SISTEMA DE MORFOMETRIA PARA LA ADQUISICION SEMI-AUTOMATICA DE COORDENADAS TRIDIMENSIONALES.
Sistema de morfometría para la adquisición semi-automática de coordenadas tridimensionales.
#El sistema está formado por dos sensores semirígidos (11,12) y otro optoelectrónico (13). Los semirígidos transmiten la traslación producida al girar los tornillos micrométricos de la pletina (15) del microscopio (1). El sensor optoelectrónico (13) cuantifica los desplazamientos del enfoque. La salida de los sensores se transmite a la consola de control (2), conectada a un ordenador (4). El programa de ordenador se comunica con la consola por un fichero de texto con las coordenadas seleccionadas en la sesión de trabajo. El origen de las coordenadas se especifica al comienzo del trabajo asignando cero a los sensores. El operador tiene un puntero de referencia en el ocular del microscopio para identificar selectivamente las micro-estructuras. Este puntero se superpone sobre la estructura mediante desplazamientos de la preparación. La selección de las coordenadas se realiza con un botón o un pedal (3).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: UNIVERSIDAD DE ALICANTE.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: ALICANTE.
Inventor/es: BALBOA CARRATALA,ROSARIO, BAEZA NADAL,PABLO, POMARES PADILLA,ALEJANDRO, QUILES MACIA,JUAN ANTONIO.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B7/004 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 7/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios eléctricos o magnéticos. › para la medida de coordenadas de puntos.
- G01B7/008 G01B 7/00 […] › que utilizan máquinas de medida de coordenadas.
Clasificación PCT:
- G01B7/004 G01B 7/00 […] › para la medida de coordenadas de puntos.
- G01B7/008 G01B 7/00 […] › que utilizan máquinas de medida de coordenadas.
- G02B21/00 G […] › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
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