CIP-2021 : G01B 11/06 : para la medida del espesor.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.
G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
G01B 11/06 · · para la medida del espesor.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
(16/02/2000). Ver ilustración. Solicitante/s: ACCU-SORT SYSTEMS, INC. Inventor/es: WURZ, ALBERT, ROMAINE, JOHN, E., MARTIN, DAVID, L.
LA INVENCION PRESENTE PROPORCIONA UN SISTEMA DE DIMENSIONAMIENTO PARA DETERMINAR EL TAMAÑO MINIMO DE UNA CAJA, LA CUAL SE NECESITA PARA CONTENER A UN OBJETO QUE SE ESTA DESPLAZANDO EN UN TRANSPORTADOR EN MOVIMIENTO. EL SISTEMA DE DIMENSIONAMIENTO ESTA COMPUESTO POR UNA FUENTE DE LUZ, LA CUAL GENERA UN HAZ DE EXPLORACION QUE SE MUEVE MEDIANTE UNA RUEDA REFLECTORA. UNA CAMARA DE EXPLORACION DE LINEAS, CUYO CAMPO DE VISION REGISTRA EL HAZ DE EXPLORACION QUE ESTA EN MOVIMIENTO, RECIBE LAS IMAGENES DEL HAZ DE EXPLORACION Y PRODUCE UNA SEÑAL, LA CUAL SE PROCESA PARA CALCULAR UNA ESTRUCTURA TRIDIMENSIONAL DE LA CAJA DEL OBJETO QUE SE HA EXPLORADO.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA COMPROBACION FOTOTERMICA DE PIEZAS.
(16/07/1999). Solicitante/s: WAGNER INTERNATIONAL AG. Inventor/es: PREKEL, HELMUT, ADAMS, HORST, DR.
LA INVENCION PROPONE UN PROCEDIMIENTO PARA PRUEBA DE PIEZAS DE TRABAJO, DONDE SE DIRIGE UN RAYO DE EXCITACION ELECTROMAGNETICA SOBRE UN PUNTO DE MEDICION DESEADO EN LA SUPERFICIE DE LA PIEZA DE TRABAJO Y DONDE SE REGISTRA Y SE VALORA EL CALOR GENERADO POR EL RAYO (S) DE EXCITACION EN EL PUNTO DE MEDICION EN FORMA DE RADIACION TERMICA MEDIANTE UN DISPOSITIVO DE MEDICION, Y DONDE SE DIRIGEN DOS RAYOS (P1, P2) DE LOCALIZACION VISIBLES, QUE SE CORTAN EN UN PUNTO DE CORTE SOBRE LA SUPERFICIE DE LA PIEZA DE TRABAJO Y SE CORRIGE LA POSICION RELATIVA DE LA PIEZA DE TRABAJO Y EL DISPOSITIVO DE MEDICION DE TAL MODO, QUE EL PUNTO DE CORTE Y EL PUNTO DE MEDICION INCIDEN CONJUNTAMENTE SOBRE LA SUPERFICIE DE LA PIEZA DE TRABAJO. SE HA PREVISTO ADEMAS UN DISPOSITIVO CORRESPONDIENTE PARA PRUEBAS FOTOQUIMICAS DE PIEZAS DE TRABAJO, CON EL QUE PUEDE SER REALIZADO EL PROCEDIMIENTO.
PROCEDIMIENTO DE MEDIDA DEL ESPESOR DE UN MATERIAL TRANSPARENTE.
(16/03/1999). Solicitante/s: SGCC. Inventor/es: ZHANG, JINGWEI, GRENTE, PASCAL.
EL PROCESO SE CARACTERIZA EN QUE EMITE UN HAZ LUMINOSO DE FRECUENCIA OPTICA MODULADA, EN QUE SE RECEPCIONAN DOS HACES O RAYOS LUMINOSOS (I, J) DEVUELTOS POR CADA UNA DE LAS SUPERFICIES DE UNA PARED DEL MATERIAL, EN QUE SE CREA UNA INTERFERENCIA ENTRE ESTOS (I.J) Y EN QUE SE DETERMINA LA DIFERENCIA DE OPERACION {DE} DE LA SEÑAL DE INTERFERENCIA. SE UTILIZA UN DIODO LASER COMO FUENTE DE ILUMINACION, ESTE SE MODULA POR UNA MODULACION DE LA FRECUENCIA OPTICA DEL HAZ. ENTRE LOS RAYOS DIFUNDIDOS POR LAS DOS PAREDES, SE SELECCIONAN DOS RAYOS PARALELOS. EL DISPOSITIVO DE LA INVENCION PERMITE EFECTUAR SOBRE CADA DETECTOR MEDICIONES SEPARADAS DE 0,3 MSEC. SE PUEDE ASI EXPLORAR TODOS LOS MILIMETROS DE LA PERIFERIA DE UNA BOTELLA EN ROTACION. APLICACION EN LAS BOTELLAS DE VIDRIO O DE PLASTICO CLARAS O COLOREADAS Y EN EL VIDRIO PLANO.
DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO DE MEDIDA SIN CONTACTO DE REVESTIMIENTOS INTERNOS DE TUBERIAS DE FUNDICION.
(16/05/1998). Solicitante/s: PONT-A-MOUSSON S.A.. Inventor/es: MULLER, JEAN-MARIE, RENARD, CHRISTOPHE, ROWDO, CLAUDE.
ESTE DISPOSITIVO COMPRENDE UN BLOQUE (BC2) DE DOS DETECTORES, CUYO PRIMER DETECTOR (1A) MIDE LA DISTANCIA A LA SUPERFICIE METALICA DEL TUBO Y EL SEGUNDO DETECTOR (3A) MIDE LA DISTANCIA A LA SUPERFICIE DEL REVESTIMIENTO, SIENDO EL PRIMER DETECTOR (1A) UN DETECTOR DE CORRIENTES DE FOUCAULT, Y SIENDO EL SEGUNDO DETECTOR (3A) UN DETECTOR DE DIODO LASER. ESTE DISPOSITIVO COMPRENDE ADEMAS UN SEGUNDO BLOQUE (BC1) DE DETECTORES IDENTICO AL BLOQUE (BC2) QUE CALIBRA EL DETECTOR DE CORRIENTES DE FOUCAULT (1A) DEL PRIMER BLOQUE (BC2) SOBRE LA SUPERFICIE METALICA DEL TUBO NO REVESTIDO. ESTOS DOS BLOQUES DE DETECTORES (BC1 Y BC2) ESTAN CONECTADOS A MEDIOS DE TRATAMIENTO DE LAS MEDICIONES PROPORCIONADAS POR LOS DETECTORES.
MEDICION DEL GROSOR DE PAREDES DE CONTENEDORES TRANSPARENTES.
(01/10/1997) APARATO PARA MEDIR EL GROSOR DE PAREDES LATERALES DE CONTENEDORES TRANSPARENTES , INCLUYENDO UNA FUENTE PARA DIRIGIR UN HAZ LUMINOSO SOBRE LA SUPERFICIE EXTERIOR DE LA PARED LATERAL DEL CONTENEDOR, EN UN ANGULO TAL QUE UNA PORCION DEL HAZ DE LUZ SE REFLEJA DESDE LA OTRA SUPERFICIE EXTERIOR DE PARED LATERAL, Y UNA PORCION SE REFRACTA DENTRO DE LA PARED LATERAL DEL CONTENEDOR, REFLEJADA DESDE LA SUPERFICIE DE LA PARED LATERAL INTERIOR, EMERGIENDO DESPUES DESDE LA OTRA SUPERFICIE DE PARED LATERAL EXTERIOR. SE DISPONE UNA LENTE ENTRE UN SENSOR DE LUZ DE UN ARRAY LINEAL Y LA PARED DEL CONTENEDOR, PARA ENFOCAR LA ENERGIA LUMINOSA REFLEJADA DESDE LAS SUPERFICIES EXTERIOR E INTERIOR DE PAREDES LATERALES SOBRE EL SENSOR.…
PROCEDIMIENTO PARA SUPERVISAR EL ESPESOR DE UN REVESTIMIENTO, Y APARATO PARA LLEVAR A CABO DICHO PROCEDIMIENTO.
(16/05/1997) PROCEDIMIENTO PARA SUPERVISAR EL ESPESOR DE UN REVESTIMIENTO, Y APARATO PARA LLEVAR A CABO DICHO PROCEDIMIENTO. EL PROCEDIMIENTO COMPRENDE DIRIGIR LUZ POLICROMATICA HACIA EL REVESTIMIENTO EN UNA PLURALIDAD DE POSICIONAR Y MEDIR LA INTENSIDAD DE LA LUZ REFLEJADA DEL MISMO. EN CADA POSICION, SE MIDE LA INTENSIDAD DE LUZ REFLEJADA PARA POR LO MENOS DOS LONGITUDES DE ONDA DE SUPERVISION DISCRETAS, Y ESTAS MEDICIONES SE PROCESAN PARA GENERAR UNA SEÑAL ELECTRICA QUE PUEDE COMPARARSE CON UNO O MAS VALORES UMBRAL PREDETERMINADOS Y CON LAS SEÑALES ELECTRICAS GENERADAS EN OTRAS POSICIONES, PARA PROPORCIONAR UNA INDICACION DE SI EL ESPESOR Y LA UNIFORMIDAD DEL REVESTIMIENTO SE ENCUENTRAN COMPRENDIDOS ENTRE VALORES DE TOLERANCIA PREDETERMINADOS. LAS DOS LONGITUDES DE ONDA DE SUPERVISION DISCRETAS…
DISPOSITIVO Y METODO DE CONTROL NO DESTRUCTIVO Y CONTINUO DE UNA VARIACION DEL ESPESOR DE PERFILES.
(16/11/1996). Solicitante/s: INSTITUT FRANCAIS DU PETROLE. Inventor/es: MARTIN, JOSEPH.
DISPOSITIVO DE MEDICION Y/O DE CONTROL NO DESTRUCTIVO Y CONTINUO DEL ESPESOR DE UN PERFIL QUE COMPRENDE EN COMBINACION: A) AL MENOS UN MEDIO DESTINADO A CREAR UNA VARIACION DE TEMPERATURA DE DICHO PERFIL, B) AL MENOS UN MEDIOS DE DETECCION Y DE MEDICION DE LA RADIACION EMITIDO POR DICHO PERFIL A LO LARGO DE LA TRANSICION TERMICA Y (C) AL MENOS UN MEDIO QUE PERMITE A DICHO MEDIO DE DETECCION Y DE MEDICION DE LA RADIACION EMITIDA BARRER TODA LA SUPERFICIE DEL PERFIL. DICHO MEDIO DE DETECCION Y DE MEDICION ESTA CONECTADO A UN SISTEMA INFORMATICO QUE COMPRENDE UN PROGRAMA DE TRATAMIENTO DE IMAGENES, UN MEDIO DE GRABACION DE LA RADIACION EMITIDA Y UNA PANTALLA DE VISUALIZACION.
CONTROL DE OBSTRUCCION DE PELICULA EN UNA CORRIENTE DE PROCESO.
(01/05/1996). Solicitante/s: NALCO CHEMICAL COMPANY. Inventor/es: BANKS, RODNEY H., WETEGROVE, ROBERT L.
METODO Y APARATO PARA DETERMINAR EL ESPESOR DE PELICULA ACUMULADO EN EL DIAMETRO INTERNO DE UN CONDUCTO DE CORRIENTE PRINCIPAL CONDUCIENDO UNA CORRIENTE PRINCIPAL DE UN FLUIDO EMPLEANDO: UN CONDUCTO DERIVADO TRANSPARENTE PARA DERIVAR DE LA CORRIENTE PRINCIPAL UNA CORRIENTE DE MUESTRA DEL FLUIDO DE PROCESO, UN EMISOR DE LUZ DE REFERENCIA Y DETECTOR DE LUZ EN UNA SECCION DE REFERENCIA DE LA DERIVACION DONDE SE RETIRA CUALQUIER PELICULA APRECIABLE, UN EMISOR DE LUZ DE MUESTRA CORRIENTE ARRIBA Y DETECTOR OPUESTO, UNA FUENTE COMUN DE LUZ DE MANERA QUE LOS RESPECTIVOS EMISORES EMITEN HACES DE LUZ DE LA MISMA INTENSIDAD, Y SISTEMA PARA DETERMINAR SIMULTANEAMENTE ANALOGOS DE LUZ RECIBIDA POR LOS DETECTORES, POR LO QUE PUEDE DETERMINARSE EL ESPESOR DE PELICULA PARA LA MUESTRA.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSICION DE MEDIDA PARA UNA MEDICION ON-LINE SIN QUE EXISTA CONTACTO.
(16/02/1996) CON UN RADIADOR 2 DE INFRARROJOS, CUYA TEMPERATURA SUPERFICIAL PERMANECE CONSTANTE DURANTE LA MEDICION, SE RADIA UN CAMPO DE MEDICION 4 SOBRE UNA SUPERFICIE DE MATERIAL BAJO UNA INCIDENCIA DE RADIACION INCLINADA. LA TEMPERATURA DE LA RADIACION REFLEJADA SE MIDE CON UN TERMOMETRO 3 DE INFRARROJOS, QUE SE ENCUENTRA DISPUESTO POR ENCIMA DEL CAMPO DE MEDIDA DE FORMA QUE LA RADIACION REFLEJADA INCIDE EN EL CAMPO DE MIRA DEL TERMOMETRO DE INFRARROJOS. LA TOTALIDAD DEL CAMPO DE MEDIDA DE LA SUPERFICIE DEL MATERIAL, QUE SE ENCUENTRA EN EL CAMPO DE MIRA DEL TERMOMETRO DE INFRARROJOS, DEBE SER RADIADA. SE ALMACENA EL CIRCUITO DE TEMPERATURA DE LA RADIACION REFLEJADA CON DEPENDENCIA DE EL ESTADO O CONDUCCION DE LA SUPERFICIE DEL MATERIAL EN UN EQUIPO DE COMPARACION 7. ESTE EQUIPO DE COMPARACION 7 DISPONE…
MONITOR DE CONTORNOS DE SUPERFICIES DE BANDAS.
(16/04/1994). Solicitante/s: ALLEGHENY LUDLUM CORPORATION. Inventor/es: BURK, DAVID LAWRENCE.
SE PROPORCIONA UN SISTEMA DE CREAR UNA IMAGEN DE LOS CONTORNOS DE LA SUPERFICIE DE UNA PIEZA METALICA DE TRABAJO , COMO UNA BANDA DE MOLDE CONTINUA, QUE INCLUYE UNA LAMINA DE LUZ PLANA DE FRECUENCIA UNICA DIRIGIDA PARA INCIDIR SOBRE UNA SUPERFICIE DE LA PIEZA DE TRABAJO , Y UNA VIDEOCAMARA SITUADA EN FORMA ADECUADA PARA OBSERVAR LA SUPERFICIE SOBRE LA QUE INCIDE LA LUZ, DE FORMA QUE, CUANDO LA SUPERFICIE DE LA PIEZA DE TRABJO ES PLANA, LA VIDEOCAMARA DETECTA UNA LINEA RECTA, CUANDO LA SUPERFICIE ES IRREGULAR, LA VIDEOCAMARA DETECTA UNA LINEA NO RECTA Y CREA UNA IMAGEN BIDIMENSIONAL DE LA LUZ DETECTADA, SUMINISTRANDO ESTA SEÑAL A UN PROCESADOR , EL CUAL A SU VEZ CREA UNA IMAGEN DE LA PIEZA DE TRABAJO QUE PUEDE VISUALIZARSE MEDIANTE UN MONITOR DE VIDEO Y/O UNA IMPRESORA . EL PROCESADOR EXTRAE UNA DIVERSIDAD DE VALORES PARAMETRICOS CUANTITATIVOS DE LAS IMAGENES.
CALIBRE DE ESPESOR DE REVESTIMIENTO.
(16/02/1994). Solicitante/s: HOOGOVENS GROEP B.V.. Inventor/es: DE JONGE, MARINUS WILLEM CORNELIS, IR., LEEK, TAMIS LAMBERTUS MARIA, IR.
CALIBRE DE ESPESOR DE REVESTIMIENTO QUE MIDE EL ESPESOR DE UN REVESTIMIENTO DE OXIDO DE CROMO EN UNA CAPA DE CROMO SOBRE UN SUSTRATO QUE TIENE UNA FUENTE DE ILUMINACION QUE GENERA LUZ POLARIZADA LINEALMENTE, UN DISPOSITIVO PARA DIVIDIR ELIPTICAMENTE LA LUZ POLARIZADA REFLEJADA POR EL REVESTIMIENTO DE OXIDO DE CROMO EN UN CIERTO NUMERO DE RAYOS , DETECTORES QUE MIDEN LA INTENSIDAD DE LOS RAYOS, Y DISPOSITIVOS QUE CALCULAN EL ESPESOR DEL REVESTIMIENTOS DE OXIDO DE CROMO A PARTIR DE LAS INTESIDADES DE LUZ MEDIDAS. PARA SIMPLIFICAR EL DISPOSITIVO Y EL CALCULO EL DISPOSITIVO DIVISOR ESTA DISPUESTO PARA DIVIDIR LA LUZ POLARIZADA REFLEJADA EN DOS RAYOS PARCIALES , POLARIZADOS A UN CIERTO ANGULO CONOCIDO ENTRE SI Y EL DISPOSITIVO DE CALCULO QUE CALCULA LA ELIPTICIDAD A PARTIR DE LA INTENSIDAD MEDIDA DE LOS DOS RAYOS PARCIALES, Y EL ESPESOR A PARTIR DE LA ELIPTICIDAD.
PROCESO Y DISPOSITIVO DE CONTROL DEL MONTAJE DE LOS SEMICONOS SOBRE LA COLA DE VALVULA.
(16/12/1993). Solicitante/s: RENAULT-AUTOMATION. Inventor/es: THURIER, YVAN.
PROCESO DE CONTROL DEL MONTAJE DE LOS SEMICONOS SOBRE LA COLA DE VALVULA CARACTERIZADO EN QUE SE EFECTUAN CUATRO MEDIDAS DE ALTURA DIFERENCIALES (A1, A2, A3, A4), , ENTRE TRES PUNTOS (A, B, C) SOBRE LOS SEMICONOS REPARTIDOS A 120 OR DE LA COLA DE VALVULA Y UN PUNTO (D) SOBRE LA FUERZA EXTREMA DE LA COLA DE VALVULA , PERMITIENDO CALCULAR LAS TRES DIFERENCIAS DE ALTURA (A1-A2), (A3-A2) Y (A4-A2), ASI COMO LOS VALORES ABSOLUTOS DE (A1-A3), (A3-A4) Y (A4-A1) QUE DEBAN SER INFERIORES A UN VALOR "T" QUE ES LA TOLERANCIA DE PERPENDICULARIDAD DEL PLANO FORMADO POR EL EXTREMO DE LOS DOS SEMICONOS EN RELACION AL EJE DE LA VALVULA Y DEDUCIR EL MONTAJE CORRECTO DE LOS SEMICONOS (3 Y 4).
PROCEDIMIENTO PARA OBSERVACION DE ESTRUCTURAS SUPERFICIALES.
(01/12/1993). Solicitante/s: BASF AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: KNOLL, WOLFGANG, HICKEL, WERNER, DR., ROTHENHAEUSLER, BENNO, DR.
EL INVENTO CONSISTE EN UN PROCEDIMIENTO PARA OBSERVACION DEL INDICE DE FRACTURA Y/O ELEVADA MODULACION DE LA SUPERFICIE DE DIFERENTES ESTRUCTURAS SUPERFICIALES, DONDE ESTAS ESTRUCTURAS SUPERFICIALES SE LLEVAN EN UN CAMPO DE PLASMONES SUPERFICIALES Y SE EXPLORAN MEDIANTE MICROCOPIO DE PLASMONES DE SUPERFICIE.
METODO PARA EL PLAQUEADO ELECTROLITICO CONTINUO DE UNA BANDA METALICA CON UNA CAPA DE PLAQUEADO METALICA.
(16/03/1993). Solicitante/s: HOOGOVENS GROEP B.V.. Inventor/es: SLUYTERS, JOHANNES HENDRICUS, PROF. DR.
PARA FORMAR UNA CAPA DE PLAQUEADO SOBRE UNA BANDA METALICA POR PLAQUEADO ELECTROLITICO CONTINUO, LA BANDA SE PASA EN CONTINUO, COMO CATODO, A TRAVES DE UNA CELULA ELECTROLITICA EN LA CUAL HAY, AL MENOS UN ANODO Y UN ELECTROLITO . PARA CONTROLAR LA CAPA DE PLAQUEDO DURANTE SU FORMACION SE DIRIGE UN RAYO DE RADIACION ELECTROMAGNETICA SOBRE LA BANDA CUANDO ESTA SE ENCUENTRA DENTRO DE LA CELULA Y LA INTENSIDAD DE LA REDIACION DISPERSADA DESDE LA SUPERFICIE DE LA BANDA SE MIDE CON UN ANGULO PREDETERMINADO. ESTO PROPORCIONA INFORMACION SOBRE LA FORMACION DE LA CAPA DE PLAQUEADO, POR EJEMPLO, FORMACION Y CRECIMIENTO DE LOS NUCLEOOS DE CRISTALIZACION, LO QUE PUEDE SER USADO PARA AJUSTAR EL PROCESO DE ELECTROLISIS.
(16/08/1991). Ver ilustración. Solicitante/s: IMPERIAL CHEMICAL INDUSTRIES PLC. Inventor/es: HATFIELD, JAMES, HENRY.
Aparato para verificar la diferencia de alcance óptico entre dos superficies re ectantes de un etalón , cuyo aparato comprende una fuente luminosa , un elemento trapezoidal de referencia óptica ; un sistema óptico para dirigir un haz de luz (B) procedente de la fuente luminosa sobre uno de dos elementos que constituyen el etalón y el elemento trapezoidal de referencia , situándose el otro de los dos elementos para recibir luz re ejada del primero de los elementos, y un detector dispuesto para recibir luz reflejada de dicho otro elemento, caracterizado porque el elemento trapezoidal de referencia es un elemento trapezoidal de referencia óptica lineal que está fijo con respecto al aparato de verificación; el detector es un conjunto lineal de fotodetectores y se emplean medios (v.g., 32) para desplazar el etalón.
UN APARATO PARA VIGILAR CARACTERISTICAS SELECCIONADAS DE UNA PELICULA SOBRE UN SUSTRATO.
(01/04/1989) UN APARATO PARA DETERMINAR Y PRESENTAR CARACTERISTICAS SELECCIONADAS DE UNA PELICULA FORMADA SOBRE LA SUPERFICIE DE UNA BANDA DE VIDRIO, INCLUYE UNA CABEZA DE EXPLORACION MONTADA EN UNA PISTA PARA MOVERSE POR ENCIMA DE LA SUPERFICIE DOTADA DE PELICULA DE LA BANDA DE VIDRIO. LA CABEZA DE EXPLORACION TIENE UNA FUENTE DE IMPULSOS LUMINOSOS GENERADOS A PARTIR DE UNA LAMPARA DE TUNGS-TENO Y UN INTERRUPTOR PULSATORIO, FILTRADA PARA SIMULAR LUZ DE DIA Y ENFOCADA SOBRE LA SUPERFICIE DOTADA DE PELICULA. TAMBIEN HAY UNA ESFERA INTEGRADORA MONTADA EN LA CABEZA DE EXPLORACION, CON UNA ABERTURA DE ENTRADA FORMADA EN SU PARED PARA…
PROCEDIMIENTO PARA LA FABRICACION DE UN DISPOSITIVO EN MICROMINIATURA.
(01/05/1984). Solicitante/s: WESTERN ELECTRIC COMPANY, INC..
PROCEDIMIENTO DE DETECCION DEL PUNTO FINAL DE UN PROCESO DE MORDENTADO EN FABRICACION POR TECNICAS FOTOLITOGRAFICAS DE DISPOSITIVOS ELECTRONICOS MICROMINIATURIZADOS.COMPREND E LAS SIGUIENTES ETAPAS: SEPARAR PROGRESIVAMENTE UNA PORCION DE PELICULA FINA DE UN PRIMER MATERIAL DISPUESTO SOBRE UN CUERPO SOPORTE; DETERMINAR LA SEPARACION DE DICHO MATERIAL DIRIGIENDO UN RAYO DE ENERGIA ONDULATORIA SOBRE EL MISMO; Y MEDIR UN CAMBIO EN EL RAYO REFLEJADO. EL RAYO CUBRE UN AREA SUFICIENTEMENTE GRANDE PARA INCIDIR SIMULTANEAMENTE SOBRE UNA PELICULA FINA DE UN SEGUNDO MATERIAL QUE NO ES SEPARADO, O QUE ESSEPARADO PROGRESIVAMENTE A UNA VELOCIDAD MUCHO MAS LENTA QUE LA VELOCIDAD DE SEPARACION DEL PRIMER MATERIAL.
DISPOSITIVO DE MEDICION DE ESPESORES.
(01/04/1982). Solicitante/s: S.A.ESPAÑOLA DE INGENIERIA Y COMERCIALIZAC.INDUSTR.
Dispositivo de medición de espesores, que destinándose a la medición de los espesores de hojas de vidrio instaladas en bastidores, tales como pueden ser los de ventanas, mamparas y similares; esencialmente se caracteriza porque consiste en una regleta, que por sus lados menores se prolonga es especie de pestañas de configuración triangular isoscélica; habiéndose previsto en uno de los márgenes de tal regleta la disposición alineada de una serie de círculos de distintos diámetros y en el margen opuesto de dicha regleta una línea quebrada y adyacente a ella una línea recta.
PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACION DEL ESPESOR Y DE LA VELOCIDAD DE DEPOSICION DE CAPAS EN PROCESO DE DEPOSICION SIN APLICACION DE CORRIENTE Y GALVANICOS.
(01/12/1976). Solicitante/s: KOLLMORGEN CORPORATION.
Resumen no disponible.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA EL CONTROL DE HOMOGENEIDAD DE LAS CAPAS METALICAS DEPOSITADAS SOBRE VIDRIO.
(16/04/1976). Solicitante/s: SAINT-GOBAIN INDUSTRIES.
Resumen no disponible.
APARATO DE MEDIDA DE SUPERFICIE DE ARTICULOS PLANOS.
(16/09/1975). Solicitante/s: BLUM,GERARD.
Resumen no disponible.
