Trampa de iones multipolar para espectrometría de masas.
Un dispositivo de trampa de iones, que comprende una zona de contención poliédrica vacía (54,
60, 68) para contener iones; y
una estructura poliédrica (50, 66) que cuenta con una pluralidad de superficies poligonales (70) que circundan la zona de contención (54, 60, 68), estando definida cada una de las superficies (70) de la estructura poliédrica (50, 66) por una pluralidad de vértices (55) y bordes;
en el que la estructura poliédrica (50, 66) comprende una pluralidad de electrodos (52) confinados en el área superficial de la estructura poliédrica (50, 66) con los electrodos situados en cada vértice de la pluralidad de vértices (55) de las superficies (70) y electrodos adicionales dispuestos a lo largo de los bordes y entre los bordes en un patrón regular en las superficies (70) de la estructura poliédrica (50, 66) que circunda la zona de contención (54, 60, 68) y
en el que los electrodos alternos de la pluralidad de electrodos (52) están configurados para la aplicación de una primera tensión de RF, y los electrodos intercalados entre los electrodos alternos están configurados para la aplicación de una segunda tensión de RF, de manera que la pluralidad de electrodos (52) forma una pluralidad de cuadrupolos (65) en cada superficie de la estructura poliédrica (50, 66), siendo la primera y la segunda tensión de RF de igual amplitud y polaridad opuesta en un momento determinado, manteniéndose en fases opuestas los electrodos contiguos de la pluralidad de electrodos (52), y estando la pluralidad de electrodos (52) configurada para formar una barrera de potencial para repeler los iones desde cada una de las superficies poligonales (70) que forman la estructura poliédrica (50, 66).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2014/018330.
Solicitante: THE ROCKEFELLER UNIVERSITY.
Inventor/es: KRUTCHINSKY,ANDREW N, SHERMAN,VADIM, COHEN,HERBERT, CHAIT,BRIAN T.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N27/62 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 27/00 Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos (G01N 3/00 - G01N 25/00 tienen prioridad; medida o ensayo de variables eléctricas o magnéticas o de las propiedades eléctricas o magnéticas de los materiales G01R). › investigando la ionización del gas, p. ej. aerosoles; investigando la descarga eléctrica, p. ej. la emisión catódica.
- G01N27/70 G01N 27/00 […] › y medida de la intensidad o de la tensión eléctrica.
- G01T1/185 G01 […] › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › con instalación de cámara de ionización.
- H01J49/02 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 49/00 Espectrómetros de partículas o tubos separadores de partículas. › Detalles.
- H01J49/06 H01J 49/00 […] › Dispositivos electronópticos o ionópticos (H01J 49/04 tiene prioridad).
- H01J49/36 H01J 49/00 […] › Espectrómetros de radio-frecuencia, p. ej. espectrómetros del tipo Bennett; Espectrómetros tipo Redhead.
- H01J49/42 H01J 49/00 […] › Espectrómetros de estabilidad de trayectoria, p. ej. monopolos, cuadripolos, multipolos, farvitrones.
PDF original: ES-2690044_T3.pdf
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