Sistema para el cálculo de propiedades de material usando radiación de terahercios de reflexión y una estructura de referencia externa.

Un sistema (10, 510, 610, 710, 810, 910, 1010, 1110, 1210, 1310) para interpretar una radiación de terahercios,

comprendiendo el sistema (10, 510, 610, 710, 810, 910, 1010, 1110, 1210, 1310):

un transmisor de terahercios (14, 514, 614, 714, 814, 914, 1014, 1114, 1214, 1314) que está configurado para emitir un pulso de radiación de terahercios (34, 534, 634, 734, 834, 1034, 1134, 1234, 1334) a través de un primer acceso (40, 540, 640, 740, 840, 940, 1240, 1340);

un receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316) que está configurado para recibir al menos una porción del pulso de radiación de terahercios (36, 536, 636, 736, 836, 1036, 1136, 1236, 1336) a través del primer acceso (40, 540, 640, 740, 840, 940, 1240, 1340), en el que el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316) está configurado para emitir una señal en función de la radiación recibida por el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316);

una primera interfase óptica (42, 542, 642, 742, 842, 1042, 1142, 1242, 1342) que proporciona una interferencia óptica al pulso de radiación de terahercios, en el que la primera interfase óptica (42, 542, 642, 742, 842, 1042, 1142, 1242, 1342) reflejará una primera porción reflejada de interfase óptica del pulso de radiación de terahercios hacia el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316);

una segunda interfase óptica (44, 544, 644, 744, 844, 944, 1044, 1144, 1244, 1344) que proporciona una interferencia óptica al pulso de radiación de terahercios, en el que la segunda interfase óptica (44, 544, 644, 744, 844, 944, 1044, 1144, 1244, 1344) reflejará una segunda porción reflejada de interfase óptica del pulso de radiación de terahercios hacia el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316); estando definida una separación entre la primera interfase óptica (42, 542, 642, 742, 842, 1042, 1142, 1242, 1342) y la segunda interfase óptica (44, 544, 644, 744, 844, 944, 1044, 1144, 1244, 1344), estando la separación configurada para recibir una muestra (30, 530, 630, 730, 830, 930, 1030, 1130, 1230, 1330) que va a ser irradiada por al menos una porción del pulso de radiación de terahercios;

en el que la muestra (30, 530, 630, 730, 830, 930, 1030, 1130, 1230, 1330) reflejará una primera porción reflejada de muestra del pulso de radiación de terahercios hacia el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316) y una segunda porción reflejada de muestra del pulso de radiación de terahercios hacia el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316);

en el que el transmisor de terahercios (14, 514, 614, 714, 814, 914, 1014, 1114, 1214, 1314) y el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316) están dispuestos adyacentes entre sí en una carcasa (12, 512, 612, 712, 812, 912, 1012, 1112, 1212, 1312);

un procesador en comunicación con el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316) y que está configurado para recibir la señal a partir del receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316), estando el procesador configurado para determinar el espesor de calibrador, la densidad, el índice de refracción o la masa de la muestra en función de la señal

caracterizado por que

el sistema (10, 510, 610, 710, 810, 910, 1010, 1110, 1210, 1310) comprende un dispositivo de división de haces (32, 532, 632, 732, 832, 932, 1032, 1132, 1232) que está configurado para dirigir una radiación de terahercios a partir del transmisor de terahercios (14, 514, 614, 714, 814, 914, 1014, 1114, 1214, 1314) hacia la primera interfase óptica (42, 542, 642, 742, 842, 1042, 1142, 1242, 1342), la muestra (30, 530, 630, 730, 830, 930, 1030, 1130, 1230, 1330) y la segunda interfase óptica (44, 544, 644, 744, 844, 944, 1044, 1144, 1244, 1344) así como para dirigir una radiación de terahercios a partir de la primera interfase óptica (42, 542, 642, 742, 842, 1042, 1142, 1242, 1342), la muestra (30, 530, 630, 730, 830, 930, 1030, 1130, 1230, 1330) o la segunda interfase óptica (44, 544, 644, 744, 844, 944, 1044, 1144, 1244, 1344) que se transmitió originalmente a partir del transmisor de terahercios (14, 514, 614, 714, 814, 914, 1014, 1114, 1214, 1314) hacia el receptor de terahercios (16, 516, 616, 716, 816, 916, 1016, 1116, 1216, 1316); y

el primer acceso (40, 540, 640, 740, 840, 940, 1240, 1340) comprende una lente (38, 538, 638, 738, 938, 1038, 1138, 1238), estando la lente (38, 538, 638, 738, 938, 1038, 1138, 1238) configurada para enfocar la radiación de terahercios (34, 534, 634, 734, 834, 1034, 1134, 1234, 1334) enviada a o la radiación de terahercios (36, 536, 636, 736, 836, 1036, 1136, 1236, 1336) enviada a partir de la muestra (30, 530, 630, 730, 830, 930, 1030, 1130, 1230, 1330) a través del primer acceso (40, 540, 640, 740, 840, 940, 1240, 1340).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2013/065671.

Solicitante: PICOMETRIX, LLC.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 2925 BOARDWALK ANN ARBOR, MI 48104 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: WHITE, JEFFREY S., ZIMDARS,David.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/06 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida del espesor.
  • G01B9/04 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Microscopios de medida.
  • G01N21/35 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › utilizando la luz infrarroja (G01N 21/39 tiene prioridad).
  • G01N21/84 G01N 21/00 […] › Sistemas especialmente adaptados a aplicaciones particulares.
  • G01N21/89 G01N 21/00 […] › en un material móvil, p. ej. del papel, de tejidos (G01N 21/90, G01N 21/91, G01N 21/94 tienen prioridad).

PDF original: ES-2647469_T3.pdf

 

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