Dispositivo y procedimiento para la determinación de por lo menos una magnitud asociada a la radiación electromagnética de un objeto bajo prueba.
Dispositivo (10) para la determinación de por lo menos una característica de radiación electromagnética de un objeto bajo prueba (400),
comprendiendo el dispositivo una red de antenas (100) de medición de radiación distribuidas según un paso angular dado entre las antenas,
caracterizado por que las antenas (100) de medición de radiación están distribuidas sobre un arco (110) en forma de arco de círculo montado sobre un brazo (210) en forma de arco de círculo colocado en un plano de la red, comprendiendo el dispositivo unos medios que permiten el deslizamiento (200) del arco (110) sobre el brazo (210) para efectuar registros de puntos de medición de radiación sobre una primera distancia angular superior a una segunda distancia angular sobre la cual se extiende la red de antenas (100), con un desplazamiento relativo de la red de antenas (100) y del objeto bajo prueba (400) superior al paso de la red de antenas (100) para efectuar mediciones según diversas posiciones relativas de la red de antenas (100) y del objeto bajo prueba (400).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2009/051861.
Solicitante: Microwave Vision.
Inventor/es: DUCHESNE,LUC, GARREAU,PHILIPPE, GANDOIS,ARNAUD, IVERSEN,PER.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R29/08 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 29/00 Dispositivos para realizar medidas o indicaciones de valores eléctricos no comprendidos en los grupos G01R 19/00 - G01R 27/00. › Medida de las características del campo electromagnético.
- G01R31/00 G01R […] › Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
PDF original: ES-2705673_T3.pdf
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