Sistema de accionamiento de microtomo de oscilación.

Un dispositivo de seccionamiento de muestras (100; 200) que comprende:



un mecanismo de corte (112; 212) que se puede utilizar para cortar secciones de una muestra (108);

un portamuestras (107; 207) que se puede utilizar para contener la muestra (108);

un sistema de accionamiento (102; 202) acoplado con el portamuestras (107; 207) para accionar el movimiento del portamuestras (107; 207); y

un miembro rotatorio (224, 228) acoplado al sistema de accionamiento (102; 202) para accionar el movimiento vertical del sistema de accionamiento (102; 202), en el que el miembro rotatorio (224, 228) comprende un brazo rotatorio (224) unido de forma fija en un primer extremo al sistema de accionamiento (102; 202) y unido de forma fija en un segundo extremo a un miembro de disco rotatorio (228) orientado verticalmente, y en el que el brazo rotatorio (224) está orientado sustancialmente paralelo al miembro de disco rotatorio (228), estando caracterizado el dispositivo de seccionamiento de muestras por que comprende un sensor de orientación de la superficie (114; 214), y por que

cuando el brazo rotatorio (224) está en una posición sustancialmente vertical, que corresponde a un ángulo de rotación de 0 grados, el portamuestras (107; 207) se alinea con el mecanismo de corte (112; 212),

y por que cuando el brazo rotatorio (224) está en una segunda posición sustancialmente vertical, que corresponde a un ángulo de rotación de 180 grados, el portamuestras se alinea con el sensor de orientación de la superficie (114; 214), y

en el que durante la operación, se provoca un movimiento de rebanado del portamuestras (107; 207) mediante la rotación del miembro de disco rotatorio (228) y el brazo rotatorio (224) alternativamente hacia adelante y hacia atrás dentro de un ángulo de rotación limitado entre 0 grados y 90 grados.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2012/068747.

Solicitante: SAKURA FINETEK U.S.A., INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 1750 WEST 214TH STREET TORRANCE, CA 90501 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: BUI,XUAN S, YANG,HWAI-JYH MICHAEL.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N1/06 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › que proporcionan una fina rodaja, p. ej. microtomo.

PDF original: ES-2681747_T3.pdf

 

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