ESCANER DE DEFORMADAS DINAMICAS.

Escáner de deformadas dinámicas.#Procedimiento y aparato de inspección no destructiva para la medida de desplazamientos dinámicos de estructuras, con la finalidad añadida de determinar la existencia y localización de defectos que pudieran afectar a la integridad de dichas estructuras, utilizando técnicas ópticas geométricas. La combinación de un tipo de iluminación por barrido de un haz láser

(3) emitido por un emisor-receptor (1), en un rango de direcciones de iluminación cercanas a la de incidencia rasante sobre la superficie de la estructura a inspeccionar (2), utilizando una distribución uniforme de retrorreflectores (5.i) sobre la línea de control (4) y una dirección de observación próxima a la dirección de retrorreflexión, permite adquirir información sobre los desplazamientos dinámicos de la estructura según la dirección normal (8). Aparato para la generación y adecuación del haz láser (3), generación del barrido y adquisición de información sobre la dirección del haz láser.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: UNIVERSIDAD DE VIGO.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: PONTEVEDRA.

Inventor/es: FERNANDEZ FERNANDEZ,JOSE LUIS, COMESAA PIEIRO,RAFAEL, FERNANDEZ DOVAL,ANGEL MANUEL, LOPEZ VAZQUEZ,JOSE CARLOS, TRILLO YAEZ,MARIA CRISTINA.

Fecha de Solicitud: 12 de Julio de 2005.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 14 de Octubre de 2008.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/88 (Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > G01B9/00 (Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00))

Clasificación PCT:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/88 (Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > G01B9/00 (Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00))
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ESCANER DE DEFORMADAS DINAMICAS.