METODO DE UTILIZACION DE UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATOMICAS Y MICROSCOPIO.

Método de utilización de un microscopio de fuerzas atómicas y microscopio.

#El método que comprende realizar como mínimo una excitación bi-modal de una micropalanca (M), a disponer sobre una muestra, y analizar como mínimo la variación de la amplitud (A{sub,i}) de oscilación de una señal de salida (A{sub,i}cos({oe}{sub,i}t-{ph}{sub,i})) representativa de la respuesta de dicha micropalanca (M) a la excitación de uno de sus modos naturales de vibración, para obtener información topográfica de dicha muestra, y la variación de la fase ({ph}{sub,j}) de una señal de salida (A{sub,j}cos({oe}{sub,j}t-{ph}{sub,j})) representativa de la respuesta de dicha micropalanca (M) a la excitación de otro de sus modos naturales de vibración, para obtener información composicional de dicha muestra.#El microscopio se encuentra adaptado para ser utilizado según el método propuesto.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: CONSEJO SUPERIOR INVESTIGACIONES CIENTIFICAS.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: MADRID.

Inventor/es: GARCIA GARCIA,RICARDO, RODRIGUEZ FRUTOS,TOMAS RAUL.

Fecha de Solicitud: 24 de Junio de 2005.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 5 de Noviembre de 2007.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N13/16

Clasificación PCT:

  • G01N13/16
METODO DE UTILIZACION DE UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATOMICAS Y MICROSCOPIO.

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