(08/06/2016) Un sistema para interpretar una radiación de terahercios, comprendiendo el sistema : un transmisor de terahercios que está configurado para emitir un pulso de radiación de terahercios a través de un primer acceso ; un receptor de terahercios que está configurado para recibir al menos una porción del pulso de radiación de terahercios a través del primer acceso , en el que el receptor de terahercios está configurado para emitir una señal en función de la radiación recibida por el receptor de terahercios ; una primera interfase óptica que proporciona una interferencia óptica al pulso de radiación de terahercios, en el que la primera…

(19/08/2015) Un método de reconocimiento visual para su uso con una máquina etiquetadora de productos automática y de alta velocidad, en el que un transportador suministra artículos de producción a lo largo de un eje A-A hacia dicha máquina etiquetadora, en el que cada artículo de producción tiene una porción de domo (131a) de su superficie que se encuentra en la máxima altura de la superficie de dicho artículo de producción por encima de dicho transportador, comprendiendo las etapas de: generar una lámina de luz desde una fuente de láser u otra fuente de luz de alta intensidad, dirigir dicha lámina de luz transversalmente a dicho eje A-A de dicho transportador, provocar que dicha lámina de luz…

(10/06/2015) Aparato para medir de manera óptica mediante interferometría el grosor de un objeto que presenta una superficie externa y una superficie interna opuesta con respecto a la superficie externa , incluyendo el aparato : una fuente de radiación que emite un haz de baja coherencia de radiaciones (I) compuesto por una pluralidad de longitudes de onda en una banda determinada; un espectrómetro que analiza el espectro del resultado de la interferencia entre radiaciones (R1) que son reflejadas por la superficie externa que no entran en el objeto y radiaciones (R2) que son reflejadas por la superficie interna que entran en el objeto ; una sonda óptica que está conectada mediante fibras ópticas a la fuente de radiación y al…

(14/01/2015) Un método para medir los espesores de una pared de un objeto transparente , en particular, un objeto curvado, comprendiendo dicha pared : un material transparente (35a), una interfase proximal dispuesta entre un entorno externo y dicho material transparente (35a) y una interfase distal dispuesta entre dicho material transparente (35a) y dicho entorno en posición opuesta a dicha interfase proximal , proporcionando dicho método las etapas de: - predisponer una radiación de luz inicial ; - enfocar dicha radiación de luz inicial obteniendo una radiación de luz entrante dirigida hacia dicha pared de modo que dicha radiación de luz entrante : - incida sobre dicha interfase proximal de dicha pared , - sea reflejada, en parte, por dicha interfase proximal con el fin de generar una primera radiación…

(31/12/2014) Procedimiento para medir de manera óptica mediante interferometría el grosor de un objeto que presenta una superficie externa y una superficie interna opuesta con respecto a la superficie externa, incluyendo el procedimiento las etapas de: emitir un haz de baja coherencia de radiaciones compuesto por una pluralidad de longitudes de onda en una banda determinada mediante al menos una fuente de radiación; dirigir el haz de radiaciones sobre la superficie externa del objeto mediante al menos una sonda óptica; captar las radiaciones que son reflejadas por el objeto mediante dicha al menos una sonda óptica; analizar mediante al menos un espectrómetro el espectro del resultado de la interferencia entre radiaciones que son reflejadas por la superficie externa que no entran en el objeto y radiaciones que son reflejadas por la superficie interna que entran…

(03/12/2014) Procedimiento de inspección para desvelar defectos de distribución de material en recipientes transparentes que presentan un eje central (A) y una pared delimitada entre una cara exterior y una cara interior , consistiendo el procedimiento, para una serie de puntos de inspección (hi) distribuidos sobre una región de inspección , por un lado, de manera superpuesta según una altura determinada del recipiente tomada según el eje central (A), y por otro lado, según la circunferencia del recipiente: - en enviar por lo menos un haz luminoso sobre la pared del recipiente según un ángulo tal que una parte del haz luminoso sea reflejada por la cara exterior de la pared y que una parte del haz sea refractada…

(23/04/2014) Método para medir ópticamente por interferometría el espesor (T) de un objeto ; incluyendo el método las etapas de: llevar a cabo por interferometría óptica una pluralidad de lecturas del espesor (T) del objeto para obtener por lo menos un valor de espesor aproximado (RTW) de cada lectura y, en consecuencia, una pluralidad de valores de espesor aproximados (RTW); y determinar el valor real del espesor (T) del objeto mediante el análisis de la pluralidad de valores de espesor aproximados (RTW); estando el método caracterizado por que este incluye las etapas de: definir un intervalo de variabilidad de los valores de espesor aproximados (RTW) que es lo bastante amplio para comprender por lo menos una parte significativa de los valores de espesor…

(17/10/2013) Instalación de pintado para el pintado en serie de componentes , en especial de carrocerías de vehículosautomóviles, con a) por lo menos una celda de pintado , en la que los componentes son revestidos con una pinturacon un grosor de capa (dIST) determinado, b) por lo menos una celda de medición para la medición del grosor de la capa (dIST) de la pintura sobre loscomponentes mediante por lo menos una fuente de radiación para la 10 irradiación de loscomponentes revestidos y con por lo menos un detector de radiación para la detección de laradiación reflejada por los componentes irradiados, para determinar a partir de ella el grosor de la capa(dIST), así como con c) un recorrido de transporte , a lo largo del cual…

(16/07/2013) Procedimiento de medición sin contacto de un objeto tridimensional , siendo este objeto tridimensionaltraslúcido o transparente respecto de una luz visible, estando este procedimiento caracterizado porque: con la ayuda de las leyes de Snell-Descartes relativas a la propagación de la luz visible a través del objeto, seestablece una ecuación que asocia parámetros optogeométricos del objeto con el resultado de una observaciónefectuada directamente en una imagen del objeto, comprendiendo esta imagen un anillo luminoso y siendocapturada observando este objeto con la luz visible, por ombroscopia óptica de una sola vista, conteniendo laecuación el radio…

(09/04/2013) Un dispositivo de medición para determinar la superficie de un objeto que se está midiendo utilizandoradiación óptica, comprendiendo el dispositivo de mediciónuna parte de transmisor y una parte de receptor que están separadas una de la otra, yla parte de transmisor comprende una fuente óptica ; una primera parte de tratamiento de la radiación óptica en una unidad de tratamiento de la radiación óptica ; estando dispuesta la primera parte de tratamiento de la radiación óptica para dirigir la radiación óptica alobjeto que se está midiendo ; comprendiendo la primera parte de tratamiento de…

(20/03/2013) Dispositivo de medición interferométrico para medir un objeto de medición , en especial para medir elgrosor del objeto de medición , con una fuente luminosa , un divisor de haz para formar hacesde referencia y haces de objeto , un espejo de referencia en el recorrido luminoso dereferencia , un objetivo especial que presenta una disposición especular en el recorridoluminoso de objeto y un captador de imágenes , en donde la disposición especular secompone de al menos un primer y de un segundo espejo desviador y estos están dispuestos de talmodo, que en uso los haces de objeto que inciden sobre el primer o sobre el segundo espejodesviador están dirigidos sobre un primer o un segundo lado paralelo al mismo del objeto demedición…

(09/05/2012) Dispositivo para medir ópticamente la superficie de un producto sometido a ensayo, especialmente un producto de peB para inspección de pasta de soldadura de reflujo, que comprende al menos una fuente de luz blanca para emitir un haz de luz blanca, al menos una unidad de colimación para colimar dicho haz de luz blanca, al menos una unidad de espectrómetro, preferentemente un prisma óptico o un graduador de difracción óptica, para dividir dicho haz de luz blanca dando un haz de luz multicromática que se dirige sobre dicho producto sometido a ensayo bajo un ángulo V incidente predeterminado, y al menos una cámara para registrar un haz reflejado de una luz monocromática de dicho producto sometido a ensayo, estando el dispositivo dispuesto de tal forma que una información de altura de…

(16/04/2010) Un aparato para inspeccionar el grosor de la pared lateral de un recipiente transparente no redondo, el cual incluye: un transportador para retener un recipiente en posición estacionaria, y haciendo rotar el recipiente alrededor de un eje , una fuente luminosa para dirigir la energía luminosa sobre una pared lateral de un recipiente sobre el mencionado transportador, un sensor de luz para detectar la energía luminosa reflejada desde las porciones de las superficies interior y exterior de la pared lateral del recipiente, y un procesador de información sensible al mencionado sensor para determinar el grosor de la pared lateral en incrementos de la rotación del recipiente como una función de la separación en el mencionado sensor entre las energías luminosas reflejadas desde las superficies interior y exterior…

(05/03/2010) Dispositivo para determinar la altura de una cámara de aire, con - una cámara de aire, - un sensor de altura y - una unidad de control conectada con el sensor de altura, caracterizado porque - el sensor de altura presenta un elemento de grabación de imágenes , - la cámara de aire está provista, en la superficie interior de su lado superior, de una multitud de puntos de marcado , - el elemento de grabación de imágenes está orientado en dirección hacia el lado superior de la cámara de aire y - la unidad de control determina, a partir de la señal de salida del elemento de grabación de imágenes, la cantidad de puntos de marcado registrados…

(16/04/2006) Un monitor de proceso para determinar parámetros de proceso durante un proceso de grabado por plasma de una oblea, comprendiendo el monitor de proceso: una lámpara de destellos que emite radiación óptica de banda ancha; un módulo de formación de haces operable para colimar la radiación óptica emitida por la lámpara de destellos sobre el oblea y para enfocar la radiación óptica reflejada por el oblea; un espectrógrafo que responde a la radiación óptica reflejada por el oblea; y un elemento de procesado de datos para procesar una primera señal y una segunda señal procedente del espectrógrafo, siendo representativa la primera señal de radiación óptica reflejada por el oblea cuando la lámpara de destellos está emitiendo radiación óptica de banda ancha, la segunda…

(16/10/2005) Procedimiento para la determinación del perfil transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda de material continua a) en el cual con ayuda de una unidad de medición se determina en al menos dos puntos de medición espesores de banda (D), donde los puntos de medición están colocados transversalmente a la dirección de avance de la banda y distanciados entre sí, b) en el cual se fija la posición longitudinal del perfil longitudinal del espesor a determinar a lo largo de la dirección de avance de la banda, c) en el cual el espesor de la banda (Do) se mide directamente en la posición longitudinal por la unidad de medición y se ajusta a cero el valor de un valor de corrección (-K), d) en el cual se ajusta la unidad de medición transversalmente a la dirección de avance de la banda y se determina la magnitud del ajuste (-P) en relación…

(01/11/2004) Dispositivo de medición elipsómetro para la determinación del espesor de una capa aplicada sobre un substrato con una fuente de luz que emite un rayo de entrada , con una óptica de emisión, que conduce el rayo de entrada polarizado hacia un punto de incidencia (P) del substrato, y con una óptica de recepción, que presenta un analizador y que conduce el rayo de reflexión , formado en el punto de incidencia (P), hacia una instalación de foto-receptores , siendo modificada la dirección de polarización del rayo de entrada y del analizador relativamente entre sí en el tiempo y siendo evaluadas las modificaciones de la intensidad…

(01/01/2004) METODO PARA MEDIR EL GROSOR DE PIEZAS OVALADAS Y DESPLAZADAS EN LA DIRECCION DE SU EJE LONGITUDINAL DESDE UNA POSICION ANGULAR LIBRE Y MODIFICABLE, QUE SE CARACTERIZA POR INCLUIR LAS SIGUIENTES FASES: SE MIDEN LOS VALORES DEL GROSOR DE LA PIEZA A LO LARGO DE UNA ZONA DE ANGULO DE GIRO PREFIJADO Y DE FORMA SIMULTANEA CON TRES SISTEMAS DE MEDIDA QUE GIRAN JUNTOS ALREDEDOR DEL EJE LONGITUDINAL DE LA PIEZA Y A LO LARGO DE LOS TRES EJES DE MEDIDA (PRINCIPAL Y AUXILIARES) DECALADOS ENTRE SI EN UN ANGULO PEQUEÑO. LAS MEDIDAS DEL GROSOR SE ENVIAN A UN ORDENADOR QUE, A PARTIR DE LAS MISMAS, CALCULA EL VALOR MINIMO Y EL VALOR MAXIMO. LOS SISTEMAS DE MEDIDA SE GIRAN HASTA UNA POSICION (POSICION CERO DE MEDIDA) EN LA QUE LOS EJES DE MEDIDA…

(01/04/2003) Procedimiento para la medición sin contacto del espesor de pared de objetos de medición transparentes utilizando fuentes luminosas )11; 21), lentes, espejos o prismas de desviación, espejos semitransparentes así como sensores de líneas y un controlador , caracterizado - porque varios haces de rayos de luz difusa, emitidos en diferentes direcciones, desde una primer superficie luminosa son colimados en primer lugar y a continuación son enfocados bajo diferentes ángulos de incidencia con respecto a la normal de la superficie sobre la superficie del objeto de medición para formar una primera superficie de medición…