METODO PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE RAYOS X DE ALEACIONES METALICAS BASADO EN UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE LA ALEACION Y UN MODELO MATEMATICO DE AJUSTE.
METODO PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE RAYOS X DE ALEACIONES METALICAS BASADO EN UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE LA ALEACION Y UN MODELO MATEMATICO DE AJUSTE.
EL METODO SE BASA EN LA APLICACION DE UN DISPOSITIVO QUE CONTIENE UN CONJUNTO DE ALEACIONES DE LA MISMA BASE METALICA, HOMOGENEAS QUIMICA Y ESTRUCTURALMENTE, ADECUADAS PARA SU UTILIZACION COMO PATRONES EN EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE LA ALEACION METALICA DE INTERES, EN SISTEMAS DE ANALISIS DE RAYOS X QUE UTILIZAN DETECTORES DE DISPERSION DE ENERGIAS (EDS), O DE DISPERSION DE LONGITUDES DE ONDAS (WDS), ACOPLADOS A UN MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO (SEM) O A UNA MICROSONDA ELECTRONICA (EPMA). EMPLEANDO DICHO DISPOSITIVO SE CALIBRA EL SISTEMA DE ANALISIS, SE PREPARA LA MUESTRA A ANALIZAR, SE OBTIENEN LAS INTENSIDADES NETAS DE CADA ELEMENTO Y SE INTRODUCEN LOS VALORES DE LAS INTENSIDADES NETAS EN UNA ECUACION DE AJUSTE QUE RELACIONA MATEMATICAMENTE LAS INTENSIDADES DE LOS ELEMENTOS CON LA COMPOSICION CENTESIMAL PARA CALCULAR LA COMPOSICION DE LA MUESTRA PROBLEMA. ESTE METODO TIENE APLICACION EN LA INDUSTRIA SIDERURGICA.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ACERINOX, S.A..
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: CÁDIZ.
Inventor/es: FERNANDEZ DE CASTILLO Y VALDERRAMA,IGNACIO, BOTELLA ARBOLEDAS,JAIME, ALMAGRO BELLO, JUAN FRANCISCO.
Fecha de Solicitud: 7 de Mayo de 1996.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 4 de Diciembre de 1998.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/20 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › utilizando la difracción de la radiación por los materiales, p. ej. para investigar la estructura cristalina; utilizando la dispersión de la radiación por los materiales, p. ej. para la investigación de materiales no cristalinos; utilizando la reflexión de la radiación por los materiales.
- G01N23/225 G01N 23/00 […] › utilizando microsondas electrónicas o iónicas.
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