SISTEMA DE TESTEO EN RANGO DE MÚLTIPLE BANDA COMPACTO, DE CAMPO CERCANO A CAMPO LEJANO Y DE CAMPO LEJANO DIRECTO.
Sistema de testeo en rango de múltiple banda compacto, de campo cercano a campo lejano y directo a campo lejano en cámara anecoica.
El sistema incluye un reflector curvo con su sistema multibanda de alimentación primario de antenas fuente situado enfrente del reflector, en un lateral y apuntando hacia él, un sistema multibanda de alimentación secundario de antenas fuente en campo cercano o lejano, que emplea antenas tipo bocinas de guía de onda circular o tipo agrupaciones de elementos impresos, con sus aperturas perforadas en el centro del reflector o delante de éste, y un conjunto de antenas bajo prueba (ABP) o conjunto de dispositivos bajo prueba (DBP) y su torre, posicionado en un sistema 3D de mesa giratoria y colocada en una zona tranquila de prueba (QZ), para el que se puede variar el acimut, cabeceo y elevación. En un procedimiento de medida en recepción el sistema de alimentación primario de antenas fuente transmite varias señales variantes en frecuencia, o bien mediante diversidad de polarización o mediante diversidad espacial, hacia el reflector, que refleja dichas señales hacia la zona tranquila de prueba en forma de frentes de ondas planos en su apertura. El sistema de alimentación secundario de antenas fuente también transmite varias señales variantes en frecuencia, pero dirige éstas directamente hacia la zona tranquila de prueba en forma de frentes de onda esféricos, y el ABP o DBP recibe todas estas señales provenientes de los sistemas de alimentación primario y secundario de forma simultánea, lo que permite la agregación de diferentes señales o portadoras de sistemas de comunicaciones inalámbricas en el ABP o DBP. Mediante la reciprocidad se puede realizar un proceso similar para medidas en transmisión.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2018/070655.
Solicitante: EMITE Ingeniería S.L.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: ALICANTE.
Inventor/es: SANCHEZ HERNANDEZ,DAVID AGAPITO.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R29/08 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 29/00 Dispositivos para realizar medidas o indicaciones de valores eléctricos no comprendidos en los grupos G01R 19/00 - G01R 27/00. › Medida de las características del campo electromagnético.
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