Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) que comprende:

un probador de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (106) adaptado para probar dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) dispuestos muy juntos, y caracterizado porque el probador de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (106) aplica un umbral de éxito/fracaso, variable para cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) probados, basándose el umbral en el estado operativo de al menos uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) cercano al dispositivo de identificación por radiofrecuencia (102) que se está probando

Campo y antecedentes de la invención

La presente invención se refiere en general a aplicaciones de identificación por radiofrecuencia (RFID) y, más en concreto, a pruebas de dispositivos RFID. 5

Los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (RFID) son bien conocidos y cada vez se utilizan más en una amplia variedad de aplicaciones. Sin embargo, uno de los retos asociados a los dispositivos RFID (por ejemplo, etiquetas RFID, rótulos RFID, chips RFID, correas RFID, o inserciones RFID) es la fabricación y prueba de los dispositivos RFID en un gran volumen y de manera rentable.

Por ejemplo, durante o después del proceso de fabricación, los dispositivos RFID se pueden probar cuando se 10 encuentran muy cerca los unos de los otros (por ejemplo dispositivos RFID adyacentes muy próximos). Los dispositivos RFID, por ejemplo, se pueden fabricar en una banda portadora común, teniendo el dispositivo RFID (por ejemplo, una inserción RFID) su antena montada en la banda portadora común y su circuito integrado montado en la antena.

Debido a la proximidad de los dispositivos RFID, puede resultar difícil establecer una comunicación bidireccional con cada uno de los dispositivos RFID durante las pruebas. En general, una antena del dispositivo RFID puede ser vista con 15 una zona de campo cercano y una zona de campo lejano. La zona de campo cercano se refiere a un campo cercano reactivo (por ejemplo, aproximadamente R ≤ λ/2π) y un campo cercano radiante (por ejemplo, aproximadamente R < 2D2/λ), mientras que la zona de campo lejano se refiere a un componente de campo lejano radiante (por ejemplo, R > 2D2/λ), donde R es la distancia desde la antena y D es la dimensión más grande de la antena. La prueba de corto alcance de los dispositivos RFID implica generalmente pruebas dentro de la zona de campo cercano (por ejemplo, 20 utilizando los componentes de campo cercano o lejano), mientras que las pruebas de largo alcance implican en general pruebas dentro de la zona de campo lejano.

Para pruebas de corto alcance y pruebas de largo alcance, por lo general se deben tomar ciertas precauciones, cuando se prueba uno de los dispositivos RFID, para evitar que los dispositivos RFID que están muy cerca respondan o afecten también a los resultados de las pruebas para cada dispositivo RFID que se está probando. Esto da lugar a 25 procedimientos o configuraciones de prueba complicados y puede producir dispositivos RFID operativos que se ponen a prueba y se determinan de manera errónea como defectuosos. Como resultado de esto, existe la necesidad de proporcionar técnicas de prueba mejoradas para dispositivos RFID.

La US 2002/167397, describe un verificador RFID aunque incluye un interrogador RFID que transmite una señal de interrogación primera y segunda teniendo cada una, una primera característica provisional que difiere de la otra en una 30 cantidad conocida. Más en concreto, D1 describe un transmisor RF configurado para transmitir como mínimo una primera señal de interrogación RF de un primer nivel de potencia en un primer tiempo y una segunda señal de interrogación RF de un segundo nivel de potencia y un receptor RF configurado para recibir una primera señal de retorno RF que vuelve desde una etiqueta en respuesta a la primera señal de interrogación RF y una segunda señal de retorno RF que vuelve desde una etiqueta RFID. El receptor RF recibe una primera señal de retorno y una segunda 35 señal de retorno de un único dispositivo RFID. La respuesta se compara con un nivel de respuesta aceptable determinado y no se compara con etiquetas cercanas o circundantes.

La US 6.104.291, proporciona un aparato para probar RFID utilizando comunicación por frecuencia inalámbrica. Para probar las etiquetas RFID se genera un campo de interrogación por radiofrecuencia. Una etiqueta RFID se coloca dentro del campo de interrogación por radiofrecuencia. Para colocar etiquetas RFID de manera secuencial, se puede 40 proporcionar un conjunto de carro que transporta cada etiqueta RFID dentro de una cámara de prueba. Cada etiqueta RFID se aísla para que pueda ser probada y/o programada por separado.

La publicación internacional WO 01/67413 A1, muestra un lector electroestático y electromagnético combinado, que incluye un transmisor, acoplado en un electrodo electrostático y un elemento electromagnético para transmitir una señal de excitación a través del electrodo electrostático y el elemento electromagnético. Además, se proporciona un receptor, 45 acoplándose el receptor con el electrodo electrostático y el elemento electromagnético para recibir señales electrostáticas y señales electromagnéticas de al menos uno de los dispositivos electromagnéticos. Un circuito se acopla con al menos uno del transmisor y el receptor para procesar en este las señales electrostáticas y las señales electromagnéticas.

La solicitud de patente US 2004/0160233, describe un probador de dispositivo RFID que incluye elementos de 50 acoplamiento para acoplar vía capacitor un lector con un dispositivo RFID mediante el envío de una señal saliente que se puede rectificar y/o reflejar mediante el dispositivo RFID, si el dispositivo RFID está funcionando. El probador aísla de manera operativa el dispositivo RFID que se está probando de otros dispositivos cercanos. Por tanto, se evita

proporcionar cantidades sustanciales de energía a otros dispositivos RFID que de otro modo pueden producir señales que interfieran en los resultados de las pruebas.

Breve descripción de la invención

En este documento se describen sistemas y métodos para proporcionar técnicas de prueba de dispositivos RFID. Por ejemplo, según una realización de la presente invención, se describe un sistema de prueba RFID que aplica umbrales 5 de prueba variables para dispositivos RFID. Los umbrales de prueba, por ejemplo, se pueden determinar midiendo el rendimiento de dispositivos RFID en varias configuraciones en función del estado operativo de dispositivos RFID cercanos.

Más en concreto, según una realización de la presente invención, un sistema de prueba de dispositivo RFID incluye un probador de dispositivo RFID adaptado para probar dispositivos RFID dispuestos en una configuración en la que están 10 muy juntos; y en donde el probador de dispositivo RFID aplica un umbral variable a cada uno de los dispositivos RFID probado, en base a una característica de por lo menos uno de los dispositivos RFID cercanos al dispositivo RFID que se está probando.

Según otra realización de la presente invención, un sistema RFID incluye una pluralidad de dispositivos RFID; y medios para probar los dispositivos RFID, en donde los medios de prueba establecen un umbral de rendimiento para cada uno 15 de los dispositivos RFID en base a una característica de al menos uno de los dispositivos RFID cercano al dispositivo RFID que se está probando.

Según otra realización de la presente invención, un método para probar dispositivos RFID incluye la comunicación con el primero de los dispositivos RFID; y la determinación de un umbral de rendimiento para el primero de los dispositivos RFID en base a una característica de al menos uno de los dispositivos RFID. 20

El ámbito de aplicación de la invención se define en las reivindicaciones, que se incorporan a esta sección como referencia. A los expertos en la materia se les proporciona una comprensión más completa de las realizaciones de la presente invención, así como una realización de sus ventajas adicionales, mediante una consideración de la siguiente descripción detallada de una o varias realizaciones. Se va a hacer referencia a los dibujos adjuntos, que primero se describen brevemente. 25

Breve descripción de los dibujos

- La figura 1, muestra un diagrama de bloques que ilustra un sistema de prueba para dispositivos RFID según una realización de la presente invención.

- La figura 2, muestra un diagrama de bloques que ilustra un sistema de prueba para dispositivos RFID, según una realización de la presente invención. 30

- La figura 3, muestra un organigrama que ilustra operaciones de prueba RFID según una realización de la presente invención.

- La figura 4, muestra un diagrama de bloques que ilustra un sistema de prueba RFID según una realización de la presente invención.

Las realizaciones de la presente invención y sus ventajas se comprenden mejor con referencia a la descripción 35 detallada que viene a continuación. Debe... [Seguir leyendo]

1. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) que comprende:

un probador de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (106) adaptado para probar dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) dispuestos muy juntos, y

caracterizado porque el probador de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (106) aplica un umbral 5 de éxito/fracaso, variable para cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) probados, basándose el umbral en el estado operativo de al menos uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) cercano al dispositivo de identificación por radiofrecuencia (102) que se está probando.

2. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 1, en donde el probador de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (106) comprende un lector de identificación por 10 radiofrecuencia.

3. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 1, en donde el probador de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (106) comprende

un probador de corto alcance (202) adaptado para realizar al menos una de una lectura de un código de identificación correspondiente de cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) y una prueba 15 de cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) para determinar si es operativo;

un probador de largo alcance (204) adaptado para realizar una prueba en cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia; y

un controlador (206) adaptado para controlar el funcionamiento del probador de corto alcance (202) y del probador de largo alcance. 20

4. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 3, en donde el probador de corto alcance (202) se comunica con cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) a través de por lo menos uno de un campo eléctrico y un campo magnético.

5. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 3, en donde por lo menos uno del probador corto alcance (202) y del probador de largo alcance (204) se comunica con cada uno de los 25 dispositivos de identificación por radiofrecuencia a una frecuencia distinta de una frecuencia de resonancia natural de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia.

6. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 3, que comprende además un marcador adaptado para proporcionar una marca de identificación a cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) que no cumpla los requisitos de rendimiento establecidos por el umbral 30 variable correspondiente.

7. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 3, que comprende además un dispositivo óptico (208) adaptado para realizar una inspección de al menos uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) para determinar si está defectuoso.

8. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 1, en donde el 35 umbral variable para cada uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) se basa en datos de pruebas de rendimiento para los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) en diferentes configuraciones, teniendo los dispositivos de identificación por radiofrecuencia cercanos (102) diferentes estados operativos para cada una de las configuraciones.

9. Sistema de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (100) según la reivindicación 1, en donde los 40 dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) se disponen en al menos uno de una hoja de una banda portadora (104) o un rollo de una banda portadora.

10. Método de prueba de dispositivo de identificación por radiofrecuencia (102), comprendiendo el método:

la comunicación con el primero de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102); y

la determinación de un umbral de rendimiento para el primero de los dispositivos de identificación por 45 radiofrecuencia (102), caracterizado porque el umbral se basa en el estado operativo de al menos uno de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) cercano al primero de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102).

11. Método según la reivindicación 10, en donde el umbral de rendimiento se proporciona a partir de al menos una de una tabla de consulta y una fórmula que se basa en datos de prueba de dispositivos operativos y defectuosos de 50 dispositivos de identificación por radiofrecuencia en varias configuraciones.

12. Método según la reivindicación 10, que comprende además:

la realización de pruebas de configuración para dispositivos operativos y defectuosos de dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) en varias configuraciones; y

el cálculo del umbral de rendimiento para las pruebas correspondientes de las pruebas de configuración.

13. Método según la reivindicación 10, que comprende además: 5

la aplicación del umbral de rendimiento determinado para el primero de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102); y

la marcación del primero de los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (102) como defectuoso si su rendimiento no alcanza el umbral de rendimientos determinado.

14. Método según la reivindicación 10, que comprende además la inspección óptica del primero de los dispositivos de 10 identificación por radiofrecuencia (102) en lo que se refiere a los defectos.