Circuito integrado digital protegido contra errores transitorios.

Circuito integrado digital que comprende un conjunto (120, 520) lógico que comprende un bloque (101,

501) lógico funcional, una unidad (102, 512) lógica de detección de errores transitorios que afectan al bloque (101, 501) lógico funcional, una memoria (103) FIFO de entrada para alimentar de muestras el bloque (101, 501) lógico funcional, una memoria (104) FIFO de salida para recibir muestras en la salida del bloque (101, 501) lógico funcional, una memoria (105) de buffer alimentada de muestras por la memoria (103) FIFO de entrada, y una unidad (106) lógica de control apta para controlar, el acceso de lectura en la memoria (103) FIFO de entrada y el acceso de escritura en la memoria (104) FIFO de salida y configurada para, cuando se detecta un error por la unidad (102, 512) lógica de detección de errores transitorios, reinicializar la unidad (102, 512) lógica de detección de errores transitorios y el bloque (101, 501) lógico funcional, suspender el acceso de escritura en la memoria (104) FIFO de salida y conmutar la entrada del bloque (101, 501) lógico funcional hacia la salida de la memoria (105) de buffer.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E18167418.

Solicitante: THALES.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: Tour Carpe Diem, Place des Corolles, Esplanade Nord 92400 Courbevoie FRANCIA.

Inventor/es: OSTER,YANN NICOLAS PIERRE, BARRES,LOÏC PIERRE.

Fecha de Publicación: 9 de Octubre de 2019.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01R31/317 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos digitales.
G01R31/3177 G01R 31/00 […] › Ensayo del funcionamiento lógico, p. ej. por medio de analizadores lógicos.
G06F11/16 G […] › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › Detección o corrección de errores en un dato por redundancia en el hardware.
H03K19/007 ELECTRICIDAD. › H03 CIRCUITOS ELECTRONICOS BASICOS. › H03K TECNICA DE IMPULSO (medida de las características de los impulsos G01R; modulación de oscilaciones sinusoidales por impulsos H03C; transmisión de información digital, H04L; circuitos discriminadores de detección de diferencia de fase entre dos señales de conteo o integración de ciclos de oscilación H03D 3/04; control automático, arranque, sincronización o estabilización de generadores de oscilaciones o de impulsos electrónicos donde el tipo de generador es irrelevante o esta sin especificar H03L; codificación, decodificación o conversión de código, en general H03M). › H03K 19/00 Circuitos lógicos, es decir, teniendo al menos dos entradas que actúan sobre una salida (circuitos para sistemas de computadores que utilizan la lógica difusa G06N 7/02 ); Circuitos de inversión. › Circuitos que afirman la seguridad en caso de defecto.
H03K19/177 H03K 19/00 […] › dispuestos en forma matricial.

PDF original: ES-2764990_T3.pdf

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