Sistema de procesamiento de imágenes y método de procesamiento de imágenes.

Un sistema de procesamiento de imágenes que tiene un dispositivo de proyección (102;

1103; 2201-2206), un dispositivo de formación de imágenes (101; 1101, 1102; 2101-2106) y un aparato de procesamiento de imágenes (104; 1105; 2401) conectado al dispositivo de proyección y al dispositivo de formación de imágenes, en donde el dispositivo de proyección proyecta un patrón proyectado a un objetivo de observación (103; 1104; 2301), el dispositivo de formación de imágenes captura el patrón proyectado y el aparato de procesamiento de imágenes realiza reconstrucción de forma basándose en una imagen de entrada que incluye el patrón proyectado, comprendiendo el aparato de procesamiento de imágenes (104; 1105; 2401):

una unidad para extraer la imagen de entrada capturada por el dispositivo de formación de imágenes (101; 1101, 1102; 2101-2106) y realizar detección de línea para el patrón proyectado, proyectado por el dispositivo de proyección (102; 1103; 2201-2206), en donde

el patrón proyectado es un patrón de cuadrícula formado por líneas onduladas,

las líneas onduladas son curvas onduladas que tienen periodicidad predeterminada,

un patrón de cuadrícula formado por las líneas onduladas está formado por una pluralidad de líneas onduladas que están dispuestas a intervalos predeterminados,

el patrón de cuadrícula es un conjunto de líneas onduladas que intersectan entre sí en dos direcciones, y

el intervalo de las líneas onduladas en una de las direcciones no es igual a un múltiplo integral de una longitud de onda para la línea ondulada en la otra dirección; y

una unidad para realizar reconstrucción de forma asociando puntos de intersección de líneas verticales y horizontales extraídas por la detección de línea al patrón proyectado.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2013/004059.

Solicitante: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY.

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 3-1 Kasumigaseki 1-chome Chiyoda-ku Tokyo 100-8921 JAPON.

Inventor/es: KAWASAKI,HIROSHI, SAGAWA,RYUSUKE, FURUKAWA,RYO.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/25 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › mediante la proyección de un patrón, p. ej.franjas de Moiré, sobre el objeto (G01B 11/255 tiene prioridad).
  • G06T1/00 G […] › G06 COMPUTO; CALCULO; CONTEO.G06T TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL (especialmente adoptados para aplicaciones particulares, ver las subclases apropiadas, p. ej. G01C, G06K, G09G, H04N). › Tratamiento de datos de imagen, de aplicación general.
  • G06T7/521
  • G06T7/73

PDF original: ES-2696198_T3.pdf

 

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