tipo de puntas de pipeta.
La fig. 18 muestra una vista en perspectiva detallada del cabezal de proceso tras encajar las puntas de pipeta del segundo tipo. La fig. 19 muestra una vista en perspectiva de los elementos de posicionamiento en una pared lateral de la gradilla y en la plataforma de proceso, para el posicionamiento inicial de la gradilla dentro del analizador. La fig. 20 muestra una vista en perspectiva del acoplamiento de los elementos de posicionamiento en una pared lateral de la gradilla y en la plataforma de proceso para el posicionamiento inicial de la gradilla dentro del analizador. La fig. 21 muestra una vista de sección detallada del fondo de una cámara para alojar las puntas de pipeta del segundo tipo en la gradilla insertable y la separación entre dos cámaras de la gradilla inferior. La fig. 22 muestra una vista de sección detallada del fondo de las cámaras de la gradilla inferior. La fig. 23 muestra una vista de sección del sitio de interacción entre la gradilla superior y la gradilla insertable con una punta de pipeta del segundo tipo insertada en un orificio pasante. La fig. 24 muestra una vista de sección del sitio de interacción entre la gradilla superior y la gradilla insertable sin punta de pipeta del segundo tipo insertada en el orificio pasante. Fig. 25 Vista parcial de una segunda realización de gradilla de puntas. La fig. 26 muestra una vista en perspectiva de la placa de procesamiento. La fig. 27 muestra una vista en perspectiva de la placa de procesamiento desde el ángulo opuesto. La fig. 28 muestra una vista superior de la placa de procesamiento. La fig. 29 muestra una vista de sección transversal a lo largo del lado más largo de la placa de procesamiento. La fig. 30 muestra una vista parcial de una vista de sección transversal. La fig. 31 muestra una vista en perspectiva del lado más largo de la placa de procesamiento. La fig. 32 muestra una vista en perspectiva del fondo de la placa de procesamiento. La fig. 33 muestra una vista en perspectiva más vertical del fondo de la placa de procesamiento. La fig. 34 muestra el acoplamiento de los imanes de menor tamaño de la primera realización preferente de la estación de separación con los recipientes de la placa de procesamiento. La fig. 35 muestra una vista de sección transversal horizontal de la región central de la placa y recipientes de procesamiento. La fig. 36 muestra el acoplamiento de la placa de procesamiento en una estación destinada a la recepción de la placa de procesamiento (por ejemplo la estación de separación magnética) , con el mecanismo de bloqueo desacoplado. La fig. 37 muestra el acoplamiento de la placa de procesamiento en una estación destinada a la recepción de la placa de procesamiento (por ejemplo la estación de separación magnética) , con el mecanismo de bloqueo acoplado. La fig. 38 muestra dibujos esquemáticos de un analizador que comprende diferentes estaciones, módulos o celdas. La fig. 39 a) a d) muestra diferentes vistas de la segunda realización de la estación de separación magnética. La fig. 40 a) a c) muestra una vista de la primera realización de la estación de separación magnética que aloja la placa de procesamiento, con el primer tipo de imanes en la posición Z más alta y el segundo tipo de imanes en la posición Z más baja. La fig. 41 a) a c) muestra una vista de la primera realización de la estación de separación magnética que aloja la placa de procesamiento, con el primer tipo de imanes en la posición Z más alta y el segundo tipo de imanes en la posición Z más alta. La fig. 42 a) a c) muestra una vista de la primera realización de la estación de separación magnética que aloja la placa de procesamiento, con el primer tipo de imanes en la posición Z más baja y el segundo tipo de imanes en la posición Z más alta. La fig. 43 a) a c) muestra una vista de la primera realización de la estación de separación magnética que aloja la placa de procesamiento, con el primer tipo de imanes en la posición Z más baja y el segundo tipo de imanes en la posición Z más baja. La fig. 44 a) a c) muestra la placa y marco AD con lámina sellante en posición de reserva (a) , con la tapa levantada (b) , durante la rotación de la tapa (c) y en posición sellada (d) . La fig. 45 a) muestra una vista lateral de una sección de la placa y marco AD en posición sellada, b) muestra una lámina sellante con dos capas y en la que la parte superior de la tapa comprende un marco. La fig. 46 a) y b) muestra vistas de sección lateral y superior de una esquina de la placa y marco AD en posición de reserva. La fig. 46 c) a d) muestra vistas de sección lateral y superior de una esquina de la placa y... [Seguir leyendo]
Reivindicaciones:
1. Procedimiento para aislar y amplificar un analito ácido nucleico que puede encontrarse presente en una muestra de fluido, comprendiendo dicho procedimiento las etapas automatizadas de:
a) separar dicho analito ácido nucleico de otros materiales presentes en dicha muestra de fluido en un primer recipiente, b) proporcionar una segunda placa multipocillo con una tapa, que comprende un marco y una lámina sellante fijada a dicho marco, en la que dicha tapa se encuentra presente sobre dicha placa multipocillo en una primera posición, evitando dicha primera posición el contacto entre la lámina sellante y la placa multipocillo, c) levantar dicha tapa, d) transferir el analito separado del primer recipiente a un pocillo de la segunda placa multipocillo, e) colocar dicha tapa que comprende dicha lámina sellante fijada en dicho marco sobre la segunda placa multipocillo, en la que dicha tapa se coloca sobre dicha segunda placa multipocillo en una segunda posición, en la que dicha segunda posición induce el contacto entre dicha lámina sellante y dicha placa multipocillo, f) sellar térmicamente dicha segunda placa multipocillo con dicha lámina sellante, g) amplificar el analito en presencia de reactivos de amplificación que han sido añadidos antes del sellado, en dicha segunda plaa multipocillo.
2. Procedimiento según la reivindicación 1, en el que dicho primer recipiente se encuentra comprendido en una primera placa multipocillo.
3. Procedimiento según la reivindicación 1 ó 2, en el que dicha tapa se gira 180º.
4. Procedimiento según las reivindicaciones 1 a 3, en el que el marco comprende costillas de soporte y la placa multipocillo comprende zonas rebajadas correspondientes, en el que dichas zonas rebajadas se posicionan de manera que las costillas de soporte del marco no se alinean con las zonas rebajadas en la primera posición de la tapa sobre la placa multipocillo, y en el que las costillas de soporte sí se alinean con las zonas rebajadas en la segunda posición de la tapa sobre la placa multipocillo.
5. Procedimiento según la reivindicación 4, en el que, en dicha segunda posición, las costillas de soporte del marco se encuentran dentro de las zonas rebajadas de la placa multipocillo.
6. Juego de placa multipocillo que comprende una placa multipocillo y una tapa, en el que dicha tapa comprende un marco y una lámina sellante fijada a dicho marco, en el que, en una primera posición de dicha tapa sobre dicha placa multipocillo, dicha lámina sellante y la superficie superior de dicha placa multipocillo se encuentran separados por una distancia, y en una segunda posición, la lámina sellante se encuentra en contacto con dicha superficie superior de la placa multipocillo.
7. .Placa multipocillo según la reivindicación 6, en la que dicho marco comprende costillas de soporte y dicha placa multipocillo comprende aberturas, en la que, en dicha primera posición, las costillas de soporte se encuentran en una localización diferente que las aberturas, y en dicha segunda posición, dichas costillas de soporte y dichas aberturas se alinean.
8. Placa multipocillo según la reivindicación 6 ó 7, en la que la superficie superior de dicha placa multipocillo comprende bordes térmicos, y en dicha segunda posición, la lámina sellante entra en contacto con los bordes térmicos.
9. Placa multipocillo según la reivindicación 6, en la que la lámina sellante se fija al marco mediante un procedimiento de sellado térmico.
10. Placa multipocillo según las reivindicaciones 6 a 9, en la que la lámina sellante se fija a la superficie superior del marco.
11. Placa multipocillo según las reivindicaciones 6 a 10, en la que la lámina sellante comprende un polímero.
12. Sistema de análisis que comprende una estación de reserva y un juego de placa multipocillo según las reivindicaciones 6 a 11, en el que dicha placa multipocillo se fija en dicha estación de reserva.
13. Sistema de análisis según la reivindicación 12, que comprende adicionalmente una estación de sellado para el sellado térmico de la lámina sellante comprendida en el marco a la placa multipocillo.
14. Sistema de análisis según la reivindicación 13, en el que dicha placa multipocillo comprende una base con un borde que comprende zonas rebajadas, en el que un elemento de posicionamiento y fijación en dicha estación de reserva entra en contacto con dichas zonas rebajadas, en el que dicho contacto ejerce una presión hacia abajo sobre la base de la placa multipocillo, fijando de esta manera la placa multipocillo en la estación de reserva.
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