Sensor de orientación de superficie para detectar la orientación de una superficie de una muestra.
Un sensor de orientación de superficie (114) para un dispositivo de seccionamiento de muestras,
pudiéndose accionar el sensor de orientación de superficie (114) para detectar una orientación angular de una superficie de una muestra (108) contenida por un dispositivo de seccionamiento de muestras basándose en un grado de rotación de una superficie del sensor de orientación de superficie (114) en torno a un primer eje (232) y un segundo eje (233) perpendicular al primer eje (232), siendo el primer eje (232) y el segundo eje (233) sustancialmente paralelos a un plano de corte (124) del dispositivo de seccionamiento de muestras, caracterizado por que
la rotación de la superficie del sensor de orientación de superficie se causa por la superficie de la muestra que está en contacto con la superficie del sensor de orientación de superficie.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E17173912.
Solicitante: SAKURA FINETEK U.S.A., INC..
Inventor/es: BUI,XUAN S, YANG,HWAI-JYH MICHAEL.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N1/06 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › que proporcionan una fina rodaja, p. ej. microtomo.
PDF original: ES-2802542_T3.pdf
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