COMPROBADOR DE TARJETAS DE CIRCUITO IMPRESO.

SE PRESENTA UN APARATO Y UN METODO PARA COMPROBAR LAS CONEXIONES ENTRE TARJETAS DE CIRCUITO IMPRESO Y LOS COMPONENTES MONTADOS SOBRE LAS MISMAS. UN CIRCUITO CONDUCTOR SE FORMA PARA DESVIAR HACIA ADELANTE UN DIODO PARASITICO QUE ESTA INHERENTEMENTE PRESENTE ENTRE UN TERMINAL DE CONEXION DE UN CIRCUITO INTEGRADO

(IC) Y EL PLANO DE TIERRA DEL IC. SE CREA UN CAMPO MAGNETICO MEDIANTE UNA ANTENA MONTADA ENCIMA DEL COMPONENTE A COMPROBAR. CUANDO LA ANTENA ES DOTADA DE ENERGIA MEDIANTE UNA FUENTE DE RADIOFRECUENCIA, SE INDUCE UN VOLTAJE EN EL CIRCUITO CONDUCTOR SI EL CIRCUITO ES CONTINUO, POR EJEMPLO, SI TODAS LAS CONEXIONES ESTA APROPIADAMENTE HECHAS. EL VOLTAJE EN EL CIRCUITO SE MIDE Y SE COMPARA CON UN LIMITE SELECCIONADO PARA PRODUCIR UNA INDICACION DE FALLO. ESTE COMPROBADOR PUEDE IMPLEMENTARSE COMO UNA MEJORA A UN COMPROBADOR DE CIRCUITO IMPRESO ESTANDAR DEL TIPO DE "LECHO DE PUNTAS". LA ANTENA PUEDE IMPLEMENTARSE COMO UNA MATRIZ DE ANTENAS DE CIRCUITO, CON ANTENAS ADYACENTES QUE PRODUCEN CAMPOS MAGNETICOS QUE ESTAN 90 (GRADOS) FUERA DE FASE ENTRE UNAS Y OTRAS.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: TERADYNE, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 321 HARRISON AVENUE,BOSTON, MASSACHUSETTS 02118.

Inventor/es: SHEEN, TIMOTHY, W., CHEN, JIANN-NENG, COHEN, STEPHEN, A., BAGLINO, MICHAEL, A., WRINN, JOSEPH, F.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 16 de Septiembre de 1994.

Fecha Concesión Europea: 4 de Diciembre de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES... > Dispositivos para verificar propiedades eléctricas;... > G01R31/04 (Ensayo de conexiones, p. ej. enchufes, juntas no desconectables)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES... > Dispositivos para verificar propiedades eléctricas;... > G01R31/312 (por métodos capacitivos)

Países PCT: Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Suecia, Oficina Europea de Patentes, Japón.

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