CIP-2021 : G01N 21/57 : midiendo el brillo.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q).
G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad).
G01N 21/57 · · · midiendo el brillo.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Instrumento de medida y método para determinación de las propiedades de un artículo y su superficie.
(05/06/2019) Un dispositivo de medida para la determinación de una o más propiedades de un objeto medido por medio de una radiación óptica, en donde el dispositivo de medida comprende:
- al menos una fuente de radiación óptica para emitir radiación óptica hacia el objeto medido, y
- al menos un detector para recibir la radiación reflejada desde el objeto medido y para generar una señal eléctrica proporcional a su intensidad,
en donde, el dispositivo comprende, además
- una unidad (108a) de procesamiento de radiación óptica, la cual está ajustada para dividir la radiación óptica emitida por la fuente óptica en longitudes de onda (103, 104a, 104b, 104c) separadas y para dirigir…
Dispositivo y procedimiento de captación de imágenes para producir una imagen de señalizaciones viales.
(27/02/2019) Dispositivo de captación de imágenes para producir una imagen de señalizaciones viales (1, 3, CD) de una calzada a partir de una pluralidad de perfiles de luminosidad auto-reflejada correspondientes a unos emplazamientos de medida sucesivos, incluyendo el dispositivo un proyector de luz visible , adecuado para iluminar la calzada según una dirección de iluminación bajo un ángulo de incidencia próximo a 1,24°, para permitir la medición de la luminosidad de la calzada;
unos medios de medida de la iluminación así aplicada a la calzada por el proyector;
unos medios de adquisición de perfiles de luminosidad (P1 ... P20), adecuados para adquirir unos perfiles de luminosidad en unos emplazamientos de medida sucesivamente iluminados por el proyector, siendo adquiridos los perfiles de luminosidad a partir…
MÉTODO PARA OBTENER IMÁGENES MULTIESPECTRALES DE REFLECTANCIA ABSOLUTA.
(07/06/2013) Se describe un procedimiento para llevar a cabo medidas cuantitativas en diferentes bandas de interés mediante un microscopio óptico de reflexión (o de luz transmitida) modificado. Dichas medidas se realizan de forma automatizada gracias a la intervención de una unidad de control que se acopla con el microscopio modificado para asistir en la calibración del dispositivo. Adicionalmente, también lleva a cabo correcciones de las imágenes tomadas de acuerdo con la banda de interés para que cada nivel de gris se asocie con un nivel de reflectancia real de la muestra (o de transmitancia) para la que se ha tomado la imagen.
Dispositivo de medida para la determinación del tama;o, de la distribución de tama;os y de la cantidad de partículas en la gama nonoscópica.
(29/08/2012) Procedimiento para la determinación de la proporción de heparina en muestras de sangre o de suero sanguíneo,comprendiendo
a) la presentación de un dispositivo de medida comprendiendo un dispositivo de alojamiento para unamuestra para la medición que se trata de medir, un detector , comprendiendo por lo menos una entrada deldetector, una unidad de evaluación y por lo menos dos fuentes de radiación distanciadasrespectivamente entre sí y distanciadas de la muestra para la medición, que presentan un espectro de longitudesde onda múltiples o un espectro continuo y cuyas intensidades de radiación son ajustables y/o determinables,donde por medio de las fuentes de radiación se pueden emitir sendos haces de rayos , derayos esencialmente paralelos en dirección hacia una muestra para…
APARATO Y PROCEDIMIENTO PARA MEDIR CARACTERISTICAS OPTICAS DE UN OBJETO.
(05/03/2010) SE EXPONEN SISTEMAS Y PROCEDIMIENTOS PARA LA MEDICION DE LAS CARACTERISTICAS DE COLORES/OPTICAS. UNOS ELEMENTOS/OPTICOS DE FIBRA RECEPTORA PERIMETRALES SE ENCUENTRAN SEPARADOS DE UN ELEMENTO/OPTICA DE FIBRA CENTRAL DE FUENTE, Y VIENDOSE LA LUZ RECIBIDA, REFLEJADA DE LA SUPERFICIE DEL OBJETO . LA LUZ PROCEDENTE DE LA OPTICA DE FIBRA PERIMETRAL PASA A UNA VARIEDAD DE FILTROS. EL SISTEMA UTILIZA LA OPTICA DE FIBRA DEL RECEPTOR PERIMETRAL PARA DETERMINAR INFORMACION RESPECTO A LA ALTURA Y ANGULO DE LA SONDA CON RELACION AL OBJETO QUE SE MIDE. BAJO CONTROL DEL PROCESADOR , LA MEDICION DEL COLOR PUEDE HACERSE A UNA ALTURA Y ANGULO PREESTABLECIDOS. SE EXPONEN DIVERSAS DISPOSICIONES DE FOTOMETROS ESPECTRALES EN COLOR. SE PUEDEN…
PROCEDIMIENTO PARA DETERMINAR LAS PROPIEDADES DEPENDIENTES DE LA DIRECCION EN LACADOS.
(01/09/2006). Ver ilustración. Solicitante/s: BASF COATINGS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: DUSCHEK, WOLFGANG, BIALLAS, BERND.
Procedimiento para la determinación de propiedades dependientes de la dirección de lacados, en el que se registra la dependencia direccional de la magnitud que se desea medir del gradiente de espesor de capa realizando medidas de las propiedades de la laca con uno o varios aparatos de medición, en un lacado de prueba, a lo largo de una dirección de ensayo, donde (a) como mínimo se registra un valor de medida en relación con la dirección y (b) como mínimo existe un espesor de capa del lacado de prueba que aparece dos veces y con distintos gradientes de espesor de capa a lo largo del camino de ensayo.
UN SISTEMA AUTOMATIZADO Y UN PROCEDIMIENTO PARA EL ESTUDIO DE SUPERFICIES CON PROPIEDADES DEPENDIENTES DE LA IRRADIACION FOTONICA.
(01/03/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERDIDAD DE CADIZ. Inventor/es: MARTIN CALLEJA,JOAQUIN, FERNANDEZ LORENZO,CONCEPCION, ALCANTARA PUERTO,RODRIGO, POCE FATOU,JUAN ANTONIO.
Un sistema automatizado y un procedimiento para el estudio de superficies con propiedades dependientes de la irradiación fotónica. El sistema permite caracterizar la superficie de un material, mediante un equipamiento y un protocolo de uso que, en conjunto generan: la expansión del haz láser, la división del haz para extraer una porción que permita medir su estabilidad, la focalización exacta de un haz fotónico sobre la superficie estudiada, la medida del ángulo entre el haz iluminante y la normal al plano de la superficie estudiada, el barrido punto a punto del spot de irradiación sobre la superficie estudiada, la medida promediada de cada una de las señales generadas en la transformación sufrida por la superficie fotodependiente así como la radiación reflejada especularmente, y la obtención de un mapa de la variación espacial de las diversas propiedades con una resolución limitada por la difracción del haz fotónico en el foco.
DISPOSITIVO PARA MEDIR EL COLOR, EL BRILLO Y LA ONDULACION EN SUPERFICIES DE FORMA LIBRE PINTADAS.
(16/12/2004) Dispositivo para medir el color, el brillo y la ondulación en superficies de forma libre pintadas, en un punto de medición, a una distancia teórica que puede prefijarse y de manera simétrica a la normal en el punto de medición, caracterizado porque están previstos un cabezal de medición que puede moverse en tres dimensiones por medio de al menos un motor, con un eje (10a) del cabezal de medición y un emisor de luz, así como una videocámara , porque el emisor de luz está dotado con un patrón luminoso plano, preferiblemente un patrón de puntos de luz, que se va a emitir a lo largo de su eje (12a) de radiación, porque la videocámara presenta un eje…
METODO Y APARATO PARA LA INSPECCION AUTOMATICA DE SUPERFICIES EN MOVIMIENTO.
(16/02/2001). Ver ilustración. Solicitante/s: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. SPECTRA-PHYSICS VISIONTECH OY VTT ELECTRONICS. Inventor/es: PAUL, DETLEF, DR., HARKONEN, ARI, PIIRONEN, TIMO, KONTIO, PERTTI, KARPPINEN, MARTTI.
EN UN PROCEDIMIENTO Y UN APARATO PARA LA INSPECCION AUTOMATICA DE SUPERFICIES EN MOVIMIENTO, LA SUPERFICIE QUE DEBE INSPECCIONARSE (S) SE OBSERVA EN UNA PRIMERA CONDICION DE OBSERVACION, POR MEDIO DE UN PRIMER CANAL DE ILUMINACION/OBSERVACION , PARA OBTENER UNA PRIMERA SEÑAL (R), Y LA SUPERFICIE (S) SE OBSERVA EN UNA SEGUNDA CONDICION DE OBSERVACION, POR MEDIO DE UN SEGUNDO Y UN TERCER CANAL DE ILUMINACION/OBSERVACION , A FIN DE OBTENER UNA SEGUNDA (G) Y UNA TERCERA (B) SEÑAL Y, A PARTIR DE LAS SEÑALES PRIMERA, SEGUNDA Y TERCERA (R, G, B), SE OBTIENEN INFORMACIONES SOBRE LAS PROPIEDADES FISICAS DE LA SUPERFICIE (S).
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA CARACTERIZACION DE SUPERFICIES LACADAS.
(01/05/1999). Ver ilustración. Solicitante/s: HERBERTS GESELLSCHAFT MIT BESCHRANKTER HAFTUNG. Inventor/es: RUPIEPER,PAUL, BLUM, JOACHIM, HOFFER, MICHAEL, CRAMM, JOACHIM.
LA INVENCION TRATA DE UN PROCEDIMIENTO PARA DETERMINAR EL EFECTO VISUAL DE CIERTOS LACADOS, EN EL CUAL UNA, DOS, O VARIAS CAPAS DE LACADO SE APLICAN SOBRE LA SUPERFICIE DE UN SUBSTRATO PLANO Y SE DEJAN SECAR O ENDURECERSE. SE APLICAN UNA O DOS CAPAS DE LACADO CON UN ESPESOR DE CAPAS EN GRADIENTE, Y A CONTINUACION, EN LA SUPERFICIE LACADA DE ESTE MODO, EN LOS DIVERSOS PUNTOS DE MEDICION DISTRIBUIDOS SOBRE LA SUPERFICIE, SE MIDEN UNA O VARIAS PROPIEDADES DE LA SUPERFICIE QUE INFLUYEN EN LA IMPRESION VISUAL MEDIANTE UNO O VARIOS PROCEDIMIENTOS DE MEDICION OPTICOS, Y SE MIDE TAMBIEN EL CORRESPONDIENTE ESPESOR DE LAS CAPAS DE LACADO APLICADAS EN GRADIENTE. LA INVENCION TRATA ASIMISMO DEL DISPOSITIVO PARA LA REALIZACION DEL PROCEDIMIENTO.
PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE ESPECULARIDAD.
(16/02/1999). Ver ilustración. Solicitante/s: CENTRO DE INVESTIGACIONES ENERGETICAS, MEDIOAMBIENTALES Y TECNOLOGICAS (C.I.E.M.A.T). Inventor/es: SANCHEZ GONZALEZ, MARCELINO.
PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE ESPECULARIDAD. PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE ESPECULARIDAD, POR EL QUE UNA FUENTE DE LUZ MONOCROMATICA Y MUY ESTABLE TAL COMO UNA FUENTE TIPO LASER INCIDE DIRECTAMENTE SOBRE UN SISTEMA DETECTOR QUE PERMITE MEDIR Y CARACTERIZAR PERFECTAMENTE DICHA FUENTE, A CONTINUACION SE HACE INCIDIR LA MISMA SOBRE UN ESPEJO Y EL HAZ REFLEJADO INCIDE SOBRE DICHO SISTEMA DETECTOR QUE PERMITE ASI MEDIR Y CARACTERIZAR TAMBIEN DICHO HAZ REFLEJADO; A CONTINUACION SE RELACIONAN MEDIANTE PARAMETROS ESTADISTICOS LAS DOS MEDIDAS, OBTENIENDOSE ASI LA CARACTERIZACION DEL ESPEJO OBJETO DE MEDIDA. SE APLICA PARA EL ESTUDIO Y CARACTERIZACION OPTICA DE LOS MATERIALES REFLECTANTES QUE SE UTILIZAN PARA EL APROVECHAMIENTO DE LA ENERGIA SOLAR.
