CIP-2021 : G01N 23/20 : utilizando la difracción de la radiación por los materiales,

p. ej. para investigar la estructura cristalina; utilizando la dispersión de la radiación por los materiales, p. ej. para la investigación de materiales no cristalinos; utilizando la reflexión de la radiación por los materiales.

CIP-2021GG01G01NG01N 23/00G01N 23/20[1] › utilizando la difracción de la radiación por los materiales, p. ej. para investigar la estructura cristalina; utilizando la dispersión de la radiación por los materiales, p. ej. para la investigación de materiales no cristalinos; utilizando la reflexión de la radiación por los materiales.

G FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q).

G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00.

G01N 23/20 · utilizando la difracción de la radiación por los materiales, p. ej. para investigar la estructura cristalina; utilizando la dispersión de la radiación por los materiales, p. ej. para la investigación de materiales no cristalinos; utilizando la reflexión de la radiación por los materiales.

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Sistema de inspección de espacios de acceso limitado.

(08/01/2020) Un sistema de inspección de espacios de acceso limitado que comprende: un dispositivo de detección para detección en una región de dicho espacio de acceso limitado, un soporte para montar dicho dispositivo de detección para poder llevar a cabo un escaneo en dicho espacio de acceso limitado, y un subsistema de escaneo asociado con dicho dispositivo de detección, para controlar dicho dispositivo de detección para explorar alrededor de dicho espacio de acceso limitado, en donde dicho subsistema de escaneo comprende un subsistema de control de escaneo y un subsistema de actuación, en donde dicho soporte comprende una pista lineal, en…

Sistemas de inspección de tomografía de rayos X.

(04/12/2019) Sistema de escaneado de rayos X que comprende una fuente de rayos X dispuesta para generar rayos X desde una pluralidad de posiciones de fuente alrededor de una región de escaneado, un conjunto de detectores cilíndricos compuesto por una pluralidad de conjuntos circulares (422a, 422b) de detectores de dispersión dispuestos para detectar rayos X dispersados dentro de la región de escaneado, y un sistema de recogida de datos que comprende una memoria que tiene una pluralidad de áreas estando cada una asociada con un volumen secundario de un volumen de imágenes, medios de entrada de datos dispuestos para recibir datos de entrada desde los detectores de retrodispersión en una secuencia predeterminada, en el que el sistema comprende además una tabla de consulta que tiene entradas almacenadas…

Método y sistema para identificar un líquido.

(25/09/2019). Solicitante/s: TSINGHUA UNIVERSITY. Inventor/es: JIN, XIN, CHANG, MING, ZHANG, LI, CHEN,Zhiqiang, ZHAO,JI, YANG DAI,TIANYI.

Método para detección de líquido, que comprende: implementar una obtención de imágenes por TC y una obtención de imágenes por DRX en uno o más planos de líquido de líquido contenido en un recipiente al mismo tiempo haciendo rotar el recipiente de modo que rayos X procedentes de una misma fuente de radiación exploran una zona completa de cada uno del uno o más planos de líquido (S102); y generar un resultado de identificación de sustancia para el líquido contenido en el recipiente basándose en una imagen de TC y una imagen de DRX, en el que la obtención de imágenes por TC y la obtención de imágenes por DRX se implementan en un mismo plano de líquido o planos de líquido diferentes (S104).

PDF original: ES-2751664_T3.pdf

Sistemas de inspección de tomografía de rayos X.

(30/08/2017) Un sistema de escaneado de rayos X que comprende un escáner y medios de procesamiento, comprendiendo el escáner: una fuente de rayos X que tiene una pluralidad de unidades fuente que están separadas alrededor de una región de escaneado en una disposición substancialmente circular y pueden ser activadas individualmente, en el que cada unidad de fuente comprende una fuente de electrón y dos áreas de destino de diferentes materiales dispuestas para producir rayos X de dos espectros de energía diferentes; y detectores dispuestos para detectar los rayos X de cada una de las áreas de destino para producir dos salidas de escáner respectivas; en el que…

Procedimiento de medición de difracción de los rayos x, sus aplicaciones y dispositivo de implementación.

(03/05/2017). Solicitante/s: UNIVERSITE DE ROUEN. Inventor/es: COQUEREL, GERARD, SANSELME,MORGANE, LAFONTAINE,ANAÏS.

Procedimiento de medición de difracción de los rayos X, en el que se instala en un recipiente que comprende un fondo plano permeable a los rayos X, un compuesto que hay que analizar, y se procede a un análisis por difracción de los rayos X enviando un flujo de rayos X hacia arriba en dirección de dicho fondo permeable a los rayos X y midiendo el flujo de rayos X difractados reflejado hacia abajo, y caracterizado por que se proyecta hacia el fondo plano permeable a los rayos X, por el exterior del recipiente , un fluido termostático a la misma temperatura que la del compuesto que hay que analizar en el recipiente.

PDF original: ES-2634451_T3.pdf

DISPOSITIVO DE TOPE PARA HACES DE RADIACIÓN.

(02/02/2017). Solicitante/s: CONSORCI PER A LA CONSTRUCCIÓ, EQUIPAMENT I EXPLOTACIÓ DEL LABORATORI DE LLUM DE SINCROTRÓ. Inventor/es: COLLDELRAM PEROLIU,Carles, BENCHOMO GONZALEZ FERNANDEZ,Joaquin.

Dispositivo de tope para haces de radiación, que comprende: un tope para bloquear haces de radiación y un dispositivo de accionamiento asociado al tope para cambiar la posición del tope . El dispositivo de accionamiento comprende un primer elemento circular que define una circunferencia (C), un segundo elemento desplazable a lo largo de dicha circunferencia (C) y que puede girar a su vez alrededor de un eje perpendicular (X') con respecto al plano definido por la circunferencia (C) y un soporte que une el segundo elemento al tope , de modo que el desplazamiento del segundo elemento a lo largo de dicha circunferencia (C) y/o el giro de dicho segundo elemento permiten disponer el tope en distintas posiciones.

PDF original: ES-2599628_B1.pdf

PDF original: ES-2599628_A1.pdf

Procedimiento de detección de polimorfos que utiliza una radiación de sincrotrón.

(27/07/2016) Procedimiento para detectar la presencia y/o determinar la cantidad de una forma polimórfica no predominante de un compuesto polimórfico en presencia de una o más formas polimórficas predominantes, que comprende las etapas siguientes: (A) proporcionar una muestra que comprende dicho compuesto polimórfico en forma de polvo o en una forma sólida conformada o en una forma en la que el compuesto polimórfico sólido está en suspensión, dispersado o mezclado con un líquido; (B) proporcionar una información de referencia a partir del análisis de XRD sobre la posición de los picos de marcadores de dicha forma polimórfica no predominante de dicho compuesto en una gráfica estándar de intensidad frente a ángulo de dispersión en relación con los picos de dichas una o más formas polimórficas predominantes; (C) proporcionar…

Escaneo primario y secundario en inspección de tomografía muónica.

(27/04/2016) Un método para inspeccionar objetos basados en tomografía muónica usando muones producidos por rayos cósmicos que comprende: operar un primer escáner de tomografía muónica que incluye detectores de partículas cargadas de detección de posición para realizar un escaneo con imágenes de un objeto bajo inspección por una primera duración de toma de imágenes para obtener una primera imagen de tomografía muónica del objeto entero; procesar la primera imagen de tomografía muónica del objeto entero para obtener información dentro del objeto; estando dicho método caracterizado porque comprende además generar una señal de autorización cuando el procesamiento de la primera imagen…

Dispositivo de portal de inspección por rayos X.

(13/04/2016). Solicitante/s: AMERICAN SCIENCE AND ENGINEERING, INC.. Inventor/es: GRODZINS,LEE, ROTHSCHILD,PETER, ARODZERO,Anatoli, CALLERAME,Joseph, DINCA,Dan-cristian.

1. Dispositivo de portal de inspección por rayos X por formación de imágenes de arriba a abajo para inspeccionar un objeto dispuesto en una superficie subyacente, caracterizado porque el dispositivo de inspección por formación de imágenes de arriba abajo comprende un: a. una fuente de rayos X que sustancialmente apuntan hacia abajo; y b. un grupo de detectores lineales dispuesto dentro de una protuberancia por encima de la superficie subyacente, en el que el grupo de detectores lineales incluye detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda.

PDF original: ES-1154460_U.pdf

Dispositivo de portal de inspección por rayos X.

(13/04/2016) 1. Dispositivo móvil de inspección por rayos X para inspeccionar un objeto inspeccionado, caracterizado porque comprende: a. una fuente de radiación de rayos X dispuesta sobre un transportador que tiene una plataforma y miembros en contacto con el suelo; y b. un detector de centelleo acoplado mediante fibra desplegado fuera del transportador durante la operación de inspección para detectar los rayos X que han interactuado con el objeto inspeccionado. 2. Dispositivo móvil de inspección por rayos X de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado porque además comprende un detector de centelleo de tipo toldo acoplado mediante fibra desplegado por encima del objeto inspeccionado…

Dispositivo de inspección por Rayos X para inspeccionar los bajos de un vehículo.

(31/03/2016). Solicitante/s: AMERICAN SCIENCE AND ENGINEERING, INC.. Inventor/es: GRODZINS,LEE, ROTHSCHILD,PETER, ARODZERO,Anatoli, CALLERAME,Joseph, DINCA,Dan-cristian.

1. Dispositivo de inspección por rayos X para inspeccionar los bajos de un vehículo, caracterizado porque comprende: a. una fuente de rayos X que sustancialmente apuntan hacia arriba acoplada a un bastidor; y b. un detector de centelleo acoplado mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda dispuesto en el bastidor para detectar rayos X dispersados por el vehículo y por objetos escondidos debajo o dentro del vehículo. 2. Dispositivo de inspección por rayos X de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado porque el bastidor está adaptado para maniobrarse bajo el vehículo mediante al menos un motor y un control manual.

PDF original: ES-1153636_U.pdf

Aparato para detectar rayos X incidentes en el aparato.

(31/03/2016). Ver ilustración. Solicitante/s: AMERICAN SCIENCE AND ENGINEERING, INC.. Inventor/es: SUD,Rajen, SCHUBERT,Jeffrey, ROMMEL,Martin.

1. Aparato para detectar rayos X incidentes en el aparato, caracterizado porque comprende: a. una pluralidad de hojas de colimación activa sustancialmente paralelas que comprenden detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda sensibles a la radiación para generar al menos una primera señal de detección; y b. un detector posterior de zona amplia para detectar radiación de rayos X que pasa entre hojas de colimación activa sustancialmente paralelas de la pluralidad de hojas de colimación activa y generar una segunda señal de detección. 2. Aparato de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado porque además comprende: c. un procesador para recibir y procesar la primera y la segunda señales de detección.

PDF original: ES-1153640_U.pdf

Aparato para producir rayos X para su uso en imagenología.

(23/03/2016). Ver ilustración. Solicitante/s: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Inventor/es: TRAVISH,GIL, YODER,RODNEY B, ROSENZWEIG,JAMES.

Un aparato , que comprende: un cristal que tiene una superficie superior, siendo dicho cristal un cristal piroeléctrico o un cristal piezoeléctrico; una película conductora que recubre la superficie superior del cristal ; incluyendo dicho cristal una pluralidad de emisores de campo de electrones, comprendiendo los emisores de campo de electrones una región de escala micrométrica, teniendo la región uno o más picos o crestas afilados; y medios para controlar la temperatura del cristal cuando dicho cristal es un cristal piroeléctrico, o medios para controlar la tensión mecánica en el cristal cuando dicho cristal es un cristal piezoeléctrico, en el que dicho cristal y dichos emisores de campo de electrones se mantiene en un entorno de baja presión.

PDF original: ES-2569122_T3.pdf

Inspección de materiales por evaluación de la contribución de la dispersión de Bragg a los espectros de absorción de Rayos X.

(18/12/2015) Un método de obtención de datos de transmisión de la radiación de un objeto, que comprende las etapas de: proporcionar una fuente de radiación electromagnética ionizante de alta energía y un sistema detector de radiación (21; 3a, 3b, 3c) separado de ella para definir una zona de exploración (Z) entre ambos, siendo el sistema detector capaz de detectar y recoger información espectroscópicamente resoluble acerca de la radiación incidente; recoger un conjunto de datos de información acerca de la radiación incidente en el detector, y por ello de la transmisividad de un objeto en la zona de exploración, en al menos una y preferiblemente en una multiplicidad de posiciones de exploración a partir de la radiación…

Estructura cristalográfica de proteínas Mnk-1 y Mnk-2.

(26/11/2014) Cinasa Mnk-2 humana cristalina, que tiene un grupo espaciador P3221 y dimensiones de celda unitaria de a ≥ 4,5 Å ± 3 Å, b ≥ 104,5 Å ± 3 Å y c ≥ 72,35 Å ± 3 Å.

Inspección por rayos X con generación de imágenes de transmisión y retrodispersión contemporánea y próximal.

(14/05/2014) Un sistema para inspeccionar un objeto, comprendiendo el sistema: a. una primera fuente de radiación que emite un haz en abanico de radiación penetrante que, en uso, está siempre energizada; b. un conjunto segmentado de elementos detectores para medir la intensidad de radiación penetrante transmitida a través del objeto por la primera fuente de radiación; c. una segunda fuente de radiación que emite un haz de lápiz de barrido de radiación penetrante; d. por lo menos un detector de dispersión para detectar radiación penetrante dispersada del haz de lápiz de barrido por el objeto; y e. un procesador, una memoria, y un monitor, conteniendo la memoria instrucciones que provocan que el procesador: obtenga una señal de fondo del detector de dispersión tal que…

Procedimiento y dispositivo para la determinación en línea del contenido de cenizas de una sustancia transportada en un sistema transportador y dispositivo para llevar a cabo dicha determinación en línea.

(14/03/2013) Procedimiento para la determinación en línea del contenido de cenizas de una sustancia transportada en unacinta transportadora con una primera medición para la determinación del peso superficial de la sustancia y unasegunda medición para la determinación del número atómico medio de los átomos presentes en la sustancia, en elque para la determinación del peso superficial la muestra es irradiada con una radiación de rayos X ó gamma de altaenergía y para la determinación del número atómico medio la muestra es irradiada con una radiación de rayos Xo gamma de baja energía , caracterizado porque adicionalmente es realizada una medición de fluorescencia derayos X por medio de un detector de fluorescencia de rayos…

Manipulación automatizada de muestras para cristalografía de rayos.

(19/09/2012) Un procedimiento para montar una muestra que comprende un cristal para llevar a cabo un análisis por difracciónde rayos X, comprendiendo el procedimiento las etapas de: (a) proporcionar un soporte del cristal que contiene al menos un cristal; (b) proporcionar una herramienta capaz de recuperar dicho soporte del cristal ; (c) desplazar dicha herramienta mediante un robot ; (d) proporcionar un dispositivo de posicionamiento para montar dicho soporte del cristal de forma quedicho cristal esté en el camino de un haz de rayos X; y (e) activar dicho robot de forma que dicha herramienta recupere dicho soporte del cristal , reciba unacantidad suficiente de un fluido para mantener dicho cristal en dicho soporte del cristal a una temperaturaque no supere aproximadamente 160º K, transferir dicho soporte del cristal …

Furgoneta de inspección móvil por retrodispersión de rayos X.

(30/04/2012) Un sistema de inspección para inspeccionar un objeto , el sistema que comprende: a. un medio de transporte adjunto que tiene un cuerpo envolvente ; b. una fuente de radiación penetrante contenida totalmente dentro del cuerpo del medio de transporte adjunto para la generación de la radiación penetrante; c. un modulador espacial para formar la radiación penetrante en un haz para irradiar el objeto con un perfil de exploración variable con el tiempo; d. un m6dulo detector para generar una senal difusora en base a la radiación penetrante dispersada por los contenidos del objeto ; e. un controlador para averiguar una caracteristica especifica de los contenidos del objeto basada al menos en la senal dispersa;…

DIFRACTOMETRO Y PROCEDIMIENTO PARA ANALISIS POR DIFRACCION.

(27/09/2010) Difractómetro que comprende: - una unidad analítica que soporta una fuente de un haz de radiación, que tiene un eje de colimación ; y un detector de haz de radiación que tiene un eje de recepción , dichos ejes de colimación y recepción convergen en un centro del difractómetro , que está fijo con respecto a dicha unidad analítica ; - medios para desplazar dicha unidad analítica en el espacio; - medios (20, 20') para rotar dicha fuente y detector alrededor de dicho centro del difractómetro, de manera que dicho eje de colimación y dicho eje de recepción se mantienen en un plano ecuatorial, fijos con respecto a dicha primera unidad analítica ; común - una estructura de…

SCREENING DE LAS CONDICIONES DE CRISTALIZACION DE POLIMORFOS.

(21/09/2010) Procedimiento para detectar el polimorfismo de por lo menos un análito, que comprende proporcionar un conjunto de composiciones en un medio de soporte sólido, comprendiendo el medio de soporte sólido una pluralidad de celdas independientes, comprendiendo cada una de dichas composiciones por lo menos un análito, y provocando o permitiendo cada composición adoptar por lo menos una primera condición que posiblemente influya en la cristalización de las composiciones que se encuentran en las celdas con el medio de soporte sólido, y detectando cualquier cristalización en por lo menos una composición, determinando los espectros de difracción por rayos X en geometría de difracción de la transmisión en las celdas en las que se ha realizado la cristalización, comparando los espectros de difracción por rayos…

ELIMINACION DE CRUCES EN UN PORTICO DE INSPECCION POR RETRODISPERSION QUE COMPRENDA MULTIPLES GENERADORES ASEGURANDO QUE SOLO UN GENERADOR EMITA RADIACION AL MISMO TIEMPO.

(13/05/2010) Un sistema de inspección para inspeccionar un objeto en movimiento en una dirección con respecto al sistema de inspección, comprendiendo el sistema: (a) una primera fuente para proporcionar un primer haz de radiación penetrante con una sección transversal especificada; (b) un mecanismo de exploración por haces, el cual es una rueda interruptora perforada giratoria o un explorador electromagnético, para explorar con el primer haz en una dirección sustancialmente transversal a la dirección de movimiento del objeto; (c) una segunda fuente para proporcionar un segundo haz de radiación penetrante con una sección transversal especificada; (d) un mecanismo de exploración por haces, el cual es una rueda interruptora perforada giratoria o un explorador electromagnético, para explorar con el segundo…

PROCEDIMIENTO Y APARATO PARA LA CARACTERIZACION POR DIFRACCION DE RAYOS X DE UN MATERIAL CON FASE AMORFA.

(16/06/2007). Solicitante/s: LAFARGE. Inventor/es: WALENTA, GUNTHER, FULLMAN, THOMAS, WESTPHAL, TORSTEN, PILLMANN, HERBERT.

Procedimiento para la caracterización cualitativa y cuantitativa de un material que contiene al menos una parte amorfa mediante el análisis del espectro de difracción de rayos X en el que se analiza un espectro de difracción combinado del material y de un "patrón" cristalino con el método de Rietveld en un dispositivo informatizado, caracterizado porque se obtiene el espectro de difracción combinado mediante la combinación matemática lineal de un espectro de difracción medido del "patrón" cristalino con un espectro de difracción medido del material.

DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO PARA GENERAR UN ENTORNO DEFINIDO PARA MUESTRAS EN FORMA DE PARTICULAS.

(01/04/2006) Dispositivo para generar un entorno definido para muestras en forma de partículas con las siguientes características: - un elemento de soporte con un extremo de apoyo para una muestra en forma de partículas; - un dispositivo para generar una corriente de gas húmeda en un extremo de desembocadura del mismo, estando orientado el extremo de desembocadura al extremo de apoyo, presentando el dispositivo para generar la corriente de gas húmeda las siguientes características: - un dispositivo para facilitar un gas que presenta una primera temperatura y una primera humedad relativa, de manera que el gas posee una temperatura de punto de rocío; - un refrigerador para enfriar el gas a una…

PROCEDIMIENTO Y APARATO PARA LA DETERMINACION DE LA POSICION DE UN OBJETO ALARGADO CON RESPECTO A LA SUPERFICIE DE UN CUERPO INTERPUESTO MEDIANTE RADIACION ELECTROMAGNETICA.

(16/09/2004) Procedimiento para la determinación de la posición de un objeto alargado, relativamente estrecho con respecto a la superficie de un cuerpo interpuesto, preferiblemente a modo de placa delante de dicho objeto y orientado con respecto al mismo según un cierto ángulo, por medio de radiación electromagnética, particularmente radiación ionizante, para la guía del movimiento de un equipo de tratamiento asociado, particularmente para soldadura por láser, caracterizado porque: - desde el lado del cuerpo distante del objeto se dirige oblicuamente hacia el objeto por lo menos un haz de radiación colimado con precisión según un desplazamiento de aproximación en dirección longitudinal respecto al objeto y según…

CELDA DE FLUJO.

(16/03/2004) La invención tiene por objeto una cuba de circulación. Esta cuba comprende un mezclador que tiene unas entradas, primera y segunda, para recibir unos fluidos a mezclar. Dicha cuba también comprende una salida común de fluidos mezclados, así como también un cuerpo que define una cámara dotada de una entrada, unida a la salida del mezclador, y de una salida, así como también de medios para suministrar los fluidos a las entradas del mezclador, según caudales predeterminados. En al menos una pared de la cámara, está formada una ventana, a cuyo través se pueden observar los fluidos mezclados en el interior de esta última cámara. Las entradas y la salida del mezclador están interconectadas en una unión común y están dimensionadas de forma tal que, a los caudales predeterminados, el flujo del fluido presenta…

PREDICCION DE LAS RESISTENCIAS DEL CLINKER O COMENTO, UTILIZANDO FACTORES CRISTALOGRAFICOS DE SUS MINERALES CONSTITUYENTES, DETERMINADOS MEDIANTE DIFRACCION DE RX.

(01/05/2000). Solicitante/s: VARGAS MUÑOZ,MIGUEL.

Con el procedimiento presentado en esta patente, se calculan en pocos minutos las resistencias mecánicas que tendrá a 28 días el clinker o el cemento Portland, pudiendo utilizarse este procedimiento para el control del proceso de fabricación. Mediante difracción de RX se determinen las características estructurales de los minerales del clinker: Tamaño cristalino "D', Contenido de microtensiones en la red "T', y Coeficiente de variación estructural "DIF D', para lo cual, se efectúa sobre una muestra de polvo el barrido de dos picos de la zona de su espectro. A partir de los valores de las intensidades de difracción se calculan los factores cristalográficos por el método de la Varianza y con los datos obtenidos, junto con la composición mineralógica y la finura de molienda, se calculan automátícamente las resistencias siguiendo un programa de cálculo con ordenador.

DISPOSITIVO QUE CONTIENE UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE ACEROS PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE ALEACIONES METALICAS DE BASE HIERRO.

(01/02/1999). Ver ilustración. Solicitante/s: ACERINOX, S.A.. Inventor/es: FERNANDEZ DE CASTILLO Y VALDERRAMA,IGNACIO, BOTELLA ARBOLEDAS,JAIME, ALMAGRO BELLO, JUAN FRANCISCO.

DISPOSITIVO QUE CONTIENE UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE ACEROS PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE ALEACIONES METALICAS DE BASE HIERRO. EL DISPOSITIVO CONTIENE UN CONJUNTO DE ACEROS HOMOGENEOS QUIMICA Y ESTRUCTURALMENTE ADECUADOS PARA SU UTILIZACION COMO PATRONES EN MICROANALISIS CUANTITATIVO EDX-SEM, WDX-SEM Y EPMA. ESTOS ACEROS SE ELIGEN DE FORMA QUE CUBREN UN RANGO AMPLIO DE COMPOSICIONES QUIMICAS PARA LOS ELEMENTOS MAS IMPORTANTES EN LA INDUSTRIA DEL ACERO, DENTRO DE SUS RANGOS MAS USUALES DE UTILIZACION. EL DISPOSITIVO SE HA DISEÑADO PARA SU UTILIZACION CON SISTEMAS DE ANALISIS DE RAYOS X ACOPLADOS A MICROSCOPIOS SEM Y SISTEMAS DE MICROSONDA ELECTRONICA, EPMA, CONJUGANDO EL MATERIAL DE FABRICACION Y EL TAMAÑO OPTIMO. EL DISPOSITIVO INCLUYE UN ACCESORIO PARA MEDIR LA CORRIENTE DEL HAZ DE ELECTRONES. ESTE DISPOSITIVO TIENE APLICACION EN LA INDUSTRIA SIDERURGICA.

METODO PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE RAYOS X DE ALEACIONES METALICAS BASADO EN UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE LA ALEACION Y UN MODELO MATEMATICO DE AJUSTE.

(01/02/1999) METODO PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE RAYOS X DE ALEACIONES METALICAS BASADO EN UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE LA ALEACION Y UN MODELO MATEMATICO DE AJUSTE. EL METODO SE BASA EN LA APLICACION DE UN DISPOSITIVO QUE CONTIENE UN CONJUNTO DE ALEACIONES DE LA MISMA BASE METALICA, HOMOGENEAS QUIMICA Y ESTRUCTURALMENTE, ADECUADAS PARA SU UTILIZACION COMO PATRONES EN EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE LA ALEACION METALICA DE INTERES, EN SISTEMAS DE ANALISIS DE RAYOS X QUE UTILIZAN DETECTORES DE DISPERSION DE ENERGIAS (EDS), O DE DISPERSION DE LONGITUDES DE ONDAS (WDS), ACOPLADOS A UN MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO…

UN METODO PARA CLASIFICAR ARTICULOS HECHOS DE MATERIALES DIELECTRICOS.

(01/01/1977). Solicitante/s: OWENS-ILLINOIS INC..

Resumen no disponible.

UN APARATO MEJORADO PARA MEDIR EL ESPESOR DE UN ARTICULO FORMADO DE UN MATERIAL DIELECTRICO.

(16/03/1976). Solicitante/s: OWENS-ILLINOIS INC..

Resumen no disponible.

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .