Dispositivo de cálculo de patrón de modulación, dispositivo de control de luz, método de cálculo de patrón de modulación, programa de cálculo de patrón de modulación y medio de almacenamiento.
Un aparato de cálculo de patrón de modulación para calcular un patrón de modulación presentado en un modulador de luz espacial para modular un espectro de intensidad de luz de entrada para proporcionar una forma de onda de intensidad temporal de luz cercana a una forma de onda deseada,
comprendiendo el aparato:
una unidad de transformada de Fourier iterativa para realizar una transformada de Fourier en una función de forma de onda en un dominio de frecuencia que incluye una función de espectro de intensidad y una función de espectro de fase, realizar una sustitución de una función de forma de onda de intensidad temporal basándose en la forma de onda deseada en un dominio de tiempo después de la transformada de Fourier y a continuación realizar una transformada de Fourier inversa, y realizar una sustitución para restringir la función de espectro de fase en el dominio de la frecuencia después de la transformada de Fourier inversa;
una unidad de proceso de filtración para realizar un proceso de filtración de corte de una parte que supera una intensidad de corte para cada longitud de onda determinada basándose en el espectro de intensidad de la luz de entrada, en la función de espectro de intensidad en el dominio de la frecuencia después de la transformada de Fourier inversa o en una función de espectro de intensidad normalizada obtenida multiplicando la función de espectro de intensidad por un coeficiente de normalización; y
una unidad de cálculo de patrón de modulación para calcular el patrón de modulación basándose en la función de espectro de intensidad o la función de espectro de intensidad normalizada después del proceso de filtración.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2016/064031.
Solicitante: HAMAMATSU PHOTONICS K.K..
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku Hamamatsu-shi, Shizuoka 435-8558 JAPON.
Inventor/es: INOUE, TAKASHI, TAKAHASHI, KOJI, WATANABE,KOYO.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G02F1/01 FISICA. › G02 OPTICA. › G02F DISPOSITIVOS O SISTEMAS CUYO FUNCIONAMIENTO OPTICO SE MODIFICA POR EL CAMBIO DE LAS PROPIEDADES OPTICAS DEL MEDIO QUE CONSTITUYE A ESTOS DISPOSITIVOS O SISTEMAS Y DESTINADOS AL CONTROL DE LA INTENSIDAD, COLOR, FASE, POLARIZACION O DE LA DIRECCION DE LA LUZ, p. ej. CONMUTACION, APERTURA DE PUERTA, MODULACION O DEMODULACION; TECNICAS NECESARIAS PARA EL FUNCIONAMIENTO DE ESTOS DISPOSITIVOS O SISTEMAS; CAMBIO DE FRECUENCIA; OPTICA NO LINEAL; ELEMENTOS OPTICOS LOGICOS; CONVERTIDORES OPTICOS ANALOGICO/DIGITALES. › G02F 1/00 Dispositivos o sistemas para el control de la intensidad, color, fase, polarización o de la dirección de la luz que llega de una fuente de luz independiente, p. ej. conmutación, apertura de puerta o modulación; Optica no lineal. › para el control de la intensidad, de la fase, de la polarización o del color (G02F 1/29, G02F 1/35 tienen prioridad).
- G02F1/13 G02F 1/00 […] › basados en cristales líquidos, p. ej. celdas de presentación individuales de cristales líquidos.
- G02F1/133 G02F 1/00 […] › Disposiciones relativas a la estructura; Excitación de celdas de cristales líquidos; Disposiciones relativas a los circuitos (disposiciones o circuitos para el control de elementos de cristal líquido en una matriz, no estructuralmente asociados a los elementos G09G 3/36).
PDF original: ES-2750179_T3.pdf
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