14 inventos, patentes y modelos de CARMONA GALÁN,Ricardo

Sección de la CIP Física

(12/03/2020). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Clasificación: G01S17/10, G01S7/4865.

Se describe en este documento método para la detección del pico del histograma comprimido de los valores de píxel en sensores de tiempo-de-vuelo de alta resolución basados en la captura de fotones individuales así como un dispositivo para la detección del pico del histograma comprimido de los valores de píxel en sensores de tiempo-de-vuelo de alta resolución basados en la captura de fotones individuales, que permiten llevar a cabo una precisa detección del pico del histograma formado por todas las medidas del tiempo de vuelo (ToF) obtenidas para cada píxel.

Sección de la CIP Física

(05/03/2020). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Clasificación: G01S17/00.

Método y dispositivo de detección de pico del histograma comprimido de los valores de píxel en sensores de tiempo-de vuelo de alta resolución. Se describe en este documento método para la detección del pico del histograma comprimido de los valores de píxel en sensores de tiempo-de-vuelo de alta resolución basados en la captura de fotones individuales así como un dispositivo para la detección del pico del histograma comprimido de los valores de píxel en sensores de tiempo-de-vuelo de alta resolución basados en la captura de fotones individuales, que permiten llevar a cabo una precisa detección del pico del histograma formado por todas las medidas del tiempo de vuelo (ToF) obtenidas para cada píxel.

PDF original: ES-2746248_A1.pdf

Sección de la CIP Electricidad

(03/10/2018). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: H01L27/146, H04N5/30.

Sensor de imágenes. El objeto de la invención es un sensor de imágenes con muestreo compresivo "on-chip" para la captura, comprensión y transmisión de imágenes completas. Más concretamente, este sensor de imágenes que comprende una matriz de pixeles con filas y columnas, para convertir la luz incidente en una señal eléctrica, un primer circuito, para generar una secuencia pseudo-aleatoria de números binarios que selecciona los pixeles a comprimir, un segundo y un tercer circuito para recibir la señal de selección de cada pixel y generar para cada pixel comprimido una codificación en frecuencia de pulsos del valor del pixel, y un cuarto circuito que recibe la codificación en frecuencia de pulsos del valor del pixel de cada pixel comprimido, para obtener una señal digital comprimida de la imagen completa.

PDF original: ES-2684521_A1.pdf

Sección de la CIP Electricidad

(07/09/2018). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: H04N19/48, H04N5/341.

El objeto de la invención es un sensor de imágenes con muestreo compresivo "on-chip" para la captura, comprensión y transmisión de imágenes completas. Más concretamente, este sensor de imágenes que comprende una matriz de pixeles con filas y columnas, para convertir la luz incidente en una señal eléctrica, un primer circuito, para generar una secuencia pseudo-aleatoria de números binarios que selecciona los pixeles a comprimir, un segundo y un tercer circuito para recibir la señal de selección de cada pixel y generar para cada pixel comprimido una codificación en frecuencia de pulsos del valor del pixel, y un cuarto circuito que recibe la codificación en frecuencia de pulsos del valor del pixel de cada pixel comprimido, para obtener una señal digital comprimida de la imagen completa.

Sección de la CIP Electricidad

(08/02/2018). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: H01J37/26, H01L31/08.

Sensor de electrones para microscopia electrónica. La presente invención es un sensor de electrones , y un sistema con una pluralidad de sensores de electrones para microscopia electrónica realizada mediante un microscopio electrónico. Más concretamente, el microscopio electrónico genera un haz de electrones que comprende al menos un electrón que incide sobre una superficie de recepción lateral de dicho sensor de electrones y este genera una carga eléctrica de pares electrón-hueco (e-h) que son detectados y/o medidos por al menos electrodos vinculados con una unidad de circuitería eléctrica para formar una imagen con elevado rango dinámico y medir la energía de los electrones incidentes en cada pixel de la imagen.

PDF original: ES-2653767_A1.pdf

Sección de la CIP Electricidad

(11/01/2018). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: H01J37/26, H01L31/08.

La presente invención es un sensor de electrones , y un sistema con una pluralidad de sensores de electrones para microscopía electrónica realizada mediante un microscopio electrónico. Más concretamente, el microscopio electrónico genera un haz de electrones que comprende al menos un electrón que incide sobre una superficie de recepción lateral de dicho sensor de electrones y este genera una carga eléctrica de pares electrón-hueco (e-h) que son detectados y/o medidos por al menos electrodos vinculados con una unidad de circuitería eléctrica para formar una imagen con elevado rango dinámico y medir la energía de los electrones incidentes en cada pixel de la imagen.

Sección de la CIP Electricidad

(24/09/2015). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE SEVILLA. Clasificación: H04N5/335, H01L27/00.

La presente invención, consiste en hardware de señal mixta para cómputo de la imagen integral en el plano focal mediante una agrupación de celdas básicas de sensado-procesamiento cuya interconexión puede ser reconfigurada mediante circuitería periférica que hace posible una implementación muy eficiente de una tarea de procesamiento muy útil en visión artificial como es el cálculo de la imagen integral en escenarios tales como monitorización de espacios naturales, robótica, ayuda a la navegación aérea no tripulada etc. El área científico-técnica de la invención es la de tecnologías físicas, concretamente microelectrónica. Su marco de aplicación general sería el de sistemas electrónicos de muy bajo consumo de potencia diseñados para llevar a cabo tareas de visión artificial, es decir, captura de imágenes, análisis de las mismas y actuación en caso de que los resultados de dicho análisis así lo requieran.

Sección de la CIP Física

(17/04/2014). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE SEVILLA. Clasificación: G06T1/00.

Dispositivo y método para la detección hardware de extremos locales en una imagen que comprende una pluralidad de celdas elementales de procesamiento de señal mixta interconectadas entre sí localmente, y que comprende en cada celda un primer interruptor configurado para habilitar la precarga de un condensador a la tensión de alimentación; y donde una vez precargado dicho condensador este se descarga a través de un segundo interruptor conectado con una fuente de corriente que varía de manera monótona creciente con la tensión analógica que representa el valor del pixel considerado; y donde el valor del píxel se compara de manera asíncrona con los píxeles vecinos de las celdas vecinas a través de dos inversores , una puerta digital NOR , una puerta digital NAND , un tercer y cuarto interruptor y un elemento de memoria para almacenar el resultado.

Secciones de la CIP Física Electricidad

(07/11/2013). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE SEVILLA. Clasificación: G06T7/60, H01L27/085.

Dispositivo para la detección de bordes y mejora de calidad en una imagen que comprende una agrupación de celdas elementales de procesamiento idénticas e interconectadas localmente. Cada celda de procesamiento se caracteriza a su vez por un comparador que lleva a cabo en paralelo la comparación de cada par de pixeles vecinos. La tensión umbral que establece la diferencia de tensión entre pixeles considerados parte de un borde se determina mediante un ajuste temporal de una señal de control. Este ajuste, junto con el de la señal de control de filtrado, también de carácter temporal, son los únicos necesarios para configurar el procesamiento deseado. No se requieren señales analógicas externas de control por lo que se facilita la programación del hardware por el dispositivo que se utilice y se reduce el número de convertidores digital/analógico del sistema final.

Secciones de la CIP Física Electricidad

(08/08/2013). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE SANTIAGO DE COMPOSTELA. Clasificación: G06T7/00, H01L27/00.

La presente invención se refiere a un procesador de imágenes para la extracción de características que comprende un único chip no planar que contiene una pluralidad de sensores integrados y recursos de procesamiento distribuidos en dos o más capas adaptado a capturar cuadros de imágenes y extraer características de las imágenes. En una realización particular, el chip no planar es un circuito integrado CMOS-3D (CI CMOS- 3D) con una distribución vertical de los recursos de sensado y de procesado distribuidos en dos o más capas verticales de circuito integrado. El CI CMOS-3D implementa dos o más detectores de características en un único chip reutilizando una pluralidad de circuitos empleados para la obtención del gradiente y de puntos clave. Los detectores de características incluyen un detector invariante a transformaciones (SIFT), un detector de Harris y un detector basado en la matriz Hessiana.