Dispositivo de adquisición de imágenes de radiación.
Un dispositivo de adquisición de imágenes de radiación (1) que comprende:
una fuente de radiación (2) configurada para emitir radiación;
un miembro de conversión de longitud de onda (6) de una forma de placa plana configurada para generar luz de centelleo de acuerdo con la incidencia de la radiación emitida desde la fuente de radiación y transmitida por un objeto;
primeros medios de formación de imágenes (3) configurados para condensar e imaginar la luz de centelleo emitida desde una superficie de entrada para la radiación en el miembro de conversión de longitud de onda en una dirección de una normal a la superficie de entrada;
segundos medios de formación de imágenes (4) configurados para condensar e imaginar la luz de centelleo emitida desde una superficie opuesta a la superficie de entrada en el miembro de conversión de longitud de onda en una dirección de una normal a la superficie opuesta; y
un medio de procesamiento de imágenes configurado para ejecutar el procesamiento de imágenes basado en las señales de imagen emitidas desde los primeros medios de formación de imágenes y los segundos medios de formación de imágenes, en donde
cada uno de los primeros medios de formación de imágenes (3) y los segundos medios de formación de imágenes (4) tiene:
una unidad de lente de condensación para condensar la luz de centelleo emitida desde el miembro de conversión de longitud de onda; y
una unidad de formación de imágenes para la formación de imágenes de la luz de centelleo así condensada,
la unidad de lente de condensación de los primeros medios de formación de imágenes está configurada para enfocar en la superficie de entrada y la unidad de lente de condensación de los segundos medios de formación de imágenes está configurada para enfocar en la superficie posterior, y
el medio de procesamiento de imágenes está configurado para ejecutar una operación diferencial basada en cada una de las señales de imagen, como el procesamiento de la imagen.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2011/074327.
Solicitante: HAMAMATSU PHOTONICS K.K..
Inventor/es: SUYAMA TOSHIYASU, SUGIYAMA MOTOTSUGU.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › y formando imágenes del material.
- G01T1/20 G01 […] › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › con detectores de centelleo.
PDF original: ES-2787256_T3.pdf
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