Medición eficiente del ruido de la fuente de alimentación basada en la incertidumbre de temporización.
Un circuito integrado que comprende un dispositivo de medición de ruido de la fuente de alimentación,
el circuito (117) integrado que tiene un bloque (101) funcional, comprendiendo el dispositivo de medición de ruido:
un generador (123) de señal configurado para proporcionar una señal de reloj al bloque (101) funcional, una antena (127) que comprende un transistor, y que está ubicada próxima al bloque (101) funcional, estando la antena (127) configurada para recibir la señal de reloj del generador (123) de señal, y
un estimador (135) de variación rápida configurado para proporcionar una medida la variación rápida relativa entre una señal de salida de la antena (127) y una señal de reloj de referencia, y
el transistor de la antena (127) recibe energía eléctrica de la misma fuente de energía que suministra energía al bloque (101) funcional.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2013/066668.
Solicitante: TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (PUBL).
Nacionalidad solicitante: Suecia.
Dirección: 164 83 STOCKHOLM SUECIA.
Inventor/es: GIRARD, PATRICK, VALKA,MIROSLAV, BOSIO,ALBERTO, BROUTIN,MICKAEL, DEBAUD,PHILIPPE, GUILHOT,STÉPHANE.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R29/26 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 29/00 Dispositivos para realizar medidas o indicaciones de valores eléctricos no comprendidos en los grupos G01R 19/00 - G01R 27/00. › Medida del coeficiente de ruido; Medida de la relación señal-ruido.
- G01R31/317 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos digitales.
PDF original: ES-2720050_T3.pdf
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