Soporte de cuchilla para micrótomo.

Soporte de cuchilla (1) para un micrótomo con una protección de la hoja (2) realizada como un estribo pivotante,

donde la protección de la hoja (2) está dispuesta distanciada del borde de corte (3a) de la cuchilla (3) en una posición de protección (S), sobre el lado (4) de la cuchilla (3), apartado de la muestra, de modo que no es posible un acceso al borde de corte (3a), y donde el soporte de cuchilla (1) está montado de modo que puede desplazarse lateralmente en una guía (6) sobre un elemento soporte (5) y de modo que puede fijarse, para utilizar diferentes áreas del borde de corte (3a) durante el proceso de corte, caracterizado porque la protección de la hoja (2) está diseñada de modo que puede posicionarse en tres posiciones definidas diferentes (S, V, W) y se proporcionan medios (5, 7, 8, 8b, 13, 14, 17, 18) que según la posición (S, V, W) provocan:

a) en la posición de protección superior (S), una fijación simultánea de la posición del soporte de cuchilla (1) en la guía (6),

b) en la posición media de desplazamiento del soporte de cuchilla (V), una posibilidad de acceso al soporte de cuchilla (1), con una supresión simultánea de la fijación de posición del soporte de cuchilla (1) en la guía (6),

c) en la posición inferior de cambio de cuchilla (W), una posibilidad de acceso libre al soporte de cuchilla (1), con fijación simultánea de la posición del soporte de cuchilla (1) en la guía (6), y porque la protección de la hoja (2) y los medios están diseñados de modo que es posible una extracción de secciones ergonómica sólo en la posición de protección (S) y porque en la posición de cambio de la cuchilla, a través de la posición de estribo previamente rotada de la protección de la hoja, se dificulta el acceso con la mano durante la extracción de secciones.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E10006964.

Solicitante: Microm International GmbH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Im Steingrund 4-6 63303 Dreieich ALEMANIA.

Inventor/es: FANK,REINER.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N1/06 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › que proporcionan una fina rodaja, p. ej. microtomo.

PDF original: ES-2670796_T3.pdf

 

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