Malla adaptativa de resolución para realizar metrología en 3-d de un objeto.

Un metodo (200, 200') para generar una malla adaptativa de resolucion (102) para la metrologia 3-D de un objeto (104),

que comprende:

recibir (202) datos de nubes de puntos (110) de una pluralidad de sensores (106a -106n), los datos de nube de puntos desde cada sensor definen una nube de puntos (112) que representa el objeto (104), en donde cada nube de puntos comprende una multiplicidad de puntos (114) y cada punto comprende al menos informacion de ubicacion para el punto (115) en el objeto; determinar (202) una resolucion de cada sensor en cada una de las tres dimensiones ortogonales en funcion de la posicion de cada sensor en relacion con el objeto y las propiedades fisicas de cada sensor,

en donde recibir los datos de nube de puntos comprende recibir la nube de puntos (402) de cada sensor y un elipsoide de incertidumbre (404a-404c) para cada punto, en donde los elipsoides de incertidumbre se usan para determinar las resoluciones de cada sensor en funcion de la posicion del sensor con respecto al objeto (104); asignar (208) cada punto a un triangulo de malla mas cercano (602a) de una malla triangular (600), comprendiendo la malla triangular una multiplicidad de triangulos de malla (602a-602n) que representan colectivamente una superficie (604) del objeto (104);

ajustando la malla triangular (600) a la nube de puntos (402) ajustando los vertices de malla (606a - 606c) de cada triangulo de malla asignado (602a - 602n) para minimizar la distancia media (di) de puntos (400a) en la nube de puntos (402) de sus triangulos de malla mas cercanos (602a - 602n), ponderado por el cuadrado inverso de la resolucion del sensor dependiente de la posicion en la direccion (610) hacia el punto mas cercano (608) en el triangulo de malla asignado (602a - 602n).

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E18174588.

Solicitante: THE BOEING COMPANY.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 100 NORTH RIVERSIDE PLAZA CHICAGO, IL 60606-2016 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: OWECHKO, YURI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/24 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
  • G01B21/04 G01B […] › G01B 21/00 Disposiciones de medida o sus detalles en caso de no adaptarse a los tipos particulares de medios de medida de los otros grupos de esta subclase. › mediante la medida de coordenadas de puntos.
  • G06T15/08 G […] › G06 COMPUTO; CALCULO; CONTEO.G06T TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL (especialmente adoptados para aplicaciones particulares, ver las subclases apropiadas, p. ej. G01C, G06K, G09G, H04N). › G06T 15/00 Interpretación de imagines 3D [Tridimensionales]. › Interpretación de volumen.
  • G06T17/00 G06T […] › modelado 3D mediante gráficos de computdor.
  • G06T17/20 G06T […] › G06T 17/00 modelado 3D mediante gráficos de computdor. › Descripción marco de alambre, p. ej. formando polígonos o teselas.
  • G06T19/20 G06T […] › G06T 19/00 Manipulación de modelos 3D modelos o imágenes para gráficos de computador. › Edición de imágenes 3D, p. ej. cambio de formas o de colores, alineación de objetos o posicionado de partes.
  • G06T7/00 G06T […] › Análisis de imagen, p. ej. desde un mapeado binario para obtener un mapeado no binario.
  • G06T7/55

PDF original: ES-2766948_T3.pdf

 

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